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本专题涉及超导体 应用的标准有500条。
国际标准分类中，超导体 应用涉及到导体材料、电学、磁学、电和磁的测量、金属材料试验、有色金属产品、电线和电缆、半导体分立器件、整流器、转换器、稳压电源、核能工程、道路车辆装置、开关装置和控制器、输电网和配电网、管道部件和管道、水质、化工产品、有色金属、热力学和温度测量、分析化学、流体流量的测量、电工器件、磁性材料、钢铁产品、无损检测、字符集和信息编码、航空航天制造用材料、绝缘、航空航天用电气设备和系统、造船和海上构筑物综合、航天系统和操作装置、音频、视频和视听工程、接口和互连设备、表面处理和镀涂、质量、信息技术应用、电视播放和无线电广播、医疗设备、电信系统、电信综合、力、重力和压力的测量、半导体材料、电气工程综合、集成电路、微电子学。
在中国标准分类中，超导体 应用涉及到半金属与半导体材料综合、裸电线、电工材料和通用零件综合、其他、基础标准与通用方法、电工合金零件、物理学与力学、金属理化性能试验方法综合、金属物理性能试验方法、、半导体三极管、基础标准和通用方法、半导体分立器件综合、特殊用途电器、电磁计量、场效应器件、稀有高熔点金属及其合金、航天器综合、轻金属及其合金、核反应堆与核电厂核岛设备、低压配电电器、水环境有毒害物质分析方法、流量与物位仪表、高压开关设备、核反应堆综合、车用电子、电气设备与仪表综合、氧化物、单质、金属力学性能试验方法、电力半导体器件、部件、复合材料与固体燃料、敏感元器件及传感器、电感器、变压器、电气系统与设备、电子元器件、长度计量、重金属及其合金、数据通信设备、软件工程、电工绝缘材料及其制品、综合技术、信息处理技术综合、广播、电视网结构、贵金属及其合金、工业自动化与控制装置综合、仪器、仪表用材料和元件、电容器、变压器、医用超声、激光、高频仪器设备、半导体集成电路、低压电器综合、稀有轻金属及其合金、计算机图形、温度与压力仪表、电工仪器、仪表综合、电力试验技术、带绝缘层电线、螺塞、管件。
英国标准学会，关于超导体 应用的标准
BS EN 61788-5:2003 超导性.超导体体积比率测量矩阵.铜与Cu/Nb-Ti复合超导体的超导体体积比率
BS EN 61788-5:2001 超导性.超导体体积比率测量矩阵.铜与Cu/Nb-Ti复合超导体的超导体体积比率
BS EN 61788-5:2013 超导性.超导体体积比率测量矩阵.铜与Cu/Nb-Ti复合超导体的超导体体积比率
BS EN 61788-12:2003 超导性.超导体体积比测量矩阵.铜与Nb3Sn复合超导导线的非铜体积比
BS EN 61788-12:2002 超导性.超导体体积比测量矩阵.铜与Nb3Sn复合超导导线的非铜体积比
BS EN 61788-12:2013 超导性.超导体体积比测量矩阵.铜与Nb3Sn复合超导导线的非铜体积比
BS EN 61788-19:2014 超导性. 机械性能测量. 起反应的Nb3Sn复合超导体的室温拉伸试验
PD IEC/TR 61788-20:2014 超导 超导线材 实用超导线的类别 一般特征和指导
BS EN 61788-9:2005 超导性.第9部分:成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的截留流量密度
BS EN 61788-10:2006 超导性.临界温度测量.用电阻法测量复合超导体的临界温度
BS EN 61788-6:2008 超导体.机械性能测量.Cu/Nb-Ti合成超导体的室温拉伸试验
BS PD ISO/PAS 19451-1:2016 ISO 26262-2011-2012半导体应用. 概念应用
BS PD IEC/TR 61788-20:2014 超导性. 超导线材. 实用超导线材的种类. 一般特性和指南
BS EN IEC 61788-23:2021 跟踪更改 超导 剩余电阻比测量 腔体级铌超导体的残余电阻率
BS PD ISO/PAS 19451-2:2016 ISO 26262-2011-2012半导体应用. 硬件认证应用
BS EN 61788-2:1999 超导性.临界电流测量.Nb3Sn复合超导体的直流临界电流
BS EN 61788-7:2002 超导性.电子特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
BS EN 61788-7:2007 超导性 电子特性测量 微波频率下超导体的表面电阻
BS EN 61788-21:2015 超导性. 超导线材. 实用超导线材的试验方法. 一般特性和指南
BS EN 61788-11:2003 超导性.剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
BS EN 61788-4:2001 超导性.剩余电阻比测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻比
BS EN 61788-2:2007 超导性.临界电流测量.Nb3Sn复合超导体的直流(D.C.)临界电流
BS EN 61788-11:2011 超导电性.残余电阻比测量.Nb3Sn复合超导体的残余电阻比
BS EN 61788-1:2007 超导性.临界电流测量.铌-钛复合超导体的直流临界电流
BS EN 61788-4:2011 超导电性.残余电阻比测量.Nb-Ti复合超导体的残余电阻比
BS EN 61788-6:2001 超导性.机械特性测量.Cu/Nb-Ti复合超导体的室温拉伸试验
BS EN 61788-13:2012 超导性. AC损耗测量. 多芯复合超导体磁滞损耗的磁强计法
BS EN IEC 61788-7:2020 超导性 电子特性测量 微波频率下高温超导体的表面电阻
BS EN 61788-16:2013 超导性. 电子特性测量. 微波频率下超导体的动力表面电阻
PD ISO/PAS 19451-1:2016 ISO 26262:2011-2012 在半导体中的应用 概念的应用
BS EN 61788-15:2011 超导性.电子特性测量.微波频率下超导体膜的固有表面阻抗
BS EN 61788-7:2006 超导性.第3部分:电子特性测量.微波频率下超导体表面电阻
BS EN 61788-4:2007 超导性.剩余电阻率的测量.Nb-Ti复合超导电体的剩余电阻率
BS EN 61788-6:2011 超导电性.机械性能测量.Cu/Nb-Ti复合超导体的室温拉力试验
BS EN IEC 61788-26:2020 超导性 临界电流测量 RE-Ba-Cu-O复合超导体的直流临界电流
BS EN IEC 61788-4:2020 超导性 剩余电阻比测量 Nb-Ti和Nb3Sn复合超导体的残余电阻比
BS EN 61788-4:2016 超导电性.残余电阻比测量.Nb-Ti与Nb3Sn复合超导体的残余电阻比
23/30473276 DC BS EN IEC 61788-23 超导性 第 23 部分 残余电阻比测量 腔体级铌超导体的残余电阻率
BS ISO 12242:2012 封闭导管中液体流量测量.液体用超声波渡越时间计
BS EN 61788-22-1:2017 超导性 超导电子设备 传感器和探测器通用规范
19/30390197 DC BS EN 61788-23 超导 第23部分：剩余电阻比测量 铌超导体的残余电阻率
BS EN 61788-10:2003 超导性.临界温度测量.用电阻法测量Nb-Ti、Nb3Sn和铋族氧化物复合超导体的临界温度
BS EN 61788-10:2002 超导性.临界温度测量.用电阻法测量Nb-Ti、Nb3Sn和铋族氧化物复合超导体的临界温度
19/30402599 DC BS EN IEC 61788-23 超导 第23部分：剩余电阻比测量 铌超导体的残余电阻率
18/30382796 DC BS EN 61788-4 超导 剩余电阻比测量 Nb-Ti和Nb3Sn复合超导体的残余电阻比
BS EN 61788-3:2003 超导性.临界电流测量.覆银的Bi-2212和Bi-2223氧化超导体的直流临界电流
BS EN 61788-3:2001 超导性.临界电流测量.覆银的Bi-2212和Bi-2223氧化超导体的直流临界电流
