本专题涉及低温 谱的标准有23条。
国际标准分类中，低温 谱涉及到有色金属、空气质量、金属材料试验、光学和光学测量、半导体材料、流体存储装置、管道部件和管道。
在中国标准分类中，低温 谱涉及到天然气、半金属及半导体材料分析方法、基础学科综合、半金属与半导体材料综合、大气环境有毒害物质分析方法、包装材料与容器、实验室用玻璃、陶瓷、塑料器皿。
CZ-CSN，关于低温 谱的标准
CSN 42 0617 Cast.5-1988 低温熔点合金．极谱法和原子吸收法测定镉
德国机械工程师协会，关于低温 谱的标准
VDI 3863 Blatt 2-1991 气体排放测量；丙烯腈的测定；气相色谱法；低温溶剂吸收取样
VDI 2457 Blatt 2-1996 气体排放测量-有机化合物的气相色谱测定-低温溶剂（2-（2-甲氧基乙氧基）乙醇，甲基二甘醇）中的吸收取样
行业标准-石油，关于低温 谱的标准
SY/T 7502-1999 油田气组成分析.低温冷凝取样气相色谱法
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.，关于低温 谱的标准
IEEE 1131-1987 锗半导体伽马射线光谱仪的标准低温恒温器端盖尺寸
美国电气电子工程师学会，关于低温 谱的标准
ANSI/IEEE Std 1131-1987 用于锗半导体伽马射线光谱仪的 IEEE 标准低温恒温器端盖尺寸
PL-PKN，关于低温 谱的标准
PN Z04131-10-1993 空气纯度保护汞及其化合物测试原子吸收光谱低温蒸气技术测定大气中的汞蒸气（着地浓度）
PN Z04133-06-1990 空气纯度保护．汞及其化合物测试原子吸收光谱低温蒸气技术测定大气中的汞蒸气（着地浓度）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于低温 谱的标准
GB/T 35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于低温 谱的标准
GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
美国材料与试验协会，关于低温 谱的标准
ASTM E1880-06 用次级离子质谱法(SIMS)进行组织低温截面分析的标准实施规程
ASTM E1880-12 用次级离子质谱法 (SIMS) 进行组织低温截面分析的标准实施规程
国家质检总局，关于低温 谱的标准
GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
英国标准学会，关于低温 谱的标准
BS ISO 17733:2004 工作场所空气.汞和无机汞化合物的测定.低温蒸气原子吸收光谱测定法或原子荧光光谱测定法
BS EN 12434:2000 低温容器.低温软管
BS EN 12434:2000(2008) 低温容器.低温软管
丹麦标准化协会，关于低温 谱的标准
DS/EN 12434/AC:2001 低温容器 低温软管
DS/EN 12434:2000 低温容器 低温软管
立陶宛标准局，关于低温 谱的标准
LST EN 12434+AC-2003 低温容器 低温软管
AENOR，关于低温 谱的标准
UNE-EN 12434:2001 低温容器 低温软管
韩国科技标准局，关于低温 谱的标准
KS B ISO 24490-2017(2022) 低温容器－低温用泵
KR-KS，关于低温 谱的标准
KS B ISO 24490-2017 低温容器低温用泵
德国标准化学会，关于低温 谱的标准
DIN EN 12434:2000 低温容器.低温软管
