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本专题涉及,十进位粒级的标准有87条。
国际标准分类中，,十进位粒级涉及到量和单位、茶、咖啡、可可、粒度分析、筛分、技术制图、无屑加工设备、电学、磁学、电和磁的测量、空气质量、信息学、出版、集成电路、微电子学、陶瓷、道路工程、字符集和信息编码、燃料、分析化学、道路车辆内燃机、建筑物中的设施。
在中国标准分类中，,十进位粒级涉及到量和单位、物理学与力学、茶叶制品、纸、文具、绘图仪器、簿册、卡片、技术管理、模具、图书馆、档案、文献与情报工作、电工合金零件、半导体集成电路、特种陶瓷、导航通讯系统与设备、编码、字符集、字符识别、计算机应用、基础标准与通用方法、、核材料、核燃料及其分析试验方法。
德国标准化学会，关于,十进位粒级的标准
DIN 66120:2016-10 粒度分析 通过离心逆流分级机进行空气分级进行粒度分析
DIN 66118:1984 粒度分析.用空气分级法进行粒度分析.原理
DIN 66120:1983 粒度分析.用离心逆流分粒器风力分级法进行粒度分析
DIN 66120:2016 粒度分析.用离心逆流分粒器风力分级法进行粒度分析
DIN 66119:2016 粒度分析.用重力逆流筛分机的风力分级法进行粒度分析
DIN 66119:1983 粒度分析.用重力逆流筛分机的风力分级法进行粒度分析
DIN 66119:2016-10 粒度分析 使用重力逆流淘析器通过空气分级进行粒度分析
DIN EN ISO 29462:2020-04 通过颗粒尺寸和气流阻力对一般通风过滤装置和系统进行原位去除效率的现场测试
DIN EN ISO 29462:2013-11 通过颗粒尺寸和气流阻力对一般通风过滤装置和系统进行原位去除效率的现场测试
DIN EN ISO 29462:2020 通过颗粒大小和气流阻力对一般通风过滤装置和系统进行原位去除效率的现场测试（ISO/DIS 29462:2020）
法国标准化协会，关于,十进位粒级的标准
NF X02-010:1963 度数的十进因数(角度单位)
美国国防后勤局，关于,十进位粒级的标准
DLA SMD-5962-87626 REV C-2012 微电路，数字，高级 CMOS，带主复位的十六进制 D 触发器，单片硅
DLA SMD-5962-87757 REV C-2011 微电路、数字、高级 CMOS、带主复位的十六进制 D 型触发器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-96584 REV B-2010 微电路、数字、抗辐射、高级 CMOS、具有快速进位的 4 位二进制全加器、单片硅
DLA SMD-5962-96584 REV C-2012 微电路、数字、抗辐射、高级 CMOS、具有快速进位的 4 位二进制全加器、单片硅
DLA MIL-M-38510/342 A VALID NOTICE 1-2009 微电路、数字、双极、高级肖特基 TTL、具有快速进位的 4 位二进制全加器、单片硅
DLA MIL-M-38510/342 A VALID NOTICE 2-2013 微电路、数字、双极、高级肖特基 TTL、具有快速进位的 4 位二进制全加器、单片硅
DLA SMD-5962-96563 REV B-2009 微电路、数字、抗辐射、高级 CMOS、同步 4 位向上/向下 BCD 十进制计数器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-86824 REV B-2012 微电路，数字，高速 CMOS，4 位同步十进制计数器，单片硅
DLA SMD-5962-96585 REV B-2012 微电路、数字、抗辐射、高级 CMOS、具有快速进位的 4 位二进制全加器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA MIL-M-38510/344 A VALID NOTICE 1-2009 微电路、数字、双极、高级肖特基 TTL、十进制计数器、单片硅
DLA MIL-M-38510/344 A VALID NOTICE 2-2013 微电路、数字、双极、高级肖特基 TTL、十进制计数器、单片硅
DLA SMD-5962-89947 REV B-2011 微电路、数字、高速 CMOS、12 级纹波进位二进制计数器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-84079 REV F-2005 硅单片十进计数器,TTL肖脱基高级小功率数字微型电路
DLA SMD-5962-89946 REV B-2012 微电路，数字，高速 CMOS，4 位同步十进制递增/递减计数器，单片硅
DLA SMD-5962-87808 REV B-2011 微电路、数字、高速 CMOS、具有异步复位功能的 4 位同步向上/向下十进制计数器、单片硅
DLA SMD-5962-91722 REV E-2011 微电路、数字、高级 CMOS、4 位可预设二进制计数器、异步复位、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-89707-1989 硅单片,同步复位二-十进计数器,高速氧化物半导体数字微型电路