18/30370111 DC BS EN 61788-7 超导 第7部分：电子特性测量 微波频率下超导体的表面电阻
BS EN 61788-14:2010 超导性.第14部分:超导电力装置.电力超导装置用电流引线设计性能试验的一般要求
BS EN 61788-13:2003 超导性.交流电损耗测量.Cu/Nb-Ti多丝复合超导体磁滞损耗的磁强计测量法
18/30363361 DC BS EN 61788-26 超导 第26部分 临界电流测量 RE-Ba-Cu-O复合超导体的直流临界电流
BS 3G 231:1997 通用航空电缆和航空航天应用导电体规范
BS EN 61788-18:2014 超导性. 机械性能测量. 银和/或银合金护套Bi-2223和Bi-2212复合超导体的室温拉伸试验
BS EN 61788-3:2006 超导性.临界电流测量.涂层银或银合金的Bi-2212和Bi-2223氧化超导体的直流临界电流
BS EN 61788-18:2013 超导性. 机械性能测量. Ag和/或Ag合金护套Bi-2223和Bi-2212复合超导体的室温拉伸试验
BS PD IEC TR 63304:2021 永磁体（磁性硬质）材料 使用超导磁体测量开路磁路中磁性能的方法
BS ISO 26262-11:2018 公路车辆 功能安全 ISO 26262 半导体应用指南
BS IEC 60747-8:2010 半导体装置.分立器件.场效应晶体管
BS IEC 60747-8:2010+A1:2021 半导体器件 分立器件 场效应晶体管
BS EN 62298-4:2005 网络电视应用.超电文轮廓
BS EN 62298-3:2005 网络电视应用.超电文轮廓
PD ISO/PAS 19451-2:2016 ISO 26262:2011-2012 在半导体中的应用 硬件资质申请
PD IEC TR 63304:2021 永磁（硬磁）材料 使用超导磁体测量开放磁路中磁性能的方法
PD IEC/TR 60344:2007 低频电缆和电线的裸铜导体和涂层铜导体的直流电阻计算 指南应用程序
BS ISO 17089-1:2010 封闭导管中流体流量测定.气体用超声波测量仪.运输监护和分配测量用计量仪表
BS IEC 60747-8-4:2004 半导体分立器件.电力开关设备的金属氧化物半导体场效应晶体管
BS EN 62417:2010 半导体器件.金属氧化物场效应晶体管(MOSFETs)用迁移离子试验
国际电工委员会，关于超导体 应用的标准
IEC 61788-5:2013 超导体.第5部分:超导体体积比测量矩阵.铜对铜/铌-钛复合超导体的超导体体积比
IEC 61788-5:2000 超导体 第5部分:超导体体积换算系数测量 铜对铜/铌-钛复合超导体的超导体体积系数
IEC 61788-12:2013 超导性. 第12部分: 超导体基体的体积比测量. Nb3Sn复合超导导线的铜与非铜的体积比
IEC 61788-9:2005 超导性.第9部分:成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷波流量密度
IEC TR 61788-20:2014 超导性.第20部分:超导导线.实用超导导线的分类.一般特性和指南
IEC 61788-6:2000 超导体 第6部分:机械性能测量 铜/铌-钛复合超导体室温拉伸试验
IEC 61788-1:1998 超导体 第1部分:临界电流测量 铜/铌-钛复合超导体的临界直流电流
IEC 61788-6:2008 超导体.第6部分:机械性能测量.铜/铌-钛复合超导体的室温拉伸试验
IEC 61788-6:2011 超导体.第6部分:机械性能测量.铜/铌-钛复合超导体的室温拉伸试验
IEC 61788-2:1999 超导体 第2部分:临界电流测量 铌(3号)/锡复合超导体的临界直流电流
IEC 61788-23:2018 超导性. 第23部分: 残余电阻比测量. 铌超导体的残余电阻比
IEC 61788-10:2006 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法对复合超导体的临界温度的测量
IEC 61788-7:2002 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
IEC 61788-7:2006 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
IEC 61788-4:2001 超导 第4部分：剩余电阻率测量 Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
IEC 61788-23:2021 RLV 超导性第23部分:剩余电阻比测量腔级铌超导体的剩余电阻比
IEC 61788-23:2021 超导性第23部分:剩余电阻比测量腔级铌超导体的剩余电阻比
IEC 61788-1:2006 超导性.第1部分:临界电流测量.铌-钛复合超导体的临界直流电流
IEC 61788-11:2011 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
IEC 60691:2002 热熔断体繁荣要求和应用导则
IEC 60691:2010 热熔断体繁荣要求和应用导则
IEC 61788-14:2010 超导性.第14部分:超导功率元件.设计用于超导功率元件的电流导线特性试验的一般要求
IEC 61788-3:2000 超导体 第3部分:临界电流测量 银-外膜铋-2212和铋-2223氧化物超导体的临界直流电流
IEC 61788-4:2007 超导性.第4部分:剩余电阻率的测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
IEC 61788-4:2011 超导性.第4部分:剩余电阻率的测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
IEC 61788-7:2020 RLV 超导性第7部分:电子特性测量微波频率下高温超导体的表面电阻
IEC 61788-7:2020 超导性.第7部分:电子特性测量.微波频率下高温超导体的表面电阻
IEC 61788-4:2020 超导性 - 第4部分:残余电阻率测量 - Nb-Ti和Nb3sn复合超导体的残余电阻比
IEC 61788-4:2020 RLV 超导性第4部分:剩余电阻比测量Nb-Ti和Nb3Sn复合超导体的剩余电阻比
IEC 61788-26:2020 超导性第26部分:临界电流测量RE-Ba-Cu-O复合超导体的直流临界电流
IEC 61788-4:2016 超导性.第4部分:剩余电阻率的测量.Nb-Ti与Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
IEC 61788-2:2006 超导性.第2部分:临界电流测量.Nb<下标3>Sn复合超导体的直流临界电流
IEC 61788-13:2012 超导性.第13部分:交流电损耗测量.多芯复合超导体磁滞损耗的磁强计法
IEC 61788-11:2003 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.Nb<下标3>Sn复合超导体的剩余电阻率
IEC TR 60146-6:1992 半导体变流器第6部分:用熔断器防止半导体变流器过电流的应用指南
IEC 60747-14-4:2011 半导体器件.分立器件.第14-4部分:半导体感应器
IEC 60747-8:2000 半导体装置.第8部分:场效应晶体管
IEC 61788-13:2003 超导性.第13部分:交流电损耗测量.Cu/Nb-Ti多芯复合超导体磁滞损耗的磁强计测量法
IEC 60747-8-4:2004 半导体分立器件.第8-4部分:电力开关装置用金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)
IEC TR 63304:2021 使用超导磁体在开放磁路中测量永磁（硬磁）材料磁性的方法
