本专题涉及测厚仪几百的的标准有201条。
国际标准分类中，测厚仪几百的涉及到涂料和清漆、长度和角度测量、无损检测、建筑材料、计量学和测量综合、表面处理和镀涂、纺织产品、太阳能工程、文娱活动设备、机床、分析化学、谷物、豆类及其制品、机器、装置、设备的特性和设计、词汇、辐射测量、医疗设备、陶瓷、道路工程、塑料、光学设备、废物。
在中国标准分类中，测厚仪几百的涉及到涂料基础标准与通用方法、材料防护、基础标准与通用方法、金属无损检验方法、混凝土、集料、灰浆、砂浆、毯类、太阳能、量具与量仪、、光学计量仪器、工业自动化与控制装置综合、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、通用核仪器、长度计量、光学仪器综合、特种陶瓷、公路工程、合成树脂、塑料、流量与物位仪表、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、筑路材料、涂料、卫生、安全、劳动保护、放射性物质与放射强度分析测试方法、数学、信息处理技术综合、计量综合。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于测厚仪几百的的标准
GB/T 37361-2019 漆膜厚度的测定 超声波测厚仪法
GB/T 18779.5-2020 产品几何技术规范（GPS） 工件与测量设备的测量检验 第5部分：指示式测量仪器的检验不确定度
GB/T 18779.6-2020 产品几何技术规范（GPS） 工件与测量设备的测量检验 第6部分：仪器和工件接受/拒收的通用判定规则
法国标准化协会，关于测厚仪几百的的标准
XP T30-129*XP CEN ISO/TS 19397:2018 使用超声波测厚仪测定涂层的膜厚
NF A91-114:1995 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光度仪法
NF P18-622-5/A1*NF EN 933-5/A1:2005 集料的几何特性试验 第5部分：粗集料颗粒表面碎裂百分率测定
FD ISO/TR 230-11:2019 机床测试规范第11部分：与机床几何测试兼容的测量仪器
NF EN 933-7:1998 确定集料几何特性的试验 第7部分：贝壳元素含量的测定 砾石中贝壳的百分比
NF EN ISO 18452:2016 技术陶瓷 使用接触式轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度
NF E05-059-1:2003 几何产品规范(GPS).轮廓测量仪器的验收试验及再验证试验.第1部分:表面结构测量仪器
NF EN ISO 7971-2:2019 谷物 密度（称为每百升质量）的测定 第2部分：将测量仪器与国际标准连接的方法
NF E05-056:2000 几何产品规范(GPS).表面结构:轮廓检测法.接触（触针）仪器的校准
NF V03-719-2:2009 谷物.容积密度"百升质量"的测定.第2部分:通过参考国标器械测量仪器用描绘法
NF E05-052*NF EN ISO 3274:1998 几何产品规范（GPS）表面结构：轮廓检测法 触点（尖针）仪器的一般特性
NF A91-117*NF EN ISO 3868:1995 金属和其他无机物涂层 涂层厚度的测量 菲索（Fizeau）多光束干涉仪法
NF E11-057:2011 几何产品规范(GPS):长度测量仪器中带径向伸缩杆的机械千分表的接收与检验.
