本专题涉及复合 电阻的标准有42条。
国际标准分类中，复合 电阻涉及到电学、磁学、电和磁的测量、导体材料、金属材料试验、热力学和温度测量、电阻器、半导体分立器件。
在中国标准分类中，复合 电阻涉及到金属物理性能试验方法、电工材料和通用零件综合、裸电线、电阻器、物理学与力学、半金属与半导体材料综合、其他。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于复合 电阻的标准
GB/T 25897-2020 剩余电阻比测量 铌-钛（Nb-Ti）和铌三锡（Nb3Sn）复合超导体剩余电阻比测量
国家质检总局，关于复合 电阻的标准
GB/T 31780-2015 临界温度测量 电阻法测复合超导体临界温度
GB/T 25897-2010 超导电性：铌-钛复合超导体剩余电阻比测定
德国标准化学会，关于复合 电阻的标准
DIN EN IEC 61788-4:2021 超导电性. 第4部分: 残余电阻比测量. Nb-Ti与Nb3Sn复合超导体的残余电阻比(IEC 61788-4-2020); 德文版本EN IEC 61788-4-2020
DIN EN 61788-4-2017 超导电性.第4部分:残余电阻比测量.Nb-Ti与Nb3Sn复合超导体的残余电阻比(IEC 61788-4-2016);德文版本EN 61788-4-2016
DIN EN 61788-10-2007 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法测量复合超导体的临界温度(IEC 61788-10-2006)
国际电工委员会，关于复合 电阻的标准
IEC 61788-4-2020 RLV 超导性第4部分:剩余电阻比测量Nb-Ti和Nb3Sn复合超导体的剩余电阻比
IEC 61788-4:2020 RLV 超导性第4部分:剩余电阻比测量Nb-Ti和Nb3Sn复合超导体的剩余电阻比
IEC 61788-4:2020 超导性 - 第4部分:残余电阻率测量 - Nb-Ti和Nb3sn复合超导体的残余电阻比
IEC 61788-4-2020 超导性 - 第4部分:残余电阻率测量 - Nb-Ti和Nb3sn复合超导体的残余电阻比
IEC 61788-4-2016 超导性.剩余电阻比测量.Nb-Ti和Nb3Sn复合超导体的剩余电阻比
IEC 61788-4-2011 超导性 - 第4部分:残余电阻率测量 - Nb-Ti复合超导体的残余电阻比
IEC 61788-11-2011 超导性 - 第11部分:残余电阻比测量 - Nb3Sn复合超导体的残留电阻比
IEC 61788-10:2006 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法对复合超导体的临界温度的测量
日本工业标准调查会，关于复合 电阻的标准
JIS H7306-2018 超导性.剩余电阻比测量.Nb-Ti和Nb3Sn复合超导体的剩余电阻比
JIS H7309-2012 超导性.临界温度测量.复合超导体临界温度电阻测量法
JIS H7306-2012 超导性.剩余电阻比测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻比
JIS H7309-2006 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法对Nb-Ti、 Nb3Sn和铋-系统氧化物复合超导体的临界温度的测量
JIS H7306-2005 超导性.第4部分:剩余电阻比测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻比
，关于复合 电阻的标准
KS C IEC 61788-4-2017(2022) 超导性－第4部分:残余电阻比测量－Nb－Ti复合超导体的残余电阻比
KS C IEC 61788-10-2017(2022) 超导性－第10部分:临界温度测量－用电阻法测量Nb－Ti、Nb3Sn和Bi系氧化物复合超导体的临界温度
KS C IEC 61788-4:2017 超导性第4部分:剩余电阻比测量铌钛复合超导体的剩余电阻比
KS C IEC 61788-11-2005(2015) 超导性第11部分:剩余电阻比测量Nb3Sn复合超导体的剩余电阻比
法国标准化协会，关于复合 电阻的标准
NF C31-888-4-2016 超导电性.第4部分:残余电阻比测量.Nb-Ti与Nb3Sn复合超导体的残余电阻比
NF C31-888-10-2006 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法测量复合超导体的临界温度
NF C31-888-10-2003 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法测量铌-钛、铌<下标3>锡和铋-系统氧化物复合超导体的临界温度
英国标准学会，关于复合 电阻的标准
BS EN 61788-4-2016 超导电性.残余电阻比测量.Nb-Ti与Nb3Sn复合超导体的残余电阻比
BS EN 61788-11-2011 超导电性.残余电阻比测量.Nb3Sn复合超导体的残余电阻比
BS EN 61788-4-2011 超导电性.残余电阻比测量.Nb-Ti复合超导体的残余电阻比
BS EN 61788-10-2006 超导性.临界温度测量.用电阻法测量复合超导体的临界温度
BS EN 61788-10-2002 超导性.临界温度测量.用电阻法测量Nb-Ti、Nb3Sn和铋族氧化物复合超导体的临界温度
BS EN 61788-10-2003 超导性.临界温度测量.用电阻法测量Nb-Ti、Nb3Sn和铋族氧化物复合超导体的临界温度
BS EN 61788-4-2001 超导性.剩余电阻比测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻比
美国国防后勤局，关于复合 电阻的标准
DLA DSCC-DWG-87074 REV C-2007 电阻网络,固定性,胶片,8-PIN SIP,多层电阻阻值,复合图表(厚层)
DLA DSCC-DWG-87073 REV D-2007 电阻网络,固定性,胶片,8-PIN SIP,多层电阻阻值,复合图表(薄层)
DLA DSCC-DWG-87067 REV D-2007 电阻网络,固定性,胶片,7-PIN SIP(薄层),复合图表
DLA DSCC-DWG-87068 REV D-2007 电阻网络,固定性,胶片,7-PIN SIP(厚层),复合图表
DLA DSCC-DWG-87072 REV D-2007 电阻网络,固定性,胶片,10-PIN SIP,多层电阻阻值,复合图表,多层公差
DLA DSCC-DWG-87071 REV D-2007 电阻网络,固定性,胶片,10-PIN SIP,多层电阻阻值,复合图表(薄层)
欧洲电工标准化委员会，关于复合 电阻的标准
EN 61788-10-2006 超导性.第10部分:临界温度测量.电阻法测定复合超导体的临界温度 IEC 61788-10-2006
韩国标准，关于复合 电阻的标准
KS C IEC 61788-4:2003 超导性.第4部分:剩余电阻比测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻比
KS C IEC 61788-10:2003 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法对Nb-Ti、Nb3Sn和铋.系统氧化物复合超导体的临界温度的测量