IEC 62417:2010 半导体器件.金属氧化物半导体场效应管(MOSFETs)移动离子试验
IEC 61788-18:2013 超导性.第18部分:机械特性测量.银和/或银合金护套的铋-2223和铋-2212复合超导体的室温拉伸试验
韩国科技标准局，关于超导体 应用的标准
KS C IEC 61788-5-2016(2021) 超导性第5部分:基体与超导体体积比测量Cu/Nb－Ti复合超导体的铜与超导体体积比
KS C IEC 61788-5:2016 超导性第5部分:基体与超导体体积比测量Cu/Nb－Ti复合超导体的铜与超导体体积比
KS D 0067-2002 超导体术语
KS C IEC 61788-9:2016 超导 - 9部分:测量用于散装高温超导体 - 的大晶粒的氧化物超导体被困磁通密度
KS C IEC 61788-5:2002 超导性.第5部分:超导体容量比率测量矩阵Cu/Nb-Ti复合超导体的铜对超导容量比率
KS D 0067-2002(2022) 超导体术语表
KS C IEC 61788-19-2016(2021) 超导性第19部分:机械性能测量反应Nb3Sn复合超导体的室温拉伸试验
KS C 6111-2-2005 超电导.超电导体的临界温度测定.使用超导电性交流磁化率的Nb-Ti、Nb3Sn、Bi系复合超导导线临界温度测定法
KS C IEC 61788-19:2016 超导 - 第19部分:机械性能的测量 - 反应的Nb 3 Sn复合超导体的室温拉伸试验
KS D 0067-2002(2017) 术语表 - 关于超导体
KS C IEC 61788-9-2016(2021) 超导性第9部分:大块高温超导体的测量大晶粒氧化物超导体的俘获磁通密度
KS C IEC 61788-6:2002 超导性.第6部分:机械特性测量.Cu/Nb-Ti复合超导体的铜对超导体容量比率的测量
KS C 6111-1-2005 超电导.超电导体的临界温度测定.使用SQUID磁化系统的Nb-Ti、Nb3Sn、Bi系复合超导导线的临界温度测定法
KS C IEC 61788-21:2020 超导性 - 第21部分:超导电线 - 实用超导电线的测试方法 - 一般特性和指导
KS C 6111-1-2005(2020) 超导性－临界温度测量－用SQUID磁强计用磁法测量Nb-Ti、Nb3Sn和Bi系复合超导体的临界温度
KS C IEC 61788-11-2005(2015) 超导性第11部分:剩余电阻比测量Nb3Sn复合超导体的剩余电阻比
KS C IEC 61788-4:2003 超导性.第4部分:剩余电阻比测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻比
KS C IEC 61788-11:2005 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
KS C IEC 61788-6:2017 超导性 - 第6部分:机械性能测量 - Cu/Nb复合超导体的室温拉伸试验
KS C IEC 61788-4-2017(2022) 超导性－第4部分:残余电阻比测量－Nb－Ti复合超导体的残余电阻比
KS C IEC 61788-4:2017 超导性第4部分:剩余电阻比测量铌钛复合超导体的剩余电阻比
KS C IEC 61788-1:2009 超导性.第1部分:临界电流测量-Cu/Nb-Ti复合超导体的直流临界电流
KS D 0406-2004 超导性·est·方法·art 1·临界电流·ection 1·C Cu/Nb-钛复合超导体的临界电流
KS C IEC 61788-6-2017(2022) 超导性.第6部分:机械性能测量.Cu/Nb-Ti复合超导体的室温拉伸试验
KS C IEC 61788-1-2009(2020) 超导性第1部分:临界电流测量Cu/Nb-Ti复合超导体的直流临界电流
KS C 6111-2-2005(2020) 超导性－临界温度测量－用交流电纳计磁法测定Nb-Ti、Nb3Sn和Bi系复合超导体的临界温度
KS C IEC 61788-26:2022 超导性.第26部分:临界电流测量.RE-Ba-Cu-O复合超导体的直流临界电流
KS C 6111-5-2008(2018) 在微波频率超导体膜的厚度的测量
KS C IEC 61788-14:2020 超导性 - 第14部分:超导功率器件 - 用于为超导器件供电的电流引线的特性测试的一般要求
KS C IEC 61788-10-2017(2022) 超导性－第10部分:临界温度测量－用电阻法测量Nb－Ti、Nb3Sn和Bi系氧化物复合超导体的临界温度
KS X ISO/IEC 13522-5_2001:2013 信息技术·多媒体和超媒体信息·艺术·5·基础交互应用支持
KS C IEC 61788-16:2020 超导电性 - 第16部分:电子特性测量 - 微波频率下超导体与功率相关的表面电阻
KS D 0406-1999 超导性试验方法第1部分:临界电流第1节:铜铌钛复合超导体的直流临界电流
KS C IEC 61788-3:2016 超导性第3部分:临界电流测量银包Bi－2212和Bi－2223氧化物超导体的直流临界电流
KS C IEC 61788-10:2003 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法对Nb-Ti、Nb3Sn和铋.系统氧化物复合超导体的临界温度的测量
KS C IEC 61788-10:2017 超导性 第10部分：临界温度测量 用电阻法对Nb-Ti、Nb3Sn和铋 系统氧化物复合超导体的临界温度的测量
KS C IEC 61788-3:2002 超导性.第3部分:临界电流测量.Ag护套的Bi-2212和Bi-2223氧化超导体的直流临界电流
KS C IEC 61788-3-2016(2021) 超导性－第3部分:临界电流测量－银护套Bi－2212和Bi－2223氧化物超导体的直流临界电流
KS C IEC 60747-8:2002 半导体器件.第8部分:场效应晶体管
KS C IEC 60146-6-2002(2012) 半导体变流器第6部分:用熔断器保护半导体变流器防止过电流的应用指南
KS C 6111-2004 Cu/Nb-Ti复合超导体直流临界电流测试方法
KS C IEC 60146-6:2002 半导体变流器.第6部分:用熔断器预防过电流的半导体变流器保护的应用指南
KS C IEC 60146-6:2013 半导体变流器 第6部分：用熔断器预防过电流的半导体变流器保护的应用指南
KS C IEC 60146-1-2:2002 半导体变流器.电网换相变流器和通用要求.第1-2部分:应用导则
KS C IEC 60787-2003(2018) 对的高电压的熔断体选择中的应用引导熔断器变压器电路应用
KS C IEC 60787:2003 变压器电路用高压熔断器熔断体选择的应用导则
KS C IEC 60981-2003(2009) 电气安装用超重荷型刚性钢导管
KS C IEC 60981-A-2014(2019) 电气安装用超重荷型刚性钢导管
KS C IEC 61788-18:2020 超导性 - 第18部分:机械性能测量 - Ag-和/或Ag合金护套Bi-2223和Bi-2212复合超导体的室温拉伸试验
KS C IEC PAS 62166:2002 半导体供应商的产品/过程更改用户通知指南
KS C IEC PAS 62166-2002(2012) 用户通知半导体供应商的产品/流程变更指南
KS C 6111-4-2007(2017) 均匀性在微波频率大高温超导体膜的表面电阻
KS X ISO/IEC 13522-6-2003(2018) 信息技术.多媒体和超媒体信息的编码.第6部分:增强交互式应用的支持
KR-KS，关于超导体 应用的标准
KS C IEC 61788-5-2016 超导性第5部分:基体与超导体体积比测量Cu/Nb－Ti复合超导体的铜与超导体体积比
KS C IEC 61788-9-2016 超导 - 9部分:测量用于散装高温超导体 - 的大晶粒的氧化物超导体被困磁通密度
KS C IEC 61788-19-2016 超导 - 第19部分:机械性能的测量 - 反应的Nb 3 Sn复合超导体的室温拉伸试验
