本专题涉及电 薄膜的标准有78条。
国际标准分类中，电 薄膜涉及到绝缘材料、频率控制和选择用压电器件与介质器件、纺织产品、有色金属产品、半导体材料、半导体分立器件、橡胶和塑料制品、电容器、无损检测、电子元器件综合、非金属矿、集成电路、微电子学。
在中国标准分类中，电 薄膜涉及到电工绝缘材料及其制品、特种陶瓷、基础标准和通用方法、半导体分立器件综合、合成材料综合、电容器、金属无损检验方法、其他纺织制品、电位器、电子元件综合、电子技术专用材料、纺织制品综合、微电路综合。
国际电工委员会，关于电 薄膜的标准
IEC 60674-3-4:2022 电工塑料薄膜第3部分:单项材料规范活页4:电绝缘用聚酰亚胺薄膜
IEC 60674-3-4-2022 电工塑料薄膜第3部分:单项材料规范活页4:电绝缘用聚酰亚胺薄膜
IEC 62047-36:2019 半导体器件微机电器件第36部分:MEMS压电薄膜的环境和介电耐受试验方法
IEC 62047-36-2019 半导体器件微机电器件第36部分:MEMS压电薄膜的环境和介电耐受试验方法
IEC 60674-3-8-2011 电气用塑料薄膜 - 第3部分:单项材料规范 - 第8页:用于电绝缘的平衡双轴取向聚萘二甲酸乙二醇酯（PEN）薄膜
IEC 62374:2007 半导体器件.栅极介电薄膜用时间相关的电介质击穿(TDDB)试验
IEC 60674-3-4-1993 电气用塑料薄膜规格 - 第3部分:各种材料规格 - 表4至6:用于电绝缘的聚酰亚胺薄膜的要求
IEC 60674-3-4:1993 电气用塑料薄膜规格 - 第3部分:各种材料规格 - 表4至6:用于电绝缘的聚酰亚胺薄膜的要求
IEC 60674-3-3-1992 电气用塑料薄膜规范.第3部分: 单项材料规范.第3页:试验要求 电绝缘用聚碳酸酯（PC）薄膜
IEC 60674-3-7-1992 电气用塑料薄膜规格 - 第3部分:各材料规格 - 第7页:用于电绝缘的氟乙烯 - 丙烯（Fep）薄膜的要求
美国材料与试验协会，关于电 薄膜的标准
ASTM D5213-19 电绝缘和电介质用聚合树脂薄膜的标准规范
ASTM D2305-18 用于电绝缘的聚合物薄膜的标准试验方法
ASTM D7007-16 水或土料覆盖的土工薄膜上漏洞定位的电方法的标准实施规程
ASTM D7007-15 水或土料覆盖的土工薄膜上漏洞定位的电方法的标准实践规程
ASTM D6747-15 选择土工薄膜中泄漏的电泄漏位置的标准指南
ASTM D6343-14 电绝缘用薄膜导热固体材料和介电设施的标准试验方法
ASTM D2861-14 铜箔与介电薄膜或经处理的织物构成的挠性复合材料的标准试验方法
ASTM D5213-12 电绝缘和电介质用聚合树脂薄膜的标准规格
ASTM D6747-12 土工薄膜泄漏的电探测技术选择用标准指南
ASTM D5213-07 电绝缘和电介质用聚合树脂薄膜的标准规范
ASTM D1389-06 薄膜固体电绝缘材料的耐电测试用标准试验方法
ASTM D5213-04 电绝缘和电介质用聚酰亚胺树脂薄膜的标准规范
ASTM D7007-03 水或土料覆盖的土工薄膜上漏洞定位的电方法的标准实施规程
ASTM D2305-99 用于电绝缘的聚合物薄膜的标准试验方法
ASTM D2305-02 电绝缘用聚合物薄膜的标准试验方法
ASTM D5213-99 电绝缘和电介质用聚酰亚胺树脂薄膜的标准规范
ASTM D3251-99 作磁性金属丝的薄膜绝缘用的电绝缘清漆的热老化特性的标准试验方法
ASTM F1261M-96 薄膜金属直线平均电宽度测定的标准试验方法
ASTM F1261M-96(2003) 薄膜金属直线平均电宽度测定的标准试验方法
ASTM D2861-87(2009) 复合型带介电薄膜或精致纤维的铜箔柔韧性的标准试验方法
ASTM D2861-87(1998) 复合型带介电薄膜或精致纤维的铜箔柔韧性测试方法
ASTM D2861-87(2004) 铜箔与介电薄膜或经处理的织物构成的挠性复合材料的试验方法
美国国家标准学会，关于电 薄膜的标准
ANSI/ASTM D2305:2018 电绝缘用聚合薄膜的试验方法
ANSI/ASTM D2305:2010 电绝缘用聚合薄膜的试验方法
ANSI/ASTM D2861:1998 复合型带介电薄膜或精致纤维的铜箔柔韧性测试方法
ANSI/EIA 580BA00-1997 空白详细规范:固定金属引线薄膜介电交流电容器
ANSI/EIA 479-A-1993 50/60Hz倍压电源用的薄膜纸介质和薄膜介电电容器
，关于电 薄膜的标准
UNE 7-050 Pt.2-1985 试验筛．金属薄膜，穿孔板和电制薄板．开口的额定测量
韩国科技标准局，关于电 薄膜的标准
