本专题涉及镭射干涉仪的标准有74条。
国际标准分类中，镭射干涉仪涉及到光学和光学测量、摄影技术、光学设备、长度和角度测量、磁性材料、光纤通信、光电子学、激光设备、表面处理和镀涂、玻璃、体积、质量、密度和粘度的测量。
在中国标准分类中，镭射干涉仪涉及到、电子光学与其他物理光学仪器、、长度计量、光学仪器综合、供热器材设备、光学设备、光学计量仪器、光学测试仪器、光电子器件综合、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、量具与量仪、光学计量、材料防护、通信设备综合、工业技术玻璃、。
国家计量技术规范，关于镭射干涉仪的标准
JJF 2007-2022 光纤端面干涉仪校准规范
JJF 1739-2019 数字式激光球面干涉仪校准规范
JJF 1100-2016 平面等厚干涉仪校准规范
JJF 1100-2003 平面等厚干涉仪校准规范
中国团体标准，关于镭射干涉仪的标准
T/SZBX 080-2022 相移式激光干涉仪
工业和信息化部，关于镭射干涉仪的标准
JB/T 13872-2020 平面相移干涉仪
美国材料与试验协会，关于镭射干涉仪的标准
ASTM E2246-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
ASTM E2245-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的残余应变测量的标准测试方法
ASTM E2244-11(2018) 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2244-11 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2246-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E2245-11 利用光学干涉仪测量反射膜残余应变的标准试验方法
ASTM E2246-11 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E2244-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
ASTM E2245-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜残余应变的标准试验方法
ASTM E2244-05 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2245-05 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
ASTM E2246-05 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E2244-02 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
ASTM E2246-02 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E2245-02 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
吉林省质量技术监督局，关于镭射干涉仪的标准
DB22/T 2651-2017 数字式激光球面干涉仪校准规范
德国标准化学会，关于镭射干涉仪的标准
DIN ISO 14999-4:2016 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2015)
DIN EN 62129-2-2012 波长/光频测量仪的校准.第2部分:迈克逊单波长干涉仪(IEC 62129-2-2011).德文版本 EN 62129-2-2011
DIN ISO 14999-4:2008 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2007).英文版本DIN ISO 14999-4-2008
，关于镭射干涉仪的标准
STAS 10046/2-1992 建筑声学．通过声音干涉仪测定吸收系数和材料的声阻抗
韩国标准，关于镭射干涉仪的标准
KS B 8400-1-2015 激光和激光相关设备.激光位移测量干涉仪测试方法.第1部分:稳定连续波激光波长的测试方法
KS B 8400-2-2015 激光和激光相关设备.激光位移测量干涉仪测试方法.第2部分:激光干涉仪的试验方法
KS B ISO 14999-4:2011 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:KS B ISO 10110中指定公差的注释和评定
KS B 8400-2-2010 激光和激光相关设备.激光位移测量干涉仪测试方法.第2部分:激光干涉仪的试验方法
KS B 8400-1-2010 激光和激光相关设备.激光位移测量干涉仪测试方法.第1部分:稳定连续波激光波长的测试方法
KS D ISO 3868:2002 金属镀层和其他无机物涂层.涂层厚度的测量.菲索(Fizeau)多光束干涉仪法
国际标准化组织，关于镭射干涉仪的标准
ISO 14999-4:2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
ISO/TR 14999-1:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第1部分:术语、定义和基本关系
ISO/TR 14999-3:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第3部分:干涉仪试验设备和测量的校准和验证
ISO/TR 14999-2:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
ISO 3868:1976 金属和其他无机覆盖层 镀层厚度的测量 裴索多光束干涉仪法
英国标准学会，关于镭射干涉仪的标准
BS ISO 14999-4:2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.ISO 10110中指定公差的注释和评定
BS EN 62129-2-2011 波长/光频测量仪器校准.迈克耳逊干涉仪单波长计
BS ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.ISO 10110中指定公差的注释和评定
BS EN ISO 3868:1995 金属和其他无机物涂层.涂层厚度测量.菲索(Fizeau)多光束干涉仪法
黑龙江省质量技术监督局，关于镭射干涉仪的标准
DB23/T 1528-2013 快速动态双频激光干涉仪技术规程
国际电工委员会，关于镭射干涉仪的标准
IEC TR 62797:2013 振动样品磁强计（VSM）和超导量子干涉仪（SQUID）磁强计测量磁矩的国际比较
IEC 62129-2:2011 波长/逛拼测量仪器校准.第2部分:迈克逊单波长米干涉仪
法国标准化协会，关于镭射干涉仪的标准
NF C93-846-2-2011 波长/光频测量仪校准.第2部分:迈克尔森干涉仪单波长计.
NF S10-009-4-2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
NF A91-117-1995 金属和其他无机物涂层.涂层厚度的测量.菲索(Fizeau)多光束干涉仪法
NF E11-016-1987 长度测量仪.条纹计数,激光源干涉仪
美国机械工程师协会，关于镭射干涉仪的标准
ASME B89.1.8-2011 位移测量激光干涉仪性能评估
美国国家标准学会，关于镭射干涉仪的标准
ANSI/ASME B89.1.8-2011 位移测量激光干涉仪的性能评估
国家军用标准-国防科工委，关于镭射干涉仪的标准
GJB/J 6221-2008 数字式激光平面干涉仪校准规范
GJB 6460-2008 干涉仪系统传递函数测量.台阶板位相比较法
行业标准-机械，关于镭射干涉仪的标准
JB/T 5610-2006 激光干涉仪
JB/T 8233-1999 立式接触式干涉仪
JB/T 5610-1991 双频激光干涉仪
国家计量检定规程，关于镭射干涉仪的标准
JJG 739-2005 激光干涉仪
JJG 371-2005 量块光波干涉仪
JJG 661-2004 平面等倾干涉仪
JJG 101-2004 接触式干涉仪
JJG 371-1992 激光量块干涉仪检定规程
JJG 770-1992 柯氏干涉仪检定规程
JJG 661-1990 平面等倾干涉仪检定规程
JJG 101-1981 接触式干涉仪检定规程
国际电信联盟，关于镭射干涉仪的标准
ITU-R QUESTION 202-1/7-1997 空间甚长基线干涉仪和其他空间研究系统的保护标准和频率共享
日本工业标准调查会，关于镭射干涉仪的标准
JIS R3252-1994 激光干涉仪检测玻璃匀质性的测量方法
机械电子工业部，关于镭射干涉仪的标准
JB 5610-1991 双频激光干涉仪