KS C IEC 61788-21-2020 超导性 - 第21部分:超导电线 - 实用超导电线的测试方法 - 一般特性和指导
KS C IEC 61788-4-2017 超导性第4部分:剩余电阻比测量铌钛复合超导体的剩余电阻比
KS C IEC 61788-6-2017 超导性 - 第6部分:机械性能测量 - Cu/Nb复合超导体的室温拉伸试验
KS C IEC 61788-26-2022 超导性.第26部分:临界电流测量.RE-Ba-Cu-O复合超导体的直流临界电流
KS C IEC 61788-14-2020 超导性 - 第14部分:超导功率器件 - 用于为超导器件供电的电流引线的特性测试的一般要求
KS C IEC 61788-10-2017 超导性第10部分:临界温度测量用电阻法测量Nb－Ti、Nb3Sn和Bi－系氧化物复合超导体的临界温度
KS C IEC 61788-16-2020 超导电性 - 第16部分:电子特性测量 - 微波频率下超导体与功率相关的表面电阻
KS C IEC 61788-3-2016 超导性第3部分:临界电流测量银包Bi－2212和Bi－2223氧化物超导体的直流临界电流
KS C IEC 61788-18-2020 超导性 - 第18部分:机械性能测量 - Ag-和/或Ag合金护套Bi-2223和Bi-2212复合超导体的室温拉伸试验
丹麦标准化协会，关于超导体 应用的标准
DS/EN 61788-5:2001 超导性 第5部分：基质与超导体体积比测量 Cu/Nb-Ti 复合超导体的铜与超导体体积比
DS/EN 61788-5:2013 超导性 第5部分：基质与超导体体积比测量 Cu/Nb-Ti 复合超导线材的铜与超导体体积比
DS/EN 61788-12:2002 超导性 第12部分：基质与超导体体积比测量 Nb3Sn 复合超导线材的铜与非铜体积比
DS/EN 61788-12:2013 超导性 第12部分：基质与超导体体积比测量 Nb3Sn 复合超导线材的铜与非铜体积比
DS/EN 61788-9:2005 超导性 第9部分：大块高温超导体的测量 大颗粒氧化物超导体的捕获磁通密度
DS/EN 61788-10:2007 超导性 第10部分：临界温度测量 用电阻法测量复合超导体的临界温度
DS/EN 61788-2:2007 超导性 第2部分：临界电流测量 Nb3Sn 复合超导体的直流临界电流
DS/EN 61788-7:2007 超导性 第7部分：电子特性测量 微波频率下超导体的表面电阻
DS/EN 61788-11:2011 超导性 第11部分：残余电阻比测量 Nb3Sn 复合超导体的残余电阻比
DS/EN IEC 61788-23:2021 超导性 第23部分：残余电阻比测量 腔级铌超导体的残余电阻比
DS/EN 61788-4:2011 超导性 第4部分：残余电阻比测量 Nb-Ti 复合超导体的残余电阻比
DS/EN 61788-1:2007 超导性 第1部分：临界电流测量 Nb-Ti 复合超导体的直流临界电流
DS/EN 61788-6:2011 超导性 第6部分：机械性能测量 Cu/Nb-Ti 复合超导体的室温拉伸试验
DS/EN 61788-15:2012 超导性 第15部分：电子特性测量 微波频率下超导体薄膜的本征表面阻抗
DS/EN 61788-16:2013 超导性 第16部分：电子特性测量 微波频率下超导体的功率相关表面电阻
DS/ETS 300714:1998 终端设备（TE） 用于操作多媒体和超媒体信息对象的应用程序编程接口（API）
DS/EN 62417:2010 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）的移动离子测试
DS/IEC 787:1986 变压器电路用高压熔断器熔断体选择的应用导则
DS/EN 50182/Corr.:2004 架空线用导体 圆线同心绞合导体
DS/EN 50182:2001 架空线用导体 圆线同心绞合导体
DS/EN 50182/AC:2013 架空线用导体 圆线同心绞合导体
ES-UNE，关于超导体 应用的标准
UNE-EN 61788-5:2013 超导性 第5部分：基体与超导体体积比测量 Cu/Nb-Ti 复合超导线材的铜与超导体体积比
UNE-EN 61788-12:2013 超导性 第12部分：基体与超导体体积比测量 Nb3Sn 复合超导线材的铜与非铜体积比
UNE-EN 61788-19:2014 超导性 第19部分：机械性能测量 反应 Nb3Sn 复合超导体的室温拉伸试验
UNE-EN 61788-9:2005 超导性 第9部分：块状高温超导体的测量 大颗粒氧化物超导体的俘获通量密度
UNE-EN IEC 61788-23:2018 超导性 第23部分：残余电阻比测量 铌超导体的残余电阻比
UNE-EN 61788-21:2015 超导性 第21部分：超导线材 实用超导线材的测试方法 一般特性和指南
UNE-EN IEC 61788-23:2021 超导性 第23部分：残余电阻比测量 空腔级铌超导体的残余电阻比
UNE-EN 61788-6:2011 超导 第6部分：机械性能测量 Cu/Nb-Ti 复合超导体的室温拉伸试验
UNE-EN IEC 61788-7:2020 超导性 第7部分：电子特性测量 微波频率下高温超导体的表面电阻
UNE-EN IEC 61788-4:2020 超导性 第4部分：残余电阻比测量 Nb-Ti 和 Nb3Sn 复合超导体的残余电阻比
UNE-EN IEC 61788-26:2020 超导性 第26部分：临界电流测量 RE-Ba-Cu-O 复合超导体的直流临界电流
UNE-EN 61788-16:2013 超导性 第16部分：电子特性测量 微波频率下超导体的功率相关表面电阻
UNE-EN 61788-2:2007 超导性 第2部分：临界电流测量 Nb3Sn 复合超导体的直流临界电流(IEC 61788-2:2006)
UNE-EN 61788-1:2007 超导 第1部分：临界电流测量 铌钛复合超导体的直流临界电流 （IEC 61788-1:2006）
UNE-EN 61788-14:2010 超导性 第14部分：超导功率器件 设计用于为超导器件供电的电流引线特性测试的一般要求
UNE-EN 61788-22-1:2017 超导性 第22-1部分：超导电子设备 传感器和探测器的通用规范
UNE-EN 62417:2010 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的移动离子测试
UNE-EN 61788-18:2013 超导性 第18部分：机械性能测量 Ag 和/或 Ag 合金护套 Bi-2223 和 Bi-2212 复合超导体的室温拉伸试验
UNE-EN 61788-3:2006 超导性 第3部分：临界电流测量 Ag 和/或 Ag 合金护套 Bi-2212 和 Bi-2223 氧化物超导体的直流临界电流
日本工业标准调查会，关于超导体 应用的标准
JIS H 7304:2002 超导性.第5部分:基体与超导体体积比例测量.Cu/Nb-Ni复合超导体中铜与超导体体积的比率
JIS H 7304:2017 超导性.第5部分:基体与超导体体积比例测量.Cu/Nb-Ni复合超导线材中铜与超导体体积的比率
JIS H 7313:2007 超导性.成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷波流量密度
JIS H 7308:2017 超导性.基块超导体体积比例的测量.Nb3Sn复合超导金属线的铜对非铜体积比例
JIS H 7308:2006 超导性.第12部分:基块超导体体积比例的测量.Nb3Sn复合超导金属线的铜对非铜体积比例
JIS H 7309:2012 超导性.临界温度测量.复合超导体临界温度电阻测量法
JIS H 7306:2012 超导性.剩余电阻比测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻比
JIS H 7314:2013 超导性.超导功率元件.设计电流引线以推动超导设备用特性试验通用要求
