本专题涉及金属 高频阻抗的标准有72条。
国际标准分类中，金属 高频阻抗涉及到涂料和清漆、电信设备用部件和附件、电磁兼容性(EMC)、电子元器件组件、金属的腐蚀、航空航天制造用材料。
在中国标准分类中，金属 高频阻抗涉及到涂料基础标准与通用方法、波导同轴元件及附件、涂料辅助材料、涂料、电缆及其附件、光通信设备、金属化学性能试验方法、材料防护、航空与航天用金属铸锻材料。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于金属 高频阻抗的标准
GB/T 39482.3-2020 涂漆和未涂漆金属试样的电化学阻抗谱（EIS） 第3部分：从模拟电解池获得数据的处理和分析
国家质检总局，关于金属 高频阻抗的标准
GB/T 31723.406-2015 金属通信电缆试验方法 第4-6部分:电磁兼容 表面转移阻抗 线注入法
国际电工委员会，关于金属 高频阻抗的标准
IEC 62153-4-16-2021 金属电缆和其他无源元件试验方法.第4-16部分:电磁兼容性（EMC）.使用三轴装置将频率范围扩展到传输阻抗的较高频率和屏蔽衰减测量的较低频率
IEC 62153-4-15-2021 金属电缆和其他无源元件试验方法第4-15部分:电磁兼容性（EMC）用三轴电池测量传输阻抗和屏蔽衰减或耦合衰减的试验方法
IEC 62153-4-15-2021 RLV 金属电缆和其他无源元件试验方法第4-15部分:电磁兼容性（EMC）测量传输阻抗和屏蔽衰减或三轴单元耦合衰减的试验方法
IEC 62153-4-15:2021 金属电缆和其他无源元件试验方法第4-15部分:电磁兼容性（EMC）用三轴电池测量传输阻抗和屏蔽衰减或耦合衰减的试验方法
IEC 62153-4-15:2021 RLV 金属电缆和其他无源元件试验方法第4-15部分:电磁兼容性（EMC）测量传输阻抗和屏蔽衰减或三轴单元耦合衰减的试验方法
IEC 62153-4-7:2021 RLV 金属电缆和其他无源元件试验方法第4-7部分:电磁兼容性（EMC）测量连接器和组件的传输阻抗ZT和屏蔽衰减aS或耦合衰减aC的试验方法三轴管中管法
IEC 62153-4-7-2021 RLV 金属电缆和其他无源元件试验方法第4-7部分:电磁兼容性（EMC）测量连接器和组件的传输阻抗ZT和屏蔽衰减aS或耦合衰减aC的试验方法三轴管中管法
IEC 62153-4-7-2021 金属电缆和其他无源元件试验方法.第4-7部分:电磁兼容性（EMC）.测量连接器和组件的传输阻抗ZT和屏蔽衰减aS或耦合衰减aC的试验方法.三轴管中管法
IEC 62153-4-10-2015/AMD1-2020 修改件1.金属通信电缆试验方法.第4-10部分:电磁兼容性（EMC）.馈通和电磁垫圈的传输阻抗和屏蔽衰减.双同轴试验方法
IEC 62153-4-10:2015/AMD1:2020 修改件1.金属通信电缆试验方法.第4-10部分:电磁兼容性（EMC）.馈通和电磁垫圈的传输阻抗和屏蔽衰减.双同轴试验方法
IEC 62153-4-10:2015+AMD1:2020 CSV 金属通信电缆试验方法第4-10部分:电磁兼容性（EMC）馈通和电磁垫圈的传输阻抗和屏蔽衰减双同轴试验方法
IEC 62153-4-10-2015+AMD1-2020 CSV 金属通信电缆试验方法第4-10部分:电磁兼容性（EMC）馈通和电磁垫圈的传输阻抗和屏蔽衰减双同轴试验方法
IEC 62153-4-7:2015/AMD1:2018 修改件1.金属通信电缆试验方法.第4-7部分:电磁兼容性（EMC）.测量3GHz及以上连接器和组件的传输阻抗ZT和屏蔽衰减aS或耦合衰减aC的试验方法.三轴管中管法
IEC 62153-4-7-2015/AMD1-2018 修改件1.金属通信电缆试验方法.第4-7部分:电磁兼容性（EMC）.测量3GHz及以上连接器和组件的传输阻抗ZT和屏蔽衰减aS或耦合衰减aC的试验方法.三轴管中管法
IEC 62153-4-7-2015+AMD1-2018 CSV 金属通信电缆试验方法第4-7部分:电磁兼容性（EMC）测量3GHz及以上连接器和组件的传输阻抗ZT和屏蔽衰减aS或耦合衰减aC的试验方法三轴管中管法
IEC 62153-4-7:2015+AMD1:2018 CSV 金属通信电缆试验方法第4-7部分:电磁兼容性（EMC）测量3GHz及以上连接器和组件的传输阻抗ZT和屏蔽衰减aS或耦合衰减aC的试验方法三轴管中管法
IEC 62153-4-6-2017 RLV 金属电缆和其他无源元件试验方法第4-6部分:电磁兼容性表面转移阻抗线注入法
IEC 62153-4-6-2017 金属电缆和其他无源元件测试方法 - 第4-6部分:电磁兼容性（EMC） - 表面传输阻抗 - 线路注入法
IEC 62153-4-6:2017 RLV 金属电缆和其他无源元件试验方法第4-6部分:电磁兼容性表面转移阻抗线注入法
