本专题涉及罐采样原理的标准有4条。
国际标准分类中,罐采样原理涉及到集成电路、微电子学、光学和光学测量、光学设备。
在中国标准分类中,罐采样原理涉及到半导体集成电路、光学仪器综合。
国家质检总局,关于罐采样原理的标准
GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
,关于罐采样原理的标准
KS B ISO 15529-2011(2016) 光学和光子学 - 光学传递函数 - 采样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
德国标准化学会,关于罐采样原理的标准
DIN ISO 15529-2010 光学和光子学.光学传递函数.采样成像系统调制传递函数(MTF)的测量原理(ISO 15529-2010)
国际标准化组织,关于罐采样原理的标准
ISO 15529:2010 光学与光子学——光学传递函数——采样成像系统调制传递函数(MTF)的测量原理