JIS H 7307:2005 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
JIS H 7312:2007 超导电性.剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导电体的剩余电阻率
JIS H 7307:2010 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
JIS H 7306:2018 超导性.剩余电阻比测量.Nb-Ti和Nb3Sn复合超导体的剩余电阻比
JIS H 7302:2000 超导性.第2部分:临界电流测量.Nb3Sn复合超导体的直流临界电流
JIS H 7301:1997 超导性.试验方法.第1部分:临界电流.第1部分:铜/铌-钛复合超导体
JIS H 7306:2005 超导性.第4部分:剩余电阻比测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻比
JIS H 7302:2009 超导电性.第2部分:临界电流测量.Nb3Sn复合超导电体的直流临界电流
JIS H 7311:2018 超导性.交流电损耗测量.多芯复合超导体磁滞损耗的磁强计测量法
JIS H 7303:2002 超导性.第6部分:机械特性测量.Cu/Nb-Ni复合超导体的室温抗拉伸试验
JIS H 7301:2009 超导电性.第1部分:临界电流测量.铌-钛复合超导电体的直流临界电流
JIS H 7303:2013 超导性.第6部分:机械特性测量.Cu/Nb-Ni复合超导体的室温抗拉伸试验
JIS Z 2353:1991 测定固体超音速的脉冲法(应用参考试验片法)
JIS H 7309:2006 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法对Nb-Ti、 Nb3Sn和铋-系统氧化物复合超导体的临界温度的测量
JIS H 7305:2003 超导性.第3部分:临界电流测量.包银的铋-2212和铋-2223氧化物超导体的临界直流电流
JIS X 4345:1998 信息技术.多媒体和超媒体信息编码.第5部分:基本级交互应用的支持
JIS H 7305:2010 超导性.第3部分:临界电流测量.镀银和/或银合金的铋-2212和铋-2223氧化物超导体的临界直流电流
欧洲电工标准化委员会，关于超导体 应用的标准
EN 61788-5:2013 超导性.第5部分:超导体体积比率测量的矩阵.Cu/Nb-Ti复合超导体的铜与超导体的体积比率
EN 61788-5:2001 超导性.第5部分:超导体体积比率测量的矩阵.Cu/Nb-Ti复合超导体的铜与超导体的体积比率 IEC 61788-5:2000
EN 61788-12:2013 超导性 第12部分：基质与超导体体积比测量 Nb3Sn 复合超导线材的铜与非铜体积比
EN 61788-19:2014 超导性 第19部分：机械性能测量 反应后的 Nb3Sn 复合超导体的室温拉伸试验
EN 61788-9:2005 超导性.第9部分:成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷波流量密度
EN 61788-21:2015 超导性 第21部分：超导线 实用超导线的测试方法 一般特性和指南
EN 61788-7:2006 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
EN 61788-2:2007 超导性.第2部分:临界电流测量.Nb3Sn复合超导体的直流临界电流
EN 61788-11:2011 超导性.第11部分:剩余电阻率测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
EN 61788-4:2011 超导性.第4部分:剩余电阻率测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
EN 61788-4:2016 超导性.第4部分:剩余电阻率测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
EN 61788-1:2007 超导性.第1部分:临界电流测量.铜/铌-钛复合超导体的直流临界电流
EN IEC 61788-7:2020 超导性 第7部分：电子特性测量 微波频率下高温超导体的表面电阻
EN 61788-6:2011 超导性 第6部分：机械性能测量 Cu/Nb-Ti 复合超导体的室温拉伸试验
EN IEC 61788-26:2020 超导性 第26部分：临界电流测量 RE-Ba-Cu-O 复合超导体的直流临界电流
EN IEC 61788-4:2020 超导性 第4部分：残余电阻比测量 Nb-Ti 和 Nb3Sn 复合超导体的残余电阻比
EN 62417:2010 半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)
EN 61788-16:2013 超导性 第16部分：电子特性测量 微波频率下超导体的功率相关表面电阻
EN 61788-10:2006 超导性.第10部分:临界温度测量.电阻法测定复合超导体的临界温度 IEC 61788-10-2006
EN 61788-22-1:2017 超导性 第 22-1 部分：超导电子设备 传感器和检测器的通用规范
EN 61788-3:2006 超导性.第3部分:临界电流测量.Ag护套的Bi-2212和Bi-2223氧化超导体的直流临界电流 IEC 61788-3:2006
EN 61788-18:2013 超导性 第18部分：机械性能测量 Ag 和/或 Ag 合金包覆的 Bi-2223 和 Bi-2212 复合超导体的室温拉伸试验
立陶宛标准局，关于超导体 应用的标准
LST EN 61788-5-2002 超导 第5部分：基质与超导体体积比测量 Cu/Nb-Ti复合超导体的铜与超导体体积比（IEC 61788-5:2000）
LST EN 61788-12-2014 超导性. 第12部分: 超导体基体的体积比测量. Nb3Sn复合超导导线的铜与非铜的体积比(IEC 61788-12-2013)
LST EN 61788-12-2003 超导 第12部分：基质与超导体体积比测量 Nb3Sn复合超导线材的铜与非铜体积比（IEC 61788-12:2002）
LST EN 61788-9-2005 超导 第9部分：大块高温超导体的测量 大颗粒氧化物超导体的俘获磁通密度（IEC 61788-9:2005）
LST EN 61788-7-2007 超导性 第7部分：电子特性测量 微波频率下超导体的表面电阻（IEC 61788-7:2006）
LST EN 61788-2-2007 超导性 第2部分：临界电流测量 Nb3Sn 复合超导体的直流临界电流（IEC 61788-2:2006）
LST EN 61788-11-2011 超导性 第11部分：剩余电阻率测量 Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率（IEC 61788-11:2011）
LST EN 61788-1-2007 超导性 第1部分：临界电流测量 Nb-Ti 复合超导体的直流临界电流（IEC 61788-1:2006）
LST EN 61788-4-2011 超导性 第4部分：残余电阻率测量 Nb-Ti复合超导体的残余电阻率（IEC 61788-4:2011）
LST EN 61788-6-2011 超导性 第6部分：力学性能测量 Cu/Nb-Ti复合超导体的室温拉伸试验（IEC 61788-6:2011）
LST EN 61788-10-2007 超导性 第10部分：临界温度测量 通过电阻法测量复合超导体的临界温度（IEC 61788-10:2006）
LST EN 61788-15-2012 超导性 第15部分：电子特性测量 微波频率下超导体薄膜的本征表面阻抗（IEC 61788-15:2011）
LST ETS 300 714 Leid.1-2006 终端设备（TE）；用于操作多媒体和超媒体信息对象的应用程序编程接口（API）