IEC 62153-4-6:2017 金属电缆和其他无源元件测试方法 - 第4-6部分:电磁兼容性（EMC） - 表面传输阻抗 - 线路注入法
IEC 62153-4-16-2016 金属通信电缆测试方法 - 第4-16部分:电磁兼容性（Emc） - 将频率范围扩展到更高频率 用于传输阻抗和降低频率 用于使用三轴设置进行屏蔽衰减测量
IEC 62153-4-16:2016 金属通信电缆试验方法. 第4-16部分: 电磁兼容性(EMC). 利用三维法将频率范围扩展至传输阻抗用高频和屏蔽衰减测量用低频
IEC 62153-4-7-2015 金属通信电缆试验方法.第4-7部分:电磁兼容性（EMC）.测量3GHz及以上连接器和组件的传输阻抗ZT和屏蔽衰减aS或耦合衰减aC的试验方法.三轴管中管法
IEC 62153-4-15-2015 金属通信电缆测试方法 - 第4-15部分:电磁兼容性（EMC） - 测量传输阻抗和屏蔽衰减或耦合衰减与三轴电池的测试方法
IEC 62153-4-15:2015 金属通信电缆试验方法. 第4-15部分: 电磁兼容性 (EMC). 利用三轴室测量传输阻抗和屏蔽衰减或耦合衰减的试验方法
IEC 62153-4-7:2015 金属通信电缆试验方法. 第4-7部分: 电磁兼容性 (EMC). 测量3 GHz及以上的连接器和组件的传输阻抗 (ZT) 和屏蔽衰减或耦合衰减 (aC) 的试验方法. 三轴管管法
IEC 62153-4-10-2015 金属通信电缆测试方法 - 第4-10部分:电磁兼容性（Emc） - 馈通和电磁垫圈的传输阻抗和屏蔽衰减 - 双同轴测试方法
IEC 62153-4-10:2015 金属通信电缆试验方法. 第4-10部分: 电磁兼容性 (EMC). 馈通和电磁垫片的传输阻抗和屏蔽衰减. 双同轴试验方法
IEC 60068-2-58-2015 环境测试 - 第2-58部分:测试 - 测试Td:可焊性测试方法 金属化溶解性和表面贴装器件焊接热阻抗（smd）
IEC 62153-4-3-2013 金属通信电缆测试方法 - 第4-3部分:电磁兼容性（emc） - 表面传输阻抗 - 三轴法
IEC 62153-4-3:2013 金属通信电缆试验方法.第4-3部分:电磁兼容性(EMC).表面传输阻抗.三维法
IEC TR 62153-4-0:2007 金属通信电缆试验方法第4-0部分:电磁兼容性表面传输阻抗和屏蔽衰减之间的关系推荐限值
IEC TR 62153-4-0-2007 金属通信电缆试验方法第4-0部分:电磁兼容性表面传输阻抗和屏蔽衰减之间的关系推荐限值
IEC/TR 62153-4-0:2007 金属通信电缆试验方法.第4-0部分:电磁兼容性(EMC).表面传输阻抗与屏蔽衰减推荐范围间的关系
IEC 62153-4-6-2006 金属通信电缆测试方法 - 第4-6部分:电磁兼容性（emc） - 表面传输阻抗 - 线路注入法
IEC 62153-4-6:2006 金属化通信电缆试验方法.第4-6部分:电磁兼容性(EMC).表面传输阻抗.线性注入法
IEC 62153-4-7-2006 金属通信电缆试验方法第4-7部分:电磁兼容性（EMC）测量传输阻抗和屏蔽或耦合衰减的试验方法管中管法
IEC 62153-4-7:2006 金属通信电缆试验方法.第4-7部分:电磁兼容性(EMC).测量迁移阻抗和屏蔽或耦合衰减的试验方法.管中管法
IEC 62153-4-3:2006 金属通信电缆试验方法.第4-3部分:电磁兼容性(EMC).表面传输阻抗.三维法
IEC 60068-2-58-2004 环境测试 - 第2-58部分:测试 - 测试Td:可焊性测试方法 金属化溶解性和表面贴装器件焊接热阻抗（smd）
，关于金属 高频阻抗的标准
KS M ISO 16773-4:2018 涂覆和未涂覆金属样品上的电化学阻抗谱（EIS） - 第4部分:聚合物涂覆和未涂覆样品的光谱示例
KS M ISO 16773-1:2018 涂层和无涂层金属样品上的电化学阻抗谱（Eis） - 第1部分:术语和定义
KS M ISO 16773-2:2018 涂层和无涂层金属样品上的电化学阻抗谱（Eis） - 第2部分:数据采集
欧洲标准化委员会，关于金属 高频阻抗的标准
EN ISO 16773-4:2017 电化学阻抗谱(EIS)涂层和无涂层的金属试样的第4部分:对聚合物涂层和无涂层的试样光谱的例子(ISO 16773-4:2017)
EN ISO 16773-3:2016 电化学阻抗谱(EIS)涂层和无涂层的金属试样的第3部分:从虚拟细胞的数据处理与分析(ISO 16773-3:2016)
EN ISO 16773-2:2016 电化学阻抗谱(EIS)涂层和无涂层金属试件第2部分:数据采集(ISO 16773-2:2016)
EN ISO 16773-1:2016 电化学阻抗谱(EIS)涂层和无涂层金属试件第1部分:术语和定义(ISO 16773-1:2016)
国际标准化组织，关于金属 高频阻抗的标准
