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本专题涉及探汞的标准有12条。
国际标准分类中，探汞涉及到半导体材料、航空航天用电气设备和系统、长度和角度测量。
在中国标准分类中，探汞涉及到其他纺织制品、半金属与半导体材料综合、、人类工效学、电子测量与仪器综合、元素半导体材料。
国家军用标准-国防科工委，关于探汞的标准
GJB 6259-2008 碲镉汞探测器晶片用直粘型抛光布规范
国家军用标准-总装备部，关于探汞的标准
GJB 8773-2015 碲镉汞探测器晶片用直粘型抛光布规范
GJB 2345-1995 制冷型碲镉汞红外探测器规范
GJB 1866-1994 红外探测器用碲镉汞晶片规范
GJB 1785-1993 红外探测器用碲镉汞晶片测试方法
国家质检总局，关于探汞的标准
GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定.汞探针电容-电压法
GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
中国团体标准，关于探汞的标准
T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法
(美国)海军，关于探汞的标准
NAVY MIL-S-19551 B-1977 12英寸信号白炽和汞氙气探射灯
行业标准-电子，关于探汞的标准
SJ 51206/2-1996 ６０Ｈ３０ＤＹ２型液氮制冷６０元光导碲镉汞红外探测器详细规范
美国材料与试验协会，关于探汞的标准
ASTM F1393-92(1997) 用带汞探针的铣床回授靠模工具机测量器测定硅中净载流子密度的测试方法
ASTM F1392-00 用带汞探针的容量-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