LST EN 13604-2003 铜和铜合金 用于电子管、半导体器件和真空应用的高导电铜产品
LST EN 50182+AC-2002 架空线用导体 圆线同心绞合导体
LST EN 50182+AC-2002/AC-2005 架空线用导体圆线同心绞合导体
法国标准化协会，关于超导体 应用的标准
NF C31-888-5*NF EN 61788-5:2014 超导性. 第5部分: 超导或体积比测量矩阵. Cu/Nb-Ti复合超导线材的铜与超导体体积比
NF EN 61788-19:2014 超导性 第19部分：机械性能的测量 反应 Nb0Sn 复合超导体的室温拉伸试验
NF C31-888-19*NF EN 61788-19:2014 超导性 第19部分：机械性能测量 起反应的Nb0Sn复合超导体的室温拉伸试验
NF C31-888-9*NF EN 61788-9:2005 超导性.第9部分:成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷磁通量密度
NF C31-888-12:2003 超导性.第12部分:基体与超导体体积比的测量.铌<下标3>锡复合超导金属线的铜对非铜体积之比
NF C31-888-12*NF EN 61788-12:2014 超导性 第12部分：基体与超导体体积比的测量 铌<下标3>锡复合超导金属线的铜对非铜体积之比
NF C31-888-6:2006 超导体.第6部分:机械性能测量.铜/铌-钛复合超导体室温拉伸试验
NF C31-888-1*NF EN 61788-1:2007 超导体.第1部分:临界电流测量.铌-钛复合超导体的临界直流电流
NF C31-888-10*NF EN 61788-10:2006 超导性 第10部分：临界温度测量 用电阻法测量复合超导体的临界温度
NF C31-888-21*NF EN 61788-21:2015 超导性 第21部分：超导线 实用超导线的测试方法 一般特性和指南
NF C31-888-23*NF EN IEC 61788-23:2018 超导性 第23部分：残余电阻比测量 Nb 超导体的残余电阻比
NF C31-888-14*NF EN 61788-14:2014 超导性 第14部分：超导电力装置 设计用于电力超导设备的电流导线特性试验的通用要求
NF C31-888-2:2001 超导性.第2部分:临界电流测量.Nb3Sn 复合超导体的直流临界电流
NF C31-888-2*NF EN 61788-2:2007 超导性 第2部分：临界电流测量 Nb3Sn 复合超导体直流（DC）临界电流
NF C31-888-7*NF EN IEC 61788-7:2020 超导性 第7部分：电子特性测量 微波频率下超导体的表面电阻
NF C31-888-7*NF EN 61788-7:2006 超导性 第7部分：电子特性测量 微波频率下超导体的表面电阻
NF C31-888-23*NF EN IEC 61788-23:2021 超导性 第23部分：残余电阻比测量 腔级 Nb 超导体的残余电阻比
NF C31-888-7:2003 超导性.第7部分:电子特性的测量.微波频率下超导体的表面电阻
NF C31-888-4:2012 超导性.第4部分:剩余电阻率测量.铌-钛复合超导体的剩余电阻率
NF C31-888-1:2002 超导电性.第1部分:临界电流测量.铜/铌-钛复合超导体的直流临界电流
NF C31-888-4*NF EN IEC 61788-4:2020 超导性 第4部分：残余电阻比测量 Nb-Ti 和 Nb3Sn 复合超导体的残余电阻比
NF EN 61788-22-1:2017 超导 第22-1部分：超导电子装置 捕获和检测的通用规范
NF C31-888-6*NF EN 61788-6:2012 超导性 第6部分：机械性能测试 室温下Cu/ Nb-Ti复合物超导体的张力试验
NF C31-888-4*NF EN 61788-4:2016 超导电性.第4部分:残余电阻比测量.Nb-Ti与Nb3Sn复合超导体的残余电阻比
NF C31-888-13*NF EN 61788-13:2013 超导性 第13部分：交流电损耗测量 多芯复合超导体磁滞损耗的磁强计法
NF C31-888-16*NF EN 61788-16:2013 超导性 第16部分：电气特性测量 微波频率下超导体的功率依赖表面电阻
NF C31-888-11:2003 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.铌<下标3>锡复合超导体的剩余电阻率
NF C31-888-11:2011 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.铌<下标3>锡复合超导体的剩余电阻率
NF C96-811/A3:1974 半导体专业应用二极管一般文章表
NF C96-811/A4:1974 半导体专业应用二极管一般文章表
NF C31-888-3:2006 超导性.第3部分:临界电流测量.Bi-2212和Bi-2223氧化物银包套超导体的直流临界电流
NF C32-015:1985 绝缘电缆和软线用镀镍铝合金导体规定检查用导体和相应试验特性的指南
NF C31-888-10:2003 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法测量铌-钛、铌<下标3>锡和铋-系统氧化物复合超导体的临界温度
NF Z75-005-5*NF ISO/IEC 13522-5:1998 信息技术 多媒体和超媒体规则 第5部分：基础水平互相作用应用的支持
NF C31-888-3*NF EN 61788-3:2007 超导电性.第3部分:临界电流测量.覆盖有Bi2212和银和银合金Bi2223氧化超导体的DC临界电流
NF C74-337:1987 医用电气设备.诊断用超声波设备超声波设备质量跟进指导
NF C80-203*NF EN 62417:2010 半导体器件.金属氧化物半导体场效应管(MOSFETs)移动离子试验
NF C31-888-18*NF EN 61788-18:2014 超导性. 第18部分: 机械性能测量. Ag和/或Ag合金护套Bi-2223和Bi-2212复合超导体的室温拉伸试验
国家质检总局，关于超导体 应用的标准
GB/T 22587-2008 基体与超导体体积比测量.Cu/Nb-Ti复合超导体铜-超[体积]比的测量
GB/T 31522-2015 基体与超导体体积比测试 Nb3Sn复合超导线铜与非铜体积比
GB/T 22587-2017 基体与超导体体积比测量 铜-铌钛(Cu/Nb-Ti)复合超导线铜-超［体积］比的测量
GB/T 3859.2-1993 半导体变流器 应用导则
GB/T 25897-2010 超导电性：铌-钛复合超导体剩余电阻比测定
GB/T 21115-2007(英文版) 体氧化物超导体悬浮力的测量
GB 9816-1998 热熔断体的要求和应用导则
GB 9816-2008 热熔断体的要求和应用导则
GB/T 21115-2007 块状氧化物超导体磁浮力的测量
GB/T 17950-2000 半导体变流器 第6部分:使用熔断器保护半导体变流器防止过电流的应用导则
GB/T 9816.1-2023 热熔断体 第1部分：要求和应用导则
GB 9816.1-2013 热熔断体 第1部分:要求和应用导则
GB/T 21546-2008 铌钛复合超导体的直流临界电流测量
GB/T 3859.2-2013 半导体变流器 通用要求和电网换相变流器 第1-2部分：应用导则
GB/T 31780-2015 临界温度测量 电阻法测复合超导体临界温度
GB/T 17193-1997 电气安装用超重荷型刚性钢导管
GB/T 25080-2010 超导用Nb-Ti合金棒坯、粗棒和细棒
GB/T 34590.11-2022 道路车辆 功能安全 第11部分：半导体应用指南
GB/T 5616-2014 无损检测 应用导则
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，关于超导体 应用的标准
EN 61788-12:2002 超导第12部分：基体与超导体体积比测量-Nb3Sn复合超导线材的铜与非铜体积比