ISO 16773-4:2017 有涂层和无涂层金属样品的电化学阻抗频谱(EIS). 第4部分: 有聚合物涂层和无聚合物涂层样品频谱示例
ISO 16773-3:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱 (EIS). 第3部分: 虚拟单元数据的处理和分析
ISO 16773-2:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱 (EIS). 第2部分: 数据收集
ISO 16773-1:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱 (EIS). 第1部分: 术语和定义
ISO/TR 16208:2014 金属和合金的腐蚀.通过电化学阻抗测量材料腐蚀的试验方法
德国标准化学会，关于金属 高频阻抗的标准
DIN EN ISO 16773-1:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱(EIS).第1部分:术语和定义(ISO 16773-1-2016).德文版本EN ISO 16773-1-2016
DIN EN 62153-4-7-2016 金属通信电缆试验方法.第4-7部分:电磁兼容性 (EMC).测量3 GHz及以上的连接器和组件的传输阻抗(ZT)和屏蔽衰减或耦合衰减(ac)的试验方法.管内三轴管法(IEC 62153-4-7-2015+COR1-2016).德文版本EN 62153-4-7-2016+AC-2016
DIN EN ISO 16773-3:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱(EIS).第3部分:虚拟单元数据的处理和分析(ISO 16773-3-2016).德文版本EN ISO 16773-3-2016
DIN EN ISO 16773-2:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱(EIS).第2部分:数据收集(ISO 16773-2-2016).德文版本EN ISO 16773-2-2016
DIN EN 62153-4-7-2007 金属通信电缆试验方法.第4-7部分:电磁兼容性(EMC).测量传输阻抗和屏蔽或耦合衰减的试验方法.套管法(IEC 62153-4-7-2006)
英国标准学会，关于金属 高频阻抗的标准
BS IEC 62153-4-16:2016 金属通信电缆试验方法. 电磁兼容性(EMC). 利用三维法将频率范围扩展至传输阻抗用高频和屏蔽衰减测量用低频
BS EN ISO 16773-2:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱 (EIS). 数据收集
BS EN ISO 16773-3:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱 (EIS). 虚拟单元数据的处理和分析
BS EN ISO 16773-1:2016 涂覆和未涂覆金属试样的电化学阻抗频谱 (EIS). 术语和定义
BS EN 62153-4-7-2016 金属通信电缆试验方法. 电磁兼容性 (EMC). 用于测量不超过和大于3 GHz的连接器和组件的转移阻抗(ZT)和屏蔽衰减(as)或者耦合衰减(aC)的试验方法.管内三轴管法
BS IEC 62153-4-10:2015 金属通信电缆试验方法. 电磁兼容性 (EMC). 馈通和电磁垫片的传输阻抗和屏蔽衰减. 双同轴试验方法
BS IEC 62153-4-3:2013 金属通信电缆试验方法. 电磁兼容性(EMC). 表面传输阻抗. 三轴法
BS IEC 62153-4-3:2014 金属通信电缆试验方法. 电磁兼容性 (EMC). 表面传输阻抗. 三轴法
BS PD ISO/TR 16208:2014 金属和合金的腐蚀. 使用电化学阻抗测试对材料腐蚀性进行的试验方法
BS EN 62153-4-7-2006 金属通信电缆试验方法.电磁兼容性(EMC).测量传输阻抗和滤屏或耦合衰减的试验方法.套管方法
美国国防后勤局，关于金属 高频阻抗的标准
DLA SMD-5962-95718 REV B-2007 数字的互补金属氧化物半导体闭锁阻抗优先级中段控制器硅单片电路线型微电路
法国标准化协会，关于金属 高频阻抗的标准
NF C90-133-4-7-2006 金属通信电缆试验方法.第4-7部分:电磁兼容性(EMC).测量传输阻抗和屏蔽或耦合衰减的试验方法.套管方法
欧洲电工标准化委员会，关于金属 高频阻抗的标准
EN 62153-4-7-2006 金属通信电缆.试验方法.第4-7部分:电磁兼容性(EMC).测量迁移阻抗和屏蔽或耦合衰减的试验方法.管中管法 IEC 62153-4-7:2006
