本专题涉及二极管测试的标准有67条。
国际标准分类中，二极管测试涉及到半导体分立器件、核能工程、太阳能工程、印制电路和印制电路板、光电子学、激光设备、电工和电子试验、光纤通信、电子管。
在中国标准分类中，二极管测试涉及到半导体二极管、、半导体发光器件、半导体光敏器件、电力半导体器件、部件、光通信设备、激光器件、光电子器件综合、微波管。
国家质检总局，关于二极管测试的标准
GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法
美国材料与试验协会，关于二极管测试的标准
ASTM C1307-21 钚（III）二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法
ASTM C1307-15 钚（III）二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法
工业和信息化部，关于二极管测试的标准
SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法
SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法
国际电工委员会，关于二极管测试的标准
IEC 62979:2017 光伏模块 - 旁路二极管 - 热失控测试
IEC 62979-2017 光伏模块 - 旁路二极管 - 热失控测试
IEC 62088-2001 核仪器 - 用于闪烁探测器的光电二极管 - 测试程序
行业标准-电子，关于二极管测试的标准
SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法
SJ 2749-1987 半导体激光二极管测试方法
SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
SJ 2354.7-1983 PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
SJ 2354.11-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
SJ 2354.14-1983 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
SJ 2354.6-1983 PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
SJ 2354.13-1983 雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
SJ 2354.4-1983 PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2354.12-1983 雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法
SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法
SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法
SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
SJ 2139-1982 硅稳流二极管动态阻抗的测试方法
SJ 2142-1982 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法
SJ 2137-1982 硅稳流二极管测试方法.总则
SJ 2138-1982 硅稳流二极管稳定电流的测试方法
SJ 2141-1982 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
SJ 2140-1982 硅稳流二极管极限电压的测试方法
SJ 1388-1978 噪声二极管阳极电导的测试方法
SJ 1387-1978 噪声二极管灯丝电流和灯丝电压的测试方法
SJ 1391-1978 噪声二极管冷态电压驻波系数的测试方法
SJ 1392-1978 噪声二极管超噪功率的测试方法
SJ 1386-1978 噪声二极管和气体放电噪声管测试条件
SJ 1390-1978 噪声二极管超噪功率非线性系数的测试方法
SJ 1389-1978 噪声二极管极间漏电流的测试方法
SJ 1230-1977 锗检波二极管高频整流电流的测试方法
SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
SJ/T 2354-2015/0352 PIN、雪崩光电二极管测试方法
，关于二极管测试的标准
PN T04812-1971 水平偏转电路中二极管增压器和线输出管的电气强度测试
行业标准-机械，关于二极管测试的标准
JB/T 7624-2013 整流二极管测试方法
行业标准-兵工民品，关于二极管测试的标准
WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法
台湾地方标准，关于二极管测试的标准
CNS 13649-1996 通信用雷射二极管之可靠度测试
CNS 13655-1996 通信用光二极管之可靠度测试
CNS 13650-1996 通信用雷射二极管之批品质控制测试
CNS 13656-1996 通信用光二极管之批品质控制测试
CNS 6561-1980 高速二极管逆向回复时间测试用固定装置之特性
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于二极管测试的标准
JEDEC JESD24-10-1994 JESD24的补遗－功率MOSFET Drain-Sources二极管的逆向恢复时间trr测量的测试方法
JEDEC JESD24-7-1992 JESD24的补遗－整流二极管安全工作区域测试步骤以在功率晶体管逆向恢复期中测量dv/dt
行业标准-邮电通信，关于二极管测试的标准
YD/T 701-1993 半导体激光二极管组件测试方法
