本专题涉及x射线 单晶 定向仪的标准有24条。
国际标准分类中，x射线 单晶 定向仪涉及到光学和光学测量、分析化学、化工产品、金属生产、金属材料试验、教育、半导体材料、陶瓷、黑色金属、无机化学。
在中国标准分类中，x射线 单晶 定向仪涉及到电离辐射计量、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、电子光学与其他物理光学仪器、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学计量、、金属化学分析方法综合、教学专用仪器、电工用钢、教育、学位、学衔、元素半导体材料、金属无损检验方法、无机盐。
国家计量技术规范，关于x射线 单晶 定向仪的标准
JJF 1256-2010 X射线单晶体定向仪校准规范
行业标准-机械，关于x射线 单晶 定向仪的标准
JB/T 5482-2011 X射线晶体定向仪
JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线 单晶 定向仪的标准
GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法
行业标准-航空，关于x射线 单晶 定向仪的标准
HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法
国家计量检定规程，关于x射线 单晶 定向仪的标准
JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪检定规程
JJG 629-1989 多晶X射线衍射仪检定规程
JJG(地质) 1014-1990 多晶X-射线衍射仪检定规程
机械电子工业部，关于x射线 单晶 定向仪的标准
JB/T 5982-1991 X射线定向仪技术条件
日本工业标准调查会，关于x射线 单晶 定向仪的标准
JIS H 7805:2005 用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法
行业标准-教育，关于x射线 单晶 定向仪的标准
JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
美国材料与试验协会，关于x射线 单晶 定向仪的标准
ASTM F847-94(1999) 单晶硅片参考面结晶学取向X射线测量的标准试验方法
ASTM E975-03 近随机结晶定向钢中残留奥氏体的X射线测定标准实施规程
ASTM E975-03(2008) 近随机结晶定向钢中残留奥氏体的X射线测定标准实施规程
ASTM E975-00 X射线测定近似随机晶体取向钢中残留奥氏体的标准实践
ASTM E975-13 近随机结晶定向钢中残留奥氏体的X射线测定的标准实施规程
ASTM E975-22 近随机结晶取向钢中残余奥氏体的X射线测定的标准试验方法
行业标准-商品检验，关于x射线 单晶 定向仪的标准
SN/T 3514-2013 电工钢晶粒取向与无取向鉴定方法 X射线衍射测定织构法
国际标准化组织，关于x射线 单晶 定向仪的标准
ISO 22278:2020 精细陶瓷（高级陶瓷 高级工业陶瓷）.用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的试验方法
英国标准学会，关于x射线 单晶 定向仪的标准
BS ISO 22278:2020 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
20/30360821 DC BS ISO 22278 精细陶瓷（高级陶瓷、先进技术陶瓷） 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
德国标准化学会，关于x射线 单晶 定向仪的标准
DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定
国家质检总局，关于x射线 单晶 定向仪的标准
GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