DLA DSCC-VID-V62/03605 REV A-2009 微电路、数字、高级高速 CMOS、十六进制施密特触发器反相器、单片硅
DLA SMD-5962-87756 REV E-2010 微电路、数字、高级 CMOS、带主复位的八进制 D 型触发器、单片硅
DLA SMD-5962-88627 REV C-2009 微电路，数字，双极，高级肖特基 TTL，8 位二进制计数器，单片硅
DLA SMD-5962-89545 REV B-2008 微电路，数字，双极，高级肖特基，8 位双向二进制计数器，单片硅
DLA SMD-5962-89947 REV A-2005 硅单片,TTL可兼容输入,12级行波进位二进计数器,高速氧化物半导体,数字微型电路
DLA SMD-5962-87757 REV B-2005 硅单片TTL输入兼容十六进制D型触发器与主复位互补型金属氧化物半导体促进数字微电路
DLA SMD-5962-89946 REV A-2006 硅单片,4位同步十进升值/降值计数器,高速氧化物半导体,数字微型电路
DLA SMD-5962-96564 REV C-2009 微电路、数字、抗辐射、高级 CMOS、同步 4 位加/减二进制计数器、单片硅
DLA SMD-5962-89743 REV B-2012 微电路、数字、高速 CMOS、带复位功能的十六进制 D 型触发器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-89953 REV A-2006 硅单片,双重4级移位寄存器,改进型高速氧化物半导体数字微型电路
DLA SMD-5962-90705-1991 硅单块 异步复位二-十进制译码计数器,高速互补金属氧化物半导体数字微型电路
DLA SMD-5962-89735 REV F-2013 微电路、数字、高级 CMOS、带复位功能的八进制 D 型触发器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-90574-1990 硅单片,TTL可兼容输入,8位同步二-十进降值计数器,高速氧化物半导体,数字微型电路
DLA SMD-5962-96561 REV C-2010 微电路、数字、高级 CMOS、抗辐射、4 位上/下二进制同步计数器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-96561 REV D-2013 微电路、数字、高级 CMOS、抗辐射、4 位上/下二进制同步计数器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-96565 REV B-2010 微电路、数字、抗辐射、高级 CMOS、同步 4 位加/减二进制计数器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-96565 REV C-2011 微电路、数字、抗辐射、高级 CMOS、同步 4 位加/减二进制计数器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-96555 REV C-2009 微电路、数字、高级 CMOS 抗辐射、同步可预置 4 位二进制计数器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-96577 REV B-2012 微电路、数字、高级 CMOS、抗辐射、用于计数器的前瞻进位发生器、TTL 兼容输入、单片硅
DLA MIL-DTL-55302/191 C-2011 连接器、印刷电路组件和附件：插头、针式触点、十进制增量 10 到 100 个位置、印刷线路板（0.075 间距）
DLA MIL-DTL-55302/58 J (1)-2011 连接器、印刷电路组件和附件：插座、插座触点、10 到 70 触点位置的十进位增量以及 14、24、44、54 和 26、36、56、66 的中间位置，用于印刷线路板（.100 SPAC）荷兰国际集团）
DLA MIL-DTL-55302/62 H (1)-2011 连接器、印刷电路组件和附件：插座、插座触点、10 到 70 触点位置的十进位增量以及 14、24、44、54 和 26、36、56、66 的中间位置，用于印刷线路板（.100 SPAC）荷兰国际集团）
DLA MIL-DTL-55302/64 H (1)-2011 连接器、印刷电路组件和附件：插座、插座触点、10 到 70 触点位置的十进位增量以及 14、24、44、54 和 26、36、56、66 的中间位置，用于印刷线路板（.100 SPAC）荷兰国际集团）
DLA MIL-DTL-55302/66 G (1)-2011 连接器、印刷电路组件和附件：插座、插座触点、10 到 70 触点位置的十进位增量以及 14、24、44、54 和 26、36、56、66 的中间位置，用于印刷线路板（.100 SPAC）荷兰国际集团）
DLA MIL-DTL-55302/59 H (1)-2011 连接器、印刷电路组件和附件：插头、针式触点、十进制增量 90、100 和 120 触点位置用于印刷线路板（0.100 间距）