KS L 1619-2013 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
KS L 1620-2013 电传导陶器薄膜电阻测定方法.范得堡法
KS C 2150-2008 在高频带(500MHz〜10GHz)的介电常数和介电损耗测量的介电薄膜的方法
KS C IEC 60674-3-2:2003 电工用塑料薄膜规范.第3部分:各别材料规范.第2节:电绝缘用平衡双轴取向聚对苯二甲酸乙二醇酯薄膜要求
KS L 1619-2003 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
KS L 1620-2003 电传导陶器薄膜电阻测定方法.范得堡法
英国标准学会，关于电 薄膜的标准
BS EN 62374-2007 半导体装置.依赖时间的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
BS EN 60674-3-4 to 6-1995 电工用塑料薄膜规范.各型材料规范.电绝缘用聚酰亚胺薄膜要求
德国标准化学会，关于电 薄膜的标准
DIN EN 62374-2008 半导体器件.与时间有关的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
DIN EN 60384-13-1-2006 电子设备用固定电容器.第13-1部分:空白详细规范.固定聚丙烯薄膜介电金属箔直流电容器.评定等级E和EZ(IEC 60384-13-1-2006).德文版本EN 60384-13-1-2006
PAS 1022-2004 检测材料及介电材料性质以及用椭偏仪测量薄膜层厚度的参考程序
DIN EN 60674-3-2-1999 电工用塑料薄膜规范.第3部分:各种材料规范.第2活页:电绝缘用平衡双轴线取向的聚对苯二甲酸乙二醇酯薄膜的要求
DIN EN 60674-3-4 bis 6-1999 电工用塑料薄膜规范.第3部分:各种材料的规范.第4-6活页:电绝缘用聚酰亚胺薄膜的要求
DIN EN 60674-3-3-1999 电工用塑料薄膜规范.第3部分:各种材料规范.第3活页:电绝缘用聚碳酸酯薄膜的要求
DIN 41850-3-1985 薄膜集成电路.第3部分:材料、介电糊剂的评价方法
法国标准化协会，关于电 薄膜的标准
NF C96-017-2008 半导体器件.与时间有关的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
NF C26-145-3-7-1998 电工用塑料薄膜规范.第3部分:专用材料规范.第7章:电绝缘用氟乙烯-丙烯薄膜要求
NF C26-145-3-2-1998 电气用塑料薄膜规范.第3部分:专用材料规范.活页2:电绝缘用平衡双轴取向聚乙烯对苯二甲酸酯薄膜的要求
NF C26-145-3-3-1998 电气用途塑料薄膜规范.第3部分:专用材料规范.第3章:电绝缘用聚碳酸酯薄膜要求
NF C26-145-3-4-1995 电气用塑料薄膜规范.第3部分:专用材料规范.活页4-6:电绝缘用聚酰亚胺薄膜要求
美国保险商实验所，关于电 薄膜的标准
UL 746F BULLETIN-2007 UL安全标准.印刷线路板和柔性互联结构用聚合材料制柔性介电薄膜材料
UL SUBJECT 746F-2005 印刷线路板和柔性互联结构用聚合材料制柔性介电薄膜材料调查大纲.发布编号:3
欧洲电工标准化委员会，关于电 薄膜的标准
EN 62374-2007 半导体器件.与时间有关的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
EN 60674-3-4 TO 6-1995 电工用塑料薄膜规范.第3部分:单项材料规范表4至6:电绝缘用聚酰亚胺薄膜要求(IEC 674-4至6-1993)
美国电子元器件、组件及材料协会，关于电 薄膜的标准
ECA 580BA00-1997 空白详细规范:固定金属电极薄膜介电AC电容器
ECA 479-A-1993 50/60Hz倍压器电源的薄膜纸介质和薄膜介电电容器
ECA 495-A-1989 交流电用金属化纸电极薄膜介电电容器
行业标准-电子，关于电 薄膜的标准
SJ 20614-1996 交流薄膜电致发光矩阵显示器件总规范
SJ 20613-1996 交流薄膜电致发光矩阵显示器件测试方法
SJ/T 1147-1993 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法
美国电子电路和电子互连行业协会，关于电 薄膜的标准
IPC TM-650 2.5.5.8-1995 聚合物薄膜低频介电常数和损失正切
台湾地方标准，关于电 薄膜的标准
CNS 8356-1988 电绝缘用超薄膜云母及集成云母