NF E11-018:1996 产品几何量技术规范(GPS).长度测量仪表.螺纹测量用校准样品.带凹槽的塞规和环规
NF E11-057:2016 几何产品规范（GPS）-长度测量仪器-带有径向可伸缩杆的机械千分表的接收和验证
NF E10-201-5*NF EN ISO 14253-5:2015 几何产品规范（GPS） 通过测量工件和测量设备进行检验 第5部分：指示测量仪器的验证测试的不确定度
NF A92-810*NF EN ISO 18452:2016 精细陶瓷（高级陶瓷、高级技术陶瓷）-用接触探针轮廓仪测定陶瓷膜的厚度
NF M60-302-1:2006 核能.核废料包装件的放射性测量.第1部分:平面几何集合模型的高分辨率γ谱仪
NF E11-150-10:2016 几何产品规范（GPS） 坐标测量机（CMS）的验收和重新验证测试 第10部分：用于测量点对点距离的激光跟踪仪
NF A92-801-1:2003 先进工艺陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第1部分:用接触式探针轮廓测定仪测定涂层厚度
FD E10-201-6*FD ISO/TR 14253-6:2013 几何产品规范（GPS） 通过测量工件和测量设备进行检验 第6部分：仪器和工件验收和拒收的通用判定规则
CEN - European Committee for Standardization，关于测厚仪几百的的标准
CEN ISO/TS 19397:2018 使用超声波测厚仪测定涂层的膜厚
EN ISO 7971-2:2019 谷物.容积密度,称为每百升质量的测定.第2部分:通过参照国际标准仪器的测量仪器可追综性方法
英国标准学会，关于测厚仪几百的的标准
PD CEN ISO/TS 19397:2018 使用超声波测厚仪测定涂层的膜厚
BS EN 933-5:1998 集料的几何特性试验.粗集料颗粒表面碎裂百分率测定
BS EN ISO 4518:1980 金属覆层.覆层厚度的测量.轮廓仪法
PD ISO/TR 230-11:2018 机床测试代码 适用于机床几何测试的测量仪器
BS IEC 61336:1996 核仪器仪表 利用电离辐射的厚度测量系统 定义和测试方法
BS EN 933-7:1998 集料的几何特性试验.动物碎壳含量的测定.粗集料中动物碎壳的百分率
BS EN 933-5:2022 跟踪更改 骨料几何特性的测试 粗骨料和全天然骨料中破碎颗粒百分比的测定
BS EN ISO 7971-2:2009 谷物.容积密度,称为每百升质量的测定.通过参照国际标准仪器的测量仪器可追综性方法
20/30424367 DC BS EN 933-5 骨料几何特性的测试 第5部分 粗骨料和全天然骨料中破碎颗粒百分比的测定
BS IEC 61336:1998 核仪器装置.利用电离辐射的厚度测量系统.定义和试验方法
BS DD ISO/TS 23165:2007 产品几何量技术规范(GPS).评估坐标测量仪(CMM)试验不确定度的指南
BS EN ISO 25178-701:2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.触点(触针)仪器的测量和校准标准
BS EN ISO 14253-5:2015 几何产品技术规格 (GPS). 工件和测量设备的测量检查. 指示测量仪器检定试验中的不确定性
BS EN ISO 25178-700:2023 产品几何规格 (GPS) 表面纹理：面积 面积形貌测量仪器的校准、调整和验证
BS EN ISO 10360-10:2021 跟踪更改 产品几何规格(GPS)坐标测量系统(CMS)的验收和重新验证测试 激光跟踪仪
BS EN 1071-1:2003 高级工业陶瓷.陶瓷覆层的试验方法.用触针式轮廓测定仪测定陶瓷覆层厚度
BS EN ISO 7971-2:2019 跟踪更改 谷物 堆积密度的测定 称为每百升的质量 参照国际标准仪器计量器具溯源方法
BS EN ISO 10360-10:2016 几何产品技术规格 (GPS). 坐标测量系统 (CMS) 的验收试验和复检试验. 用于测量点到点距离的激光跟踪仪
19/30386752 DC BS EN ISO 10360-10 产品几何规格(GPS)坐标测量系统(CMS)的验收和重新验证测试 第10部分：用于测量点对点距离的激光跟踪仪
20/30404177 DC BS EN ISO 25178-700 产品几何规格(GPS)表面纹理：面积 第700部分：面积形貌测量仪器的校准、调整和验证
AENOR，关于测厚仪几百的的标准
UNE 7156:1960 沥青混合料中厚颗粒百分比的测定