英国标准学会，关于,十进位粒级的标准
BS ISO 11286:2004 茶.用粒度分析法进行等级分类
13/30261893 DC BS EN ISO 14644-12 洁净室和相关的受控环境 第十二部分 按纳米级颗粒浓度对空气洁净度进行分类
BS 1000[621.4]:1976 国际十进位分类法.英文版.热力发动机(蒸气发动机除外)
BS 1000 Auxiliaries 1e [41/435]:1999 国际十进分类法.英语全版本.国际十进分类法.英国和德国用辅助表格Ie(41/435)和普通数位辅助件.扩展版本
16/30348371 DC BS ISO 14644-12 洁净室和相关的受控环境 第十二部分 纳米级颗粒浓度监测空气洁净度规范
BS EN ISO 29462:2022 通过颗粒尺寸和气流阻力对一般通风过滤装置和系统进行原位去除效率的现场测试
20/30404139 DC BS EN ISO 29462 通过颗粒尺寸和气流阻力对一般通风过滤装置和系统进行原位去除效率的现场测试
美国机械工程师协会，关于,十进位粒级的标准
ASME Y14.1-2012 十进位法英制绘图纸规格和格式
ASME Y14.1-2005 十进位法英寸绘图纸尺寸和规格
RO-ASRO，关于,十进位粒级的标准
STAS 737/5-1984 国际单位系统 （SI）首选SI单位的十进位倍数和倍数因数
国际标准化组织，关于,十进位粒级的标准
ISO 11286:2004 茶叶.用粒度分析法进行等级分类
韩国科技标准局，关于,十进位粒级的标准
KS H ISO 11286:2007 茶叶.用粒度分析法进行等级分类
KS H ISO 11286-2007(2021) 茶叶——通过粒度分析进行等级分类
KS L 1618-1-2008 精细陶瓷(高级陶瓷、先进技术陶瓷).陶器颗粒特性测定方法.第1部分:颗粒尺寸分配
KS L 1618-4-2008 精细陶瓷(高级陶瓷、先进技术陶瓷).陶器颗粒特性测定方法.第4部分:流动性
KS L 1618-2-2008 精细陶瓷(高级陶瓷、先进技术陶瓷).陶器颗粒特性测定方法.第2部分:体积密度
KS L 1618-3-2008 精细陶瓷(高级陶瓷、先进技术陶瓷).陶器颗粒特性测定方法.第3部分:干燥矢重
行业标准-电子，关于,十进位粒级的标准
SJ 20239-1993 CO—14型精密十进位电容箱检定规程
美国国家标准学会，关于,十进位粒级的标准
ANSI/ASME Y14.1-2012 十进位法英寸制绘图纸规格和格式
AT-ON，关于,十进位粒级的标准
ONORM A 6432-1986 国际单位制（SI）SI单位，SI单位的十进倍数和分数单位，可与国际单位制单位并用的其他单位
美国环境科学与技术学会，关于,十进位粒级的标准
IEST RP-CC042.1-2011 使用光学离散粒子计数器对亚微米液载粒子进行分级和计数
行业标准-机械，关于,十进位粒级的标准
JB/T 12642.9-2016 电机铁芯级进模 零件 第9部分:限位柱
RU-GOST R，关于,十进位粒级的标准
GOST 24204-1980 有线通信工程中衰减与增益电平测量用十进单位
ANSI - American National Standards Institute，关于,十进位粒级的标准
X3.95-1982 信息系统-微处理器-十六进制输入/输出 使用 5 位和 7 位电传打字机
行业标准-航天，关于,十进位粒级的标准
QJ 10006/7-2008 宇航用半导体集成电路 四位十进制同步加/减计数器（C40192）详细规范
YU-JUS，关于,十进位粒级的标准
JUS Z.S2.315-2004 带多级十字路口的高速公路和道路用前进方向标志．形状和尺寸
工业和信息化部，关于,十进位粒级的标准
SJ/T 11604-2016 基于十进制网络的射频识别标签信息定位、查询与服务发现技术规范
PT-IPQ，关于,十进位粒级的标准
NP EN ISO 4264:2000 石油制品．通过四级调节法来对中间蒸馏燃料的十六烷值进行估算
美国材料与试验协会，关于,十进位粒级的标准
ASTM E2530-06 用Si(111)单原子层级对原子力显微镜进行次纳米位移级的Z倍率校准的标准规程
ASTM C696-11 对核级二氧化铀粉末和球粒进行化学分析,质谱分析及光谱分析的标准试验方法
美国公路与运输员工协会，关于,十进位粒级的标准
AASHTO T 176-2008 使用含砂当量试验对分级集料和土壤中的塑性细粒进行试验的标准试验方法
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于,十进位粒级的标准
GB/T 35358.2-2017 汽车发动机和压缩机进气空气滤清装置 第2部分：粗颗粒分级效率测试(5μm到40μm)
GB/T 35358.1-2017 汽车发动机和压缩机进气空气滤清装置 第1部分：细颗粒分级效率测试(0.3μm到5μm)
ES-UNE，关于,十进位粒级的标准
UNE-EN ISO 29462:2023 通过颗粒尺寸和气流阻力对一般通风过滤装置和系统进行原位去除效率的现场测试
