本专题涉及光谱位移的标准有15条。
国际标准分类中，光谱位移涉及到集成电路、微电子学。
在中国标准分类中，光谱位移涉及到半导体二极管、半导体三极管。
美国材料与试验协会，关于光谱位移的标准
ASTM E1855-20 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
ASTM E1855-15 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
ASTM E1855-2015 作为中子光谱传感器和位移破坏性监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
ASTM E1855-10 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
ASTM E1855-2010 使用2N2222A硅双极晶体管作中子光谱传感器和位移损坏监控器的标准试验方法
ASTM E1855-05 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
ASTM E1855-05e1 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
ASTM E1855-2005e1 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法
ASTM E1855-2005 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法
ASTM E1855-04e1 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
ASTM E1855-04 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
ASTM E1855-2004 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
ASTM E1855-2004e1 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
ASTM E1855-96 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
ASTM E1855-1996 作为中子光谱传感器和位移破坏性监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
