本专题涉及光电 测试的标准有75条。
国际标准分类中，光电 测试涉及到电子显示器件、纺织纤维、电子管、半导体材料、光电子学、激光设备、光学设备、半导体分立器件、农用建筑物、结构和装置、电灯及有关装置、电影、印制电路和印制电路板、陶瓷、核能工程、太阳能工程、电池和蓄电池、光纤通信、电信终端设备、航空航天用电气设备和系统、水果、蔬菜及其制品、航空航天发动机和推进系统、有色金属产品、机械安全。
在中国标准分类中，光电 测试涉及到半导体发光器件、纤维作物与产品、其他、其他电真空器件、半金属与半导体材料综合、光通信设备、、、、、、光电子器件综合、半导体光敏器件、特种陶瓷、太阳能、通信设备综合、电子测量与仪器综合、电子元器件、电气系统与设备、数据通信设备、光学计量仪器、敏感元器件及传感器、技术管理。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于光电 测试的标准
GB/T 18910.61-2021 液晶显示器件 第6-1部分：液晶显示器件测试方法 光电参数
国家质检总局，关于光电 测试的标准
GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
GB/T 20871.61-2013 有机发光二极管显示器 第61部分:光学和光电参数测试方法
GB/T 18910.61-2012 液晶显示器件.第6-1部分：液晶显示器件测试方法.光电参数
GB/T 12079-2012 X射线管光电性能测试方法
GB/T 26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
GB/T 24365-2009 通信用光电探测器组件测试方法
GB/T 12079-1989 X射线管光电性能测试方法
GB/T 7270-1987 光电倍增管测试方法
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于光电 测试的标准
GB/T 35931-2018 棉纤维棉结和短纤维率测试方法 光电法
中国团体标准，关于光电 测试的标准
T/CAIA YQ007-2021 电子倍增电荷耦合成像器件 光电性能通用测试方法
T/CSA 048-2019 普通照明用发光二极管变电流/温度 光电特性测试方法
T/CAIA YQ003-2016 光谱仪器用线阵CCD光电性能 通用测试方法
美国材料与试验协会，关于光电 测试的标准
ASTM D1447-07(2021) 通过光电测量的棉纤维的长度和长度均匀性的标准测试方法
ASTM F448-18 测量稳态初级光电流的标准测试方法
ASTM E2047-10 光电阵列湿绝缘完整性测试的标准试验方法
ASTM E1802-07 光电模件的隔湿完整性测试用标准试验方法
ASTM E1802-01 光电模件的隔湿组件试验的标准测试方法
ASTM E2047-99 光电阵列湿绝缘完整性测试的标准试验方法
ASTM E1802-96 光电模件的隔湿组件试验的标准测试方法
ASTM E973-91e1 测量光电装置与光电参考电池之间光谱不协调参数的测试方法
工业和信息化部，关于光电 测试的标准
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
中华全国供销合作总社，关于光电 测试的标准
GH/T 1306-2020 籽棉颜色测试方法 光电法
，关于光电 测试的标准
KS A ISO 7832:2018 摄影 - 摄影型音频级测试胶片的光电输出因子 - 测量和校准
KS C 6991-2001(2011) 用于光传输的测试方法所述的光电二极管
行业标准-电子，关于光电 测试的标准
SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
SJ/T 11460.6.2-2015 液晶显示用背光组件 第6-2部分:测试方法 动态光学与光电参数
SJ/T 11460.6.1-2015 液晶显示用背光组件 第6-1部分:测试方法 光学与光电参数
SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
SJ 20939-2005 微波光纤传输系统收发模块.光电参数测试方法
SJ 20792-2000 微通道板光电倍增管测试方法
SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
SJ 2354.7-1983 PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
SJ 2354.11-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
SJ 2354.14-1983 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
SJ 2354.6-1983 PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
SJ 2354.13-1983 雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
SJ 2354.4-1983 PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
SJ 2354.12-1983 雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
SJ/T 2354-2015/0352 PIN、雪崩光电二极管测试方法
SJ/Z 9011.3-1987 光敏器件的测试 第3部分：用于可见光谱的光电导管的测试方法
SJ/Z 9011.4-1987 光敏器件的测试 第４部分：光电倍增管的测试方法
国际标准化组织，关于光电 测试的标准
ISO 14605:2013 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).室内照明环境用测试半导体光电材料光源
行业标准-邮电通信，关于光电 测试的标准
YD/T 1527-2013 光电(波长/模式)转换器技术要求及测试方法
YD/T 1527-2006 光电(波长/模式)转换器技术要求和测试方法
国际电工委员会，关于光电 测试的标准
IEC 60462-2010 核仪器 - 用于闪烁计数的光电倍增管 - 测试程序
IEC 62088-2001 核仪器 - 用于闪烁探测器的光电二极管 - 测试程序
德国标准化学会，关于光电 测试的标准
DIN EN 61730-2-2007 光电(PV)模件安全合格鉴定.第2部分:测试要求
DIN EN 2591-218-2003 航空航天系列.光电连接元件.试验方法.第218部分:温度电流循环测试终端接线片和连机连接的老化
台湾地方标准，关于光电 测试的标准
CNS 15116-2007 太阳光电模块紫外线测试
CNS 15118-2-2007 太阳光电模块之安全确认－第2部：测试要求
CNS 15120-2007 太阳光电发电系统用之二次电池－一般要求与测试方法
CNS 13059-7-2002 光电伏打组件(第七部：光电伏打组件测试中所产生光谱不匹配误差之计算)
CNS 13059.7-2002 光电伏打组件（第七部：光电伏打组件测试中所产生光谱不匹配误差之计算）
法国标准化协会，关于光电 测试的标准
NF C57-111-2-2007 光电器件(PV)模件安全合格鉴定.第2部分:测试要求
欧洲标准化委员会，关于光电 测试的标准
EN 2591-6321-2005 航空航天系列.光电连接件的试验方法.第6321部分:光学元件湿热测试,循环试验
EN 2591-415-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第415部分:测试探针损伤(塞孔接点)
EN 2591-6415-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第6415部分:光学元件.探针损伤测试
行业标准-兵工民品，关于光电 测试的标准
WJ 2264-2005 带前放光电探测器测试方法
WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法
英国标准学会，关于光电 测试的标准
BS EN 61290-2-3-1998 光纤放大器.基本规范.光电参数测试方法.光电仪
欧洲航空工业协会，关于光电 测试的标准
AECMA PREN 2591-E12-1993 航空航天系列.光电连接元件 试验方法 E7部分:密封连接器外壳永久性安装的有效性测试
AECMA PREN 2591-G6-1993 航空航天系列.光电连接元件.试验方法G6部分-电动元素传输测试
AECMA PREN 2591-D15-1992 航空航天系列.光电连接元件 试验方法 D15部分:测试探针损伤(塞孔接点)
AECMA PREN 2591-B7-1992 航空航天系列.光电连接元件 试验方法 B7部分:耐电压测试
美国电信工业协会，关于光电 测试的标准
TIA TSB-62-1993 光纤、光缆、光电源和光电探测器、传感器、连接和终端器件及其他光元件的信息测试方法
澳大利亚标准协会，关于光电 测试的标准
AS 4024.3-1998 机械安全防护．电敏系统的生产和测试要求．光电装置