EN IEC 61788-23:2018 超导性 第23部分：残余电阻比测量 Nb 超导体的残余电阻比
EN 61788-7:2002 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
EN 61788-11:2003 超导性.第11部分:剩余电阻率测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
EN 61788-2:1999 超导性.第2部分:临界电流测量.Nb3Sn复合超导体的直流临界电流
EN 61788-4:2001 超导性.第4部分:剩余电阻率测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
EN 61788-4:2007 超导性.第4部分:剩余电阻率测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
EN 61788-1:1998 超导性.第1部分:临界电流测量.铜/铌-钛复合超导体的直流临界电流
EN 61788-10:2002 超导性.第10部分:临界温度测量.电阻法测定复合超导体的临界温度
EN 61788-6:2008 超导性 第6部分：机械性能测量 Cu/Nb-Ti 复合超导体的室温拉伸试验
EN 61788-6:2001 超导性第6部分：力学性能测量-Cu/Nb-Ti复合超导体的室温拉伸试验
EN 61788-15:2011 超导性 第15部分：电子特性测量 微波频率下超导体薄膜的本征表面阻抗
EN 61788-3:2001 超导性.第3部分:临界电流测量.Ag护套的Bi-2212和Bi-2223氧化超导体的直流临界电流
中国团体标准，关于超导体 应用的标准
T/HEBQIA 073-2022 直拉单晶硅用超导磁体
T/CEC 702-2022 架空配电线路超声波现场检测应用导则
T/ZZB 2283-2021 半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉
T/CNIA 0143-2022 半导体材料痕量杂质分析用超纯树脂器皿
T/GDKJ 0004-2022 超声波经络理疗应用指南
T/SMA 0017-2021 电力杆塔用拉线电磁超声导波检测技术导则
T/CASAS 006-2020 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范
T/NTAS 011-2022 超导磁混凝饮用水处理成套装备
T/ANS 001-2020 磁约束核聚变装置用大截面环形超导磁体对地绝缘包绕工艺
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于超导体 应用的标准
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GB/T 9816.1-2013 热熔断体 第1部分：要求和应用导则
GB/T 35852-2018 飞机通用电缆和航空航天应用的导体尺寸和特性
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DIN EN 61788-12:2014 超导性. 第12部分:超导体基体的体积比测量. Nb3Sn复合超导导线的铜与非铜的体积比 (IEC 61788-12-2013); 德文版本EN 61788-12-2013
DIN EN 61788-9:2006 超导性.第9部分:成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷波流量密度(IEC 61788-9-2005).德文版本EN 61788-9-2005
DIN EN 61788-10:2007 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法测量复合超导体的临界温度(IEC 61788-10-2006)
DIN EN 61788-11:2012 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
DIN EN 61788-19:2014 超导性. 第19部分: 机械性能测量. 起反应的Nb3Sn复合超导体的室温拉伸试验 (IEC 61788-19-2013); 德文版本EN 61788-19-2014
DIN EN 61788-4:2012 超导性.第4部分:剩余电阻率的测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
DIN EN 61788-6:2012 超导性.第6部分:机械性能测量.Cu/Nb-Ti复合超导体的室温拉伸试验
DIN EN 61788-4:2008 超导性.第4部分:剩余电阻率的测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
DIN EN 61788-7:2007 超导性.第7部分:电子特征测量.微波频率下超导体的表面电阻 (IEC 61788-7-2002)
DIN EN 61788-2:2007 超导性.第2部分:临界温度测量.铌(指数3)-锡复合超导体的临界直流电流
DIN EN 61788-1:2007 超导性.第1部分:临界温度测量.铜/铌-钛复合超导体的直流临界电流(IEC 61788-1:2006)
DIN EN 61788-3:2007 超导性.第3部分:临界电流测量.银和/或银套Bi-2122 Bi2123氧化超导体的DC临界电流
DIN EN 61788-21:2016 超导性.第21部分:超导线材.实用超导线材的试验方法.一般特性和指南(IEC 61788-21-2015);德文版本EN 61788-21-2015
DIN ETS 300714:1998 终端设备(TE).多媒体和超媒体信息目标操作的应用编程接口(API)
DIN EN 62417:2010-12 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的移动离子测试
DIN EN 61788-14:2011 超导性.第14部分:超导电力装置.电力超导装置用电流引线设计性能试验的一般要求(IEC 61788-14-2010);德文版本EN 61788-14-2010
DIN 89300:2016 带有地幔端子的连接插入物. 16 A, 500 V, 用于不超过2,5 mm2的导体
DIN EN IEC 61788-7:2021 超导. 第7部分: 电子特性测量. 微波频率下高温超导体的表面电阻(IEC 61788-7-2020); 德文版 EN IEC 61788-7-2020
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DB34/T 2844.1-2017 大型低温超导磁体结构部件设计准则 第1部分：应力术语
DB34/T 3571-2019 大型超导磁体绝缘层电测试方法
DB34/T 3572-2019 大型超导磁体真空压力浸渍技术规程
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SAE AS6294/3-2019 空间应用中塑料封装分立半导体的要求
SAE J2551-2010 用于液态导体的碳铝合金钢管应用件推荐操作规程
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ASTM B884-11(2019) 用于超导应用的铌 - 钛合金坯料 棒和棒的标准规范
ASTM D5127-99 电子学和半导体工业用超纯水的标准指南
ASTM D5127-12 电子学和半导体工业用超纯水的标准指南
ASTM D5127-13 电子学和半导体工业用超纯水的标准指南
ASTM E1747-95(2000) 超临界流体应用中二氧化碳纯度标准指南
ASTM E1747-95 超临界流体应用中二氧化碳纯度标准指南
ASTM E1747-95(2005) 超临界流体应用中二氧化碳纯度标准指南
ASTM E1747-95(2011) 超临界流体应用中二氧化碳纯度标准指南