UNE-EN 933-7:1999 聚集体的几何特性测试 第7部分：贝壳含量的测定 粗骨料中贝壳的百分比
UNE-EN 933-5:1999 测试骨料的几何特性 第5部分：粗聚集颗粒中压碎和破碎表面百分比的测定
UNE-EN 933-5:1999/A1:2005 骨料几何特性试验 第5部分：粗骨料颗粒中压碎和破碎表面百分比的测定
UNE 82302:1992 用于测量和评估表面光洁度几何参数的仪器和设备的分类
UNE-EN ISO 7971-2:2010 谷物 堆积密度的测定，称为每百升质量 第2部分：通过参考国际标准仪器（ISO 7971-2:2009）测量仪器的溯源性方法
UNE-EN ISO 25178-701:2011 几何产品规范（GPS） 表面纹理：平面 第701部分：接触式（手写笔）仪器的校准和测量标准（ISO 25178-701:2010）
VN-TCVN，关于测厚仪几百的的标准
TCVN 5241-1990 缝纫线.测厚仪的直径测定方法
TCVN 4996-2-2011 谷物.体积密度,亦称每百升质量的测定.第2部分:通过参照国际标准仪表测量仪表用可追踪性方法
美国保护涂层协会，关于测厚仪几百的的标准
SSPC PA 9-2008 使用超声波测厚仪测量水泥基体上的干涂层厚度
SSPC - The Society for Protective Coatings，关于测厚仪几百的的标准
PA 9-2008 使用超声波测厚仪测量水泥基体上的干涂层厚度
PA GUIDE 9-2008 使用超声波测厚仪测量水泥基体上的干涂层厚度
德国标准化学会，关于测厚仪几百的的标准
DIN 50933:2015 涂层厚度的测量. 采用触针式仪器的差值测量对涂层厚度的测量
DIN 50933:2015-08 涂层厚度的测量 使用触针式仪器通过差值测量来测量涂层的厚度
DIN IEC 61336:1999-05 核仪器仪表 利用电离辐射的厚度测量系统 定义和测试方法
DIN V VDE V 0126-18-2-2:2007 太阳能硅片.第2-2部分:硅片几何尺寸的测量.厚度的变化
DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007 太阳能硅片.第2-1部分:硅片几何尺寸的测量.硅片厚度
DIN 4000-166:2010 特征表格设计.第166部分:几何工程量的手工测量仪器
DIN IEC 61336:1999 核测量仪器.使用电离辐射的厚度测量系统.定义和试验方法
DIN 2271:2016 产品几何技术规范(GPS). 气动长度测量. 仪器的特性, 要求, 试验
DIN EN ISO 7971-2:2019-06 谷物 堆积密度（称为每百升质量）的测定 第2部分：参考国际标准仪器（ISO 7971-2:2019）测量仪器的可追溯性方法
DIN 2271-3:2000 几何参数的验证.气动长度测量(气动量仪).第3部分:高压范围用仪器的特性.要求和检验
DIN EN ISO 7971-2:2019 谷物 堆积密度的测定，称为每百升质量 第2部分：通过参考国际标准仪器（ISO 7971-2:2019）测量仪器的溯源性方法
DIN 879-3:1999 几何参数验证.线性测量用刻度指示仪.第3部分:带机械指示和电气限定触点的指示仪
DIN ISO/TS 23165:2008 产品几何量技术规范(GPS).坐标测量仪(CMM)试验不确定度的评估指南
PAS 1022-2004 检测材料及介电材料性质以及用椭偏仪测量薄膜层厚度的参考程序
DIN EN ISO 14253-5:2016-12 产品几何规范（GPS）-工件和测量设备的测量检验-第5部分：指示测量仪器验证测试的不确定度
DIN EN 933-5:2023-01 骨料几何性能试验第5部分：粗骨料和全天然骨料中破碎颗粒百分比的测定德文版 EN 933-5:2022
DIN EN 1071-1:2003 高级工业陶瓷.陶瓷覆层的试验方法.第1部分:用接触式探针轮廓测定仪测定覆层厚度
DIN EN ISO 18452:2016-09 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 用接触式探针轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度
DIN EN ISO 25178-604:2013-12 几何产品规范(GPS)表面纹理：面积 第604部分：非接触式（相干扫描干涉测量）仪器的标称特性
DIN EN ISO 25178-700:2020 几何产品规范（GPS） 表面纹理：区域 第700部分：区域形貌测量仪器的校准、调整和验证（ISO/DIS 25178-700:2020）
美国机械工程师协会，关于测厚仪几百的的标准
