本专题涉及硅 接触的标准有11条。
国际标准分类中，硅 接触涉及到太阳能工程、集成电路、微电子学、与食品接触的物品与材料、电子元器件综合。
在中国标准分类中，硅 接触涉及到、半导体集成电路、标志、包装、运输、贮存、基础标准与通用方法、电子元件综合。
中国团体标准，关于硅 接触的标准
T/CEC 287-2019 背接触晶体硅光伏电池技术要求
T/CEC 288-2019 背接触晶体硅光伏组件技术要求
，关于硅 接触的标准
TCVN 5509-2009 工作场所的空气.呼吸性粉尘中的硅.最大接触限值(MEL)
美国国防后勤局，关于硅 接触的标准
DLA SMD-5962-87646 REV B-2006 硅单块 六进制接触回弹消除器,互补金属氧化物半导体,数字微型电路
英国标准学会，关于硅 接触的标准
BS EN 1388-2-1996 与食品接触的材料和物品.硅化表面.第2部分:陶瓷品除外的测定从硅化表面释放的铅和镉
BS EN 1388-1-1996 与食品接触的材料和物品.硅化表面.第1部分:测定从陶瓷品中释放的铅和镉
法国标准化协会，关于硅 接触的标准
NF D25-501-1-1996 与食品接触的材料和器具.硅酸酯表面.第1部分:从陶瓷器具中释放的铅和镉的测定
NF D25-501-2-1996 接触食品的材料和物品.硅化表面.第2部分:除陶瓷品外测定从硅化表面释放的铅和镉
德国标准化学会，关于硅 接触的标准
DIN EN 1388-2-1995 与食品接触的材料和物品.硅化表面.第2部分:除陶瓷制品外测定从硅化表面释放的铅和镉; 德文版本 EN 1388-2:1995
DIN EN 1388-1-1995 与食品接触的材料和物品.硅化表面.第1部分:测定从陶瓷制品中释放的铅和镉; 德文版本 EN 1388-1:1995
行业标准-电子，关于硅 接触的标准
SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针.测试方法
