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功率半导体检测


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本专题涉及功率半导体的标准有51条。

国际标准分类中,功率半导体涉及到半导体分立器件、光电子学、激光设备、半导体材料、电学、磁学、电和磁的测量、电容器。

在中国标准分类中,功率半导体涉及到半导体分立器件综合、半导体发光器件、半导体二极管、微波、毫米波二、三极管、激光器件、、电容器、通用电子测量仪器设备及系统、半导体三极管、场效应器件、光电子器件综合、微电路综合。


CZ-CSN,关于功率半导体的标准

CSN 35 1530-1979 功率半导体转换器

CSN 35 1540-1979 功率半导体转换器测试

CSN 35 1560-1969 功率半导体器件.整流器

CSN 34 5175-1979 功率半导体器件变换器术语

JP-JEC,关于功率半导体的标准

JEC 2407-2007 绝缘型功率半导体模块

HU-MSZT,关于功率半导体的标准

MSZ 7200/5-1985 大功率半导体工具的测量方法

MSZ 7200/3-1984 大功率半导体工具.轮廓和连接尺寸

MSZ 7200/2-1984 大功率半导体的一般工艺要求和检测

英国标准学会,关于功率半导体的标准

BS EN 60747-15:2004 半导体分立器件.绝缘的功率半导体器件

BS EN 60747-15:2012 半导体设备.分立器件.绝缘的功率半导体器件

22/30443678 DC BS EN 60749-34-1 半导体器件 机械和气候测试方法 第 34-1 部分 功率半导体模块的功率循环测试

国家质检总局,关于功率半导体的标准

GB/T 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范

GB/T 36357-2018 中功率半导体发光二极管芯片技术规范

行业标准-电子,关于功率半导体的标准

SJ/T 11398-2009 功率半导体发光二极管芯片技术规范

SJ 20957-2006 大功率半导体激光二级管阵列通用规范

SJ 2099-1982 CS42型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2103-1982 CS46型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2104-1982 CS47型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2092-1982 CS35型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2093-1982 CS36型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2094-1982 CS37型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2095-1982 CS38型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2096-1982 CS39型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2097-1982 CS40型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2105-1982 CS48型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2106-1982 CS49型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2107-1982 CS50型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2108-1982 CS51型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2100-1982 CS43型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2102-1982 CS45型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2098-1982 CS41型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

SJ 2101-1982 CS44型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

中国团体标准,关于功率半导体的标准

T/IAWBS 009-2019 功率半导体器件稳态湿热高压偏置试验

T/ZSA 47-2020 电动汽车用功率半导体器件可靠性试验方法

T/IAWBS 004-2021 电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法

美国电子元器件、组件及材料协会,关于功率半导体的标准

ECA 401-1973 电容器功率半导体应用的纸张,纸/膜,膜介质

陕西省标准,关于功率半导体的标准

DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程

国家计量检定规程,关于功率半导体的标准

JJG(电子) 04023-1989 BJ2970型大功率半导体三极管tf测试仪检定规程

美国国防后勤局,关于功率半导体的标准

DLA MIL-PRF-19500/370 G-2008 高功率半导体装置,PNP硅晶体管,型号2N3442,JAN,JANTX和JANTXV

丹麦标准化协会,关于功率半导体的标准

DS/EN 60747-15:2012 半导体器件 分立器件 第15部分:隔离功率半导体器件

DS/EN 153000:1999 总规范:分立式压力接触功率半导体器件(资质认可)

德国标准化学会,关于功率半导体的标准

DIN EN 60747-15:2012-08 半导体器件-分立器件-第15部分:隔离功率半导体器件

DIN EN 153000:1999 总规范.分立的压力触点功率半导体装置(资格认可)

ES-UNE,关于功率半导体的标准

UNE-EN 60747-15:2012 半导体器件 分立器件 第15部分:隔离功率半导体器件

美国国家标准学会,关于功率半导体的标准

ANSI/EIA 401:1973 功率半导体设备用纸介质和纸/薄膜介质电容器

立陶宛标准局,关于功率半导体的标准

LST EN 153000-2001 通用规范 分立式压接功率半导体器件(资质认可)

LST EN 60747-15-2012 半导体器件 分立器件 第15部分:隔离功率半导体器件(IEC 60747-15:2010)

欧洲电工标准化委员会,关于功率半导体的标准

EN 153000:1998 通用规范:压力触点单一大功率半导体件(资格认证)

ECIA - Electronic Components Industry Association,关于功率半导体的标准

401-1973 用于功率半导体应用的纸 纸/薄膜 薄膜介电电容器

GOSTR,关于功率半导体的标准

GOST 34627-2019 用于柴油机车车辆的功率半导体转换器 主要参数及一般要求

(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于功率半导体的标准

JEDEC JEP151-2015 测量地球宇宙射线在功率半导体器件中引起的破坏性影响的测试程序

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
CMA检验检测机构资质认定证书
CNAS实验室认可证书
CNAS实验室认可证书
ISO管理体系认证证书
ISO管理体系认证证书
高新技术企业证书
高新技术企业证书

精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

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