本专题涉及场 电子探针 用途的标准有64条。
国际标准分类中，场 电子探针 用途涉及到光学和光学测量、辐射测量、分析化学、热力学和温度测量、电信设备用部件和附件、检查、维修和试验设备、陶瓷、半导体材料、电子电信设备用机电元件、辐射防护。
在中国标准分类中，场 电子探针 用途涉及到综合技术、电磁计量、工程技术特性标准物质、医用射线设备、基础标准与通用方法、医用超声、激光、高频仪器设备、电子光学与其他物理光学仪器、钢铁与铁合金分析方法、电缆及其附件、连接器、特种陶瓷、物理学与力学、元素半导体材料、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学、半金属、电离辐射计量、经济管理。
国家质检总局，关于场 电子探针 用途的标准
GB/T 4930-1993 电子探针分析标准样品通用技术条件
国家计量技术规范，关于场 电子探针 用途的标准
JJF 1029-1991 电子探针定量分析用标准物质研制规范
德国标准化学会，关于场 电子探针 用途的标准
DIN 6800-1:1980 放射剂量测定法程序.第1部分:用探针式探测器探测光子和电子放射剂量原则
DIN 6800-1:2016-08 用探针型探测器进行光子和电子辐射剂量测定的程序 第1部分：概述
DIN 6800-4:2000 光子辐射和电子辐射用探针型探测器的剂量测定程序.第4部分:胶片剂量测定法
DIN 6800-5:2005 光子辐射和电子辐射用带探针型探测器的剂量测定程序.第5部分:热致发光剂量测定
DIN ISO 16592:2015 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南(ISO 16592-2012)
DIN EN 60512-16-1:2009 电子设备用连接器 试验和测量 第16-1部分:触点和终端的机械试验 试验16a:探针故障
法国标准化协会，关于场 电子探针 用途的标准
NF ISO 11938:2012 微束分析 电子微探针分析（铸件微探针） 使用波长色散光谱法的元素映射分析方法
NF X21-002:2007 微光束分析.电子探针微量分析.波长色散光谱学用实验参数测定指南
NF X21-007:2008 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
NF C93-400-16-1*NF EN 60512-16-1:2008 电子设备用连接器 试验和测量 第16-1：触点和终端的机械试验 试验16a：探针损伤
NF X21-013*NF ISO 11938:2012 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).应用波长色散光谱学进行元素映射分析方法
NF X21-006:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
英国标准学会，关于场 电子探针 用途的标准
BS ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
BS ISO 13095:2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
BS ISO 16592:2012 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢碳含量的指南
BS ISO 11938:2013 微束分析.电子探针显微分析.使用波长色散光谱对元素映射的分析方法
BS EN 60512-16-1:2008 电子设备用连接器.试验和测量.触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
BS EN 1071-4:2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.用电子探针微量分析(EPMA)测定化学成分
BS ISO 11938:2012 微束分析 电子探针微量分析 使用波长色散光谱进行元素图谱分析的方法
BS ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南
BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
BS ISO 15632:2021 微束分析 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
BS EN 50364:2010 人体暴露于0 Hz-300 GHz频率范围工作的电子物质监视(EAS)、射频识别(RFID)和类似用途设备所产生的电磁场中的极限值
BS EN 50364:2002 人体暴露于0Hz-10GHz频率范围工作的电子物质监视(EAS)、射频识别(RFID)和类似用途的设备所产生的电磁场中的极限值
国际标准化组织，关于场 电子探针 用途的标准
ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
ISO 13095:2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
ISO 16592:2006 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南
ISO 16592:2012 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南
ISO/TR 10305-2:2003 道路车辆.电磁场强度测量设备的校正.第2部分:9kHz-40GHz的电磁场传感器和探针(不包括天线)的校正用IEEE标准
ISO 11938:2012 微束分析. 电子探针微量分析. 使用波长色散光谱对元素映射的分析方法
ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
ISO 14594:2003/Cor 1:2009 微光束分析.电子探针微分析.波长色散光谱法测定实验参数用指南.技术勘误1
ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
美国材料与试验协会，关于场 电子探针 用途的标准
ASTM E2730-21 电子参考结补偿电路评估中热电偶参考结探针的校准和使用的标准指南
ASTM E2730-22 电子参考结补偿电路评估中热电偶参考结探针的校准和使用的标准指南
ASTM E2730-10(2015)e1 电子参考结补偿电路评估中热电偶参考结探针的校准和使用的标准指南
ASTM E2730-10 电子参考点补偿电路评估中热电偶参考点探针的校准和使用的标准实践
ASTM F1392-00 用带汞探针的容量-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
ASTM F374-00a 用单型程序直列式四点探针法测定硅外延层、扩散层、多晶硅层和离子注入层的薄膜电阻的测试方法
韩国科技标准局，关于场 电子探针 用途的标准
KS D ISO 16592:2011 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢碳含量的指南
KS D ISO 16592-2011(2016) 微束分析－电子探针显微分析－用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
KS D ISO 16592-2011(2021) 微束分析－电子探针微量分析－用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
KS D ISO 22489:2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
KS D ISO 22489:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
KS D ISO 15632:2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
US-FCR，关于场 电子探针 用途的标准
FCR NE-F-11-4T-1972 使用电子微探针确定 PUO2-UO2 燃料芯块均匀性的品质因数（新设计无效）
美国国家标准学会，关于场 电子探针 用途的标准
ANSI/SCTE 48-2-2008 使用闭合灵敏磁场探针测量有源和无源同轴电缆装置的相关屏蔽作用的试验程序
日本工业标准调查会，关于场 电子探针 用途的标准
JIS K 0189:2013 微束分析.电子探针显微分析.波长色散X射线光谱学用实验参数的测定
JIS K 0190:2010 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南
PT-IPQ，关于场 电子探针 用途的标准
NP 3136/2-1985 电子照明设备．照明设备．第2a部分：一般要求．第1节：针对一般用途的固定设备
欧洲电工标准化委员会，关于场 电子探针 用途的标准
EN 60512-16-1:2008 电子设备用连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
EN 50364:2010 电子物质监视(EAS),射频识别(RFID)和类似用途的运行频率范围0Hz-10GHz的设备的电磁场中人体暴露的限值
KR-KS，关于场 电子探针 用途的标准
KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
国际电工委员会，关于场 电子探针 用途的标准
IEC 60512-16-1:2008 电子设备用连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，关于场 电子探针 用途的标准
EN 50364:2001 电子物质监视(EAS),射频识别(RFID)和类似用途的运行频率范围0Hz-10GHz的设备的电磁场中人体暴露的限值
US-CFR-file，关于场 电子探针 用途的标准
CFR 7-1710.127-2014 农业. 第1710部分:电子贷款和担保手续的总则,预贷款政策和程序. 第C子部分:贷款用途和基本政策. 第1710.127节:无毒品的工作场所.