ASME B1.25-2019 螺纹测厚仪校准中的测量不确定因素
日本工业标准调查会，关于测厚仪几百的的标准
JIS Z 2355-2:2016 无损检测. 超声测厚. 第2部分: 评估超声测厚仪性能特征的方法
未注明发布机构，关于测厚仪几百的的标准
NF EN 933-5:2022 确定集料几何特征的试验 第5部分：砾石和天然砾石破碎表面百分比的测定
RU-GOST R，关于测厚仪几百的的标准
GOST R 55613-2013 无损检测. 覆盖测厚仪的参考测量. 通用原则
GOST R 8.862-2013 确保测量一致性的国家系统. 超声波测厚仪. 验证方法
GOST 8.171-1975 国家测量一致性保证体制.辐射测厚仪表面密度的实际措施.通用规范
CZ-CSN，关于测厚仪几百的的标准
CSN ISO 1879:1993 用轮廓法测量表面厚度的仪器．术语
CSN 25 2300-1972 仪器设备的分类或表面光洁度的几何参数测量
CSN ISO 1880:1993 用轮廓法测量表面厚度的仪器．轮廓渐进转换的接触（触针）式仪器．轮廓记录仪
CSN ISO 3274:1994 用轮廓法测量表面厚度的仪器．轮廓顺序转换的接触（触针）式仪器．接触式轮廓仪，系统M
韩国科技标准局，关于测厚仪几百的的标准
KS D ISO 4518-2012(2017) 金属涂层 - 涂层厚度的测量 - 轮廓仪法
KS D ISO 3497-2002(2017) 金属涂层 - 涂层厚度的测量 - X射线光谱仪的方法
KS D ISO 4519:2009 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光法度轮廓仪法
KS D ISO 3868:2002 金属镀层和其他无机物涂层.涂层厚度的测量.菲索(Fizeau)多光束干涉仪法
KS B ISO 15530-3:2005 产品几何形状规范(GPS).坐标测量仪(CMM).测量结果不确定性测定法.第3部分:校准工件的使用或测量标准
KS B ISO 15530-3:2014 产品几何形状规范(GPS).坐标测量仪(CMM).测量结果不确定性测定法.第3部分:校准工件的使用或测量标准
KS B ISO 15530-3:2015 产品几何形状规范（GPS） 坐标测量仪（CMM） 测量结果不确定性测定法 第3部分：校准工件的使用或测量标准
KS B ISO 10360-4:2004 产品几何技术规范(GPS).坐标式测量设备(CMM)的验收和再鉴定试验.第4部分:用于扫描测量模式的坐标式测量仪器
KS B ISO 10360-4:2014 产品几何技术规范(GPS).坐标式测量设备(CMM)的验收和再鉴定试验.第4部分:用于扫描测量模式的坐标式测量仪器
KS B ISO 10360-10:2017 产品几何技术规范（GPS）《坐标测量系统（CMS）的验收和再验证试验》第10部分：点对点距离测量用激光跟踪仪
ZA-SANS，关于测厚仪几百的的标准
SANS 10834:2003 铺地织物.毯基以上绒头厚度的非破坏性测量.朗兹(WRONZ)测厚仪测量法
SANS 4518:1980 金属镀层．镀层厚度的测量．表面光法度轮廓仪法
YU-JUS，关于测厚仪几百的的标准
JUS C.A6.037-1991 金属覆层．覆层厚度的测量．轮廓仪方法
欧洲标准化委员会，关于测厚仪几百的的标准
EN 933-7:1998 集料的几何性能试验.第7部分:壳含量测定.粗集料中壳的百分率
EN 13538-2:2002 羽绒制品.睡袋几何特性的测定.第2部分:厚度和弹性复原
EN ISO 4518:2021 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光法度轮廓仪法
prEN 933-5-2020 集料几何性能试验 第5部分：粗集料和全天然集料中破碎颗粒百分比的测定
EN 933-5:2022 骨料几何性能试验第5部分：粗骨料和全天然骨料中破碎颗粒百分比的测定
EN ISO 7971-2:2009 谷物.容积密度,称为每百升质量的测定.第2部分:通过参照国际标准仪器的测量仪器可追综性方法
EN ISO 4518:1995 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光法度轮廓仪法(ISO 4518-1990)
EN ISO 9339-1:1998 光学和光学仪器 接触镜 厚度的测定 第1部分:固定接触镜
EN 933-5:1998 集料的几何性能试验.第5部分:粗糙粒子集合中表面碎裂百分率测定;包含修改件A1-2004
EN ISO 9339-2:1998 光学和光学仪器 接触镜 厚度的测定 第2部分:水凝胶接触镜