ASTM D5127-13(2018) 电子和半导体行业超纯水标准指南
ASTM B957/B957M-19 用于架空电导体的超高强度和超高强度镀锌（镀锌）钢芯线的标准规范
ASTM B957/B957M-22 用于架空电导体的超高强度和超高强度镀锌（镀锌）钢芯线的标准规范
ASTM E1747-95(2019) 超临界流体应用中二氧化碳纯度的标准指南
ASTM F1271-90(1995)e1 用于海上油箱液体超压保护应用的溢流阀的标准规范
ASTM F1271-90(2018) 用于海上油箱液体超压保护应用的溢流阀的标准规范
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ISO 18257:2016 航空航天系统. 航空航天应用的半导体集成应用. 设计要求
ISO/IEC 13522-6:1998 信息技术 多媒体和超媒体信息编码 第6部分:支持增强交互应用
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GOST 19656.0-1974 超高频半导体二极管.电参数测量方法.总则
GOST 19656.14-1979 超高频开关半导体二极管.临界频率测定方法
GOST 19656.12-1976 超高频混频半导体二极管.输入阻抗测定方法
GOST 19656.4-1974 超高频混频半导体二极管.变频损耗测量方法
GOST 19656.13-1976 超高频检波半导体二级管.正切灵敏度测定方法
GOST 19656.16-1986 超高频半导体限幅二极管.泄漏功率的测量方法
GOST 19656.7-1974 超高频检波半导体二极管.电流灵敏度测量方法
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GJB/Z 41.4-1993 军用半导体分立器件系列型谱 场效应晶体管
GJB 33/14A-2021 半导体分立器件3DG44 型硅超高频低噪声晶体管详细规范
GJB 33A/14-2003 半导体分立器件 3DG44 型硅超高频低噪声晶体管详细规范
JP-JEITA，关于超导体 应用的标准
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NEMA WC 67-2005 用于电气和电子应用中非绝缘导体标准
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PN-EN 61788-22-1-2018-03 P 超导性 第 22-1 部分：超导电子设备 传感器和检测器的通用规范
PN-EN IEC 61788-26-2021-03 E 超导性 第26部分：临界电流测量 RE-Ba-Cu-O 复合超导体的直流临界电流（IEC 61788-26:2020）
PN-EN IEC 61788-4-2020-12 E 超导性 第4部分：残余电阻比测量 Nb-Ti和Nb3Sn复合超导体的残余电阻比（IEC 61788-4:2020）
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ETS 300 714-1997 终端设备（TE）；用于操作多媒体和超媒体信息对象的应用程序编程接口（API）
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ZA-SANS，关于超导体 应用的标准
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SJ 1976-1981 CS3型低频场效应半导体管
SJ 1977-1981 CS4型高频场效应半导体管
SJ 1978-1981 CS5型高频场效应半导体管
SJ 1979-1981 CS6型高频场效应半导体管
SJ 1980-1981 CS7型高频场效应半导体管
SJ 1981-1981 CS8型高频场效应半导体管
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SJ 50033/159-2002 半导体分立器件.3DG142型硅超高频低噪声晶体管.详细规范
SJ 50033/160-2002 半导体分立器件.3DG122型硅超高频小功率晶体管.详细规范
SJ 50033/158-2002 半导体分立器件.3DG44型硅超高频低噪声晶体管.详细规范
SJ 50033/154-2002 半导体分立器件.3DG251型硅超高频低噪声晶体管.详细规范
SJ 50033/75-1995 半导体分立器件.3DG135型硅超高频小功率晶体管详细规范
SJ 1990-1981 CS20型低频场效应半导体对管
SJ 1991-1981 CS21型低频场效应半导体对管
SJ 1992-1981 CS22型低频场效应半导体对管
SJ 1989-1981 CS19型低频场效应半导体对管
SJ/T 11874-2022 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序
SJ/T 11875-2022 电动汽车用半导体集成电路应力试验程序
SJ 20175-1992 半导体分立器件3DG918型NPN硅超高频小功率晶体管详细规范
FI-SFS，关于超导体 应用的标准
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UNE 60312:2015 用于在入口压力不超过 16 巴的情况下分配气体供应的气体压力调节站
欧洲电信标准协会，关于超导体 应用的标准
ETSI ETS 300 714-1997 终端设备(TE).处理多媒体和超媒体信息对象的应用程序接口(API)
ETSI PRETS 300 714-1997 终端设备(TE).处理多媒体和超媒体信息对象的应用编程接口(API)
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CN-QIYE，关于超导体 应用的标准
Q/GDW 1896-2013 SF6气体分解产物检测技术现场应用导则
重庆市地方标准，关于超导体 应用的标准
DB50/T 930-2019 二维码激光蚀刻本体标识技术应用导则
行业标准-商业，关于超导体 应用的标准
SB/T 10621-2011 超市鲜活农产品供应商评价指标体系
AT-ON，关于超导体 应用的标准
ONORM S 2202-1997 堆肥应用指导
欧洲标准化委员会，关于超导体 应用的标准
CEN EN 13604-2002 铜和铜合金 用于电子管、半导体器件和真空应用的高导电铜产品
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YU-JUS，关于超导体 应用的标准
JUS N.R1.353-1979 半导体装置的字母符号．双极场效应和场效应晶体管
JUS N.R1.323-1979 半导体装置的术语及定义．双极场效应及场效应晶体管
美国电子元器件、组件及材料协会，关于超导体 应用的标准
ECA 401-1973 电容器功率半导体应用的纸张,纸/膜,膜介质
欧洲电工电子元器件标准，关于超导体 应用的标准
CECC MUAHAG VOL 0 IS 2-1990 首选产品列表.介绍(En, Fr, Ge)超微半导体 (En, Fr, Ge)
ECIA - Electronic Components Industry Association，关于超导体 应用的标准
401-1973 用于功率半导体应用的纸 纸/薄膜 薄膜介电电容器
美国电子电路和电子互连行业协会，关于超导体 应用的标准
IPC J-STD-026-1999 倒装芯片应用的半导体设计标准IPC/EIA J-STD-026
TIA - Telecommunications Industry Association，关于超导体 应用的标准
J-STD-026-1999 倒装芯片应用的半导体设计标准（IPC/EIA J-STD-026）
HU-MSZT，关于超导体 应用的标准
MSZ MI 4730/1-1980 公差和衔接体系建立和应用的指导原则．衔接体系的建立
