本专题涉及集成电路 测试的标准有69条。
国际标准分类中，集成电路 测试涉及到集成电路、微电子学、光电子学、激光设备、电子电信设备用机电元件、遥控、遥测、半导体分立器件、电学、磁学、电和磁的测量。
在中国标准分类中，集成电路 测试涉及到半导体集成电路、光电子器件综合、微电路综合、卫星通信设备、电力半导体器件、部件、混合集成电路、电子元器件、电子测量与仪器综合、加工专用设备、技术管理。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于集成电路 测试的标准
GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
国家质检总局，关于集成电路 测试的标准
GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法
GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件测试方法
GB/T 6798-1996 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
GB 51122-2015 集成电路封装测试厂设计规范
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于集成电路 测试的标准
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
未注明发布机构，关于集成电路 测试的标准
GB 3442-1986 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
工业和信息化部，关于集成电路 测试的标准
SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法
SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
，关于集成电路 测试的标准
STAS 10630-1976 数字集成电路输出量的测试方法
美国材料与试验协会，关于集成电路 测试的标准
ASTM F1262M-14 数字集成电路瞬态辐射不稳定阈值测试标准指南
行业标准-航天，关于集成电路 测试的标准
QJ 20008-2011 卫星导航接收机基带处理集成电路性能要求及测试方法
QJ 20009-2011 卫星导航接收机射频集成电路性能要求及测试方法
QJ 2660-1994 半导体集成电路.开关电源脉宽调制器测试方法
QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法
QJ 1460-1988 半导体集成电路宽带放大器测试方法
QJ 1528-1988 半导体集成电路时基器测试方法
QJ 1526-1988 半导体集成电路运算放大器特殊参数测试方法
行业标准-电子，关于集成电路 测试的标准
SJ/T 11430-2010 GPS接收机基带处理集成电路技术要求及测试方法
SJ/Z 11352-2006 集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范
SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10805-2000 半导体集成电路.电压比较器测试方法的基本原理
SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
SJ/T 10804-2000 半导体集成电路.电平转换器测试方法的基本原理
SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
SJ/T 10427.2-1993 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
SJ/T 10196-1991 中、小规模数字集成电路静态参数测试仪.测试方法
SJ/Z 2926-1988 集成电路制版设备性能测试方法
SJ 2481-1984 混合集成电路模拟.数字转换器静态测试方法的基本原理
SJ 2480-1984 混合集成电路数字.模拟转换器静态测试方法的基本原理
SJ/T 11005-1996 半导体电视集成电路伴音通道电路测试方法的基本原理
SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10740-1996 半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理
SJ/T 10739-1996 半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理
SJ/T 11006-1996 半导体电视集成电路行场扫描电路测试方法的基本原理
SJ/T 10741-1996 半导体集成电路 ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理
SJ/T 11007-1996 半导体电视集成电路视频信号和色信号处理电路测试方法的基本原理
SJ/T 10882-1996 半导体集成电路线性放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10737-1996 半导体集成电路 ECL电路测试方法的基本原理
SJ/T 10735-1996 半导体集成电路 TTL电路测试方法的基本原理
SJ/T 11004-1996 半导体电视集成电路图象通道电路测试方法的基本原理
SJ/T 10736-1996 半导体集成电路 HTL电路测试方法的基本原理
美国采暖、制冷与空调工程师协会，关于集成电路 测试的标准
ASHRAE LO-09-025-2009 台湾集成电路组件和测试(IC A/T)工业用能量消耗率
韩国科技标准局，关于集成电路 测试的标准
KS C IEC 60747-5-3:2004 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器件.测试方法
国际电工委员会，关于集成电路 测试的标准
IEC 60748-23-2-2002 半导体器件 - 集成电路 - 第23-2部分:混合集成电路和薄膜结构 - 制造线认证 - 内部目视检查和特殊测试
IEC 60747-5-3:1997 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
IEC 60603-12-1992 用于频率低于3 Mhz的连接器用于印刷电路板 - 第12部分:尺寸详细规格 适用于集成电路的一系列插座的一般要求和测试
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于集成电路 测试的标准
JEDEC JESD51-6-1999 集成电路热测试方法环境条件 强制对流(流动空气)
JEDEC JESD51-8-1999 集成电路热测试方法环境条件－Junction-to-Board