EN ISO 3868:1994 金属和其他无机覆盖层.镀层厚度的测量.裵索多光束干射仪法(ISO 3868-1976)
EN ISO 14253-5:2015 产品几何技术规范(GPS).测量工件和测量设备的检查.第5部分:指示测量仪器检验测试中的不确定度(ISO 14253.5:2015)
DD ENV 1071-1-1993 高级技术陶瓷 陶瓷涂层的测试方法 第1部分：通过接触式探针轮廓仪测定涂层厚度
CEN ISO/TS 15530-3:2007 产品几何量技术规范(GPS).坐标测量仪(CMM).测量不确定度的测定技术.第3部分:校准工件或标准工件的使用
EN ISO 25178-701:2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:接触式(触针)仪器的校准和测量标准
EN ISO 10360-10:2021 产品几何技术规范(GPS)的验收和复检试验坐标测量系统(CMS)-第10部分:测量距离激光跟踪仪
EN ISO 25178-700:2023 产品几何技术规范（GPS）.表面结构:区域.第700部分:区域地形测量仪器的校准、调整和验证
EN ISO 10360-10:2016 产品几何技术规范(GPS)的验收和复检试验坐标测量系统(CMS)-第10部分:测量距离激光跟踪仪(ISO 10360-10:2016)
丹麦标准化协会，关于测厚仪几百的的标准
DS/EN 933-7:1998 骨料几何性能试验 第7部分：壳含量的测定 粗骨料中壳的百分比
DS/EN 933-5/A1:2005 骨料几何特性试验 第5部分：粗骨料颗粒中压碎和破碎表面百分比的测定
DS/EN 933-5:1998 骨料几何性能试验 第5部分：粗骨料颗粒中压碎和破碎表面百分比的测定
DS/ISO 1878:1989 测量和评定表面光洁度几何参数仪器和设备的分类
DS/EN ISO 7971-2:2009 谷物 体积密度的测定，称为每百升质量 第2部分：通过参考国际标准仪器的测量仪器的溯源性方法
DS/EN 1071-1:2003 高级技术陶瓷 陶瓷涂层的试验方法 第1部分：用接触式探针测光仪测定涂层厚度
DS/EN ISO 25178-701:2010 几何产品规范（GPS） 表面纹理：平面 第701部分：接触式（触笔）仪器的校准和测量标准
DS/EN ISO 25178-604:2013 几何产品规范（GPS） 表面纹理：平面 第604部分：非接触（相干扫描干涉测量）仪器的标称特性
立陶宛标准局，关于测厚仪几百的的标准
LST EN 933-7-2002 骨料几何性能试验 第7部分：壳含量的测定 粗骨料中壳的百分比
LST EN 933-5-2002 骨料几何特性试验 第5部分：粗骨料颗粒中压碎和破碎表面百分比的测定
LST EN 933-5-2002/A1-2005 骨料几何特性试验 第5部分：粗骨料颗粒中压碎和破碎表面百分比的测定
LST EN ISO 7971-2:2009 谷物 堆积密度的测定，称为每百升质量 第2部分：通过参考国际标准仪器（ISO 7971-2:2009）测量仪器的溯源性方法
LST EN 1071-1-2003 高级技术陶瓷 陶瓷涂层的试验方法 第1部分：用接触式探针测光仪测定涂层厚度
LST EN ISO 25178-701:2010 几何产品规范（GPS） 表面纹理：平面 第701部分：接触式（手写笔）仪器的校准和测量标准（ISO 25178-701:2010）
美国材料与试验协会，关于测厚仪几百的的标准
ASTM D6132-13(2022) 使用超声波涂层测厚仪无损测量应用有机涂层干膜厚度的标准试验方法
ASTM D6132-13 采用超声波涂层测厚仪对应用有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
ASTM D6132-13(2017) 使用超声波涂层厚度测量仪对应用的有机涂层的干膜厚度进行非破坏性测量的标准测试方法
ASTM D4166-99(2004)e1 用数字磁化强度测试仪测量非磁性材料厚度的标准试验方法
ASTM D4166-99 用数字磁强度仪测量非磁性材料厚度的标准试验方法
ASTM E1710-97 用便携式反射仪测量CEN规定几何形状的路面反射标志材料的标准试验方法
ASTM F2778-09 用镜反射傅里叶变换红外光谱仪测量聚醚醚酮聚合物结晶百分数的试验方法
ASTM D6132-04 用超声波仪表对外施的有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
ASTM D6132-08 用超声波仪表对外施的有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
ASTM E1710-05 使用便携式反射仪测量CEN规定几何形状的路面标志反射材料的标准试验方法
ASTM E1710-11 使用便携式反射仪测量CEN规定几何形状的路面反射标志材料的标准试验方法
ASTM E1791-96(2021) 使用半球形几何结构测定近红外仪器反射系数传递标准的标准实施规程
ASTM E1791-96(2014) 使用半球形几何结构测定近红外仪器反射系数传递标准的标准实施规程
ASTM D6132-97 用超声波仪表对混凝土有机涂层的干膜厚度进行无损测量的标准试验方法
ASTM B244-09(2021) 涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法
ASTM B244-09 涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法
ASTM B244-09(2014) 涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法
ASTM B244-97 用涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法
ASTM B244-97(2002) 用涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法
国际标准化组织，关于测厚仪几百的的标准
ISO/TR 230-11:2018 机床测试代码 - 第11部分:适用于机床几何测试的测量仪器
ISO 1878:1974 测量和评定表面光洁度几何参数仪器和设备的分类
ISO 1878:1983 测量和评定表面光洁度几何参数仪器和设备的分类
ISO 7971-2:2019 谷物.称为每百升质量的堆积密度的测定.第2部分:通过参考国际标准仪器测量仪器的可追溯性方法
ISO 7971-2:2009 粮食.以每百升质量表示的散装密度的测定.第2部分:通过参照国际标准仪表测量仪表用可追踪性方法
ISO 9339-1:1996 光学和光学仪器 接触镜 厚度的测定 第1部分:固定接触镜
ISO/CD 5463 产品几何规格（GPS） 形状测量设备；回转轴形状测量仪的设计和计量特点
ISO 9339-2:1998 光学和光学仪器 接触镜 厚度的测定 第2部分:水凝胶接触镜
ISO 3868:1976 金属和其他无机覆盖层 镀层厚度的测量 裴索多光束干涉仪法
ISO 14253-5:2015 几何产品技术规格 (GPS). 工件和测量设备的测量检查. 第5部分: 指示测量仪器检定试验中的不确定性
ISO/TS 15530-3:2004 产品几何量的技术规范(GPS).坐标测量仪(CMM):测量不确定度的测定技术.第3部分:校准工件或标准件的使用
ISO/TS 15530-1:2013 产品几何技术规范(GPS).坐标测量仪(CMM):测量不确定度的测定技术.第1部分:概览和计量学特征
ISO 25178-701:2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:触点(触针)仪器的测量和校准标准
ISO 9339-2:1998/Cor 1:2000 光学和光学仪器 接触镜 厚度的测定 第2部分:水凝胶接触镜 技术勘误表1
ISO 15530-3:2011 产品几何形状规范(GPS).坐标测量仪(CMM).测量结果不确定性测定法.第3部分:校准工件的使用或测量标准
ISO/CD 25178-604 几何产品规格（GPS） 表面纹理：面状 604 部分：非接触（相干扫描干涉测量）仪器的标称特性
ISO/TR 14253-6:2012 产品几何技术规范(GPS).工件测量和测量设备的检验.第6部分:仪器和工件的接受和拒绝用广义判定规则
ISO 10360-10:2016 几何产品技术规格 (GPS). 坐标测量系统 (CMS) 的验收试验和复检试验. 第10部分: 激光跟踪仪
ISO 10360-10:2021 几何产品技术规格 (GPS). 坐标测量系统 (CMS) 的验收试验和复检试验. 第10部分: 激光跟踪仪
ISO 25178-700:2022 产品几何技术规范（GPS）.表面结构:区域.第700部分:区域地形测量仪器的校准、调整和验证
国家质检总局，关于测厚仪几百的的标准
GB/T 24762-2009 产品几何技术规范(GPS).影像测量仪的验收检测和复检检测
GB/T 31225-2014 椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法
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