本专题涉及探针 表面的标准有62条。
国际标准分类中，探针 表面涉及到长度和角度测量、分析化学、词汇、管道部件和管道、有色金属产品、建筑材料、半导体材料。
在中国标准分类中，探针 表面涉及到基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、化学、数学、放大镜与显微镜、金属无损检验方法、金属化学性能试验方法、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、建筑构造与装饰工程。
国家质检总局，关于探针 表面的标准
GB/T 33523.602-2022 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 区域法 第602部分：非接触（共聚焦色差探针）式仪器的标称特性
GB/T 33523.605-2022 产品几何技术规范（GPS） 表面结构区域法 第605部分：非接触（点自动对焦探针）式仪器的标称特性
GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传输格式
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于探针 表面的标准
GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
国际标准化组织，关于探针 表面的标准
ISO 23729-2022 表面化学分析.原子力显微镜.有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南
ISO 18115-2-2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
ISO 21222-2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
ISO 11952-2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
ISO 11775:2015 表面化学分析 - 扫描探针显微镜 - 悬臂弹簧常数的测定
ISO 11775-2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
ISO 13083:2015 表面化学分析.扫描探针显微镜.用于2D掺杂成像和其他目的的电扫描探针显微镜（ESPM）的空间分辨率定义和校准标准 如SSRM和SCM
ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
ISO 13095:2014 表面化学分析 - 原子力显微镜 - 用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序
ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
ISO 11952:2014 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
ISO 11952-2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
ISO 25178-605-2014 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 第605部分: 非接触式(点自动对焦探针)仪器的标称特性
ISO 18115-2-2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
ISO 18115-2:2013 表面化学分析——词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
ISO 11039-2012 表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
ISO 11039:2012 表面化学分析——扫描探针显微镜——漂移率的测量
ISO 27911-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
ISO 27911:2011 表面化学分析——扫描探针显微镜——近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
ISO 28600-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜检查用数据传送格式
ISO 28600:2011 表面化学分析——扫描探针显微镜的数据传输格式
ISO 18115-2:2010 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
ISO 25178-602-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第602部分:非触点(共焦易染色探针)仪器的标称属性
ISO 18115-2-2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜检查中使用的术语
日本工业标准调查会，关于探针 表面的标准
JIS K0147-2-2017 表面化学分析. 词汇. 第2部分: 扫描探针显微镜用术语
英国标准学会，关于探针 表面的标准
BS ISO 11775-2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
BS ISO 11775-2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
BS ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
BS ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
BS ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
BS EN ISO 25178-605-2014 几何产品技术规范 (GPS). 表面结构: 平面式. 非接触 (点自动对焦探针) 仪器的标称特征
BS ISO 18115-2-2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
BS ISO 11039-2012 表面化学分析.扫面探针显微镜.漂移率的测定
BS ISO 11039-2012 表面化学分析.扫面探针显微镜.漂移率的测定
BS EN 1971-2-2011 铜和铜合金.铜及铜合金无缝圆管涡流探伤方法.用内部探针在内表面上试验
BS ISO 27911-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
BS ISO 28600-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
BS ISO 28600-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
BS ISO 18115-2-2010 表面化学分析.词汇表.扫描-探针显微镜检查中应用的术语
BS EN ISO 25178-602-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理.平面.非接触式(共焦彩色探针)仪器的标称特征
，关于探针 表面的标准
GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
GOST R 8.700-2010 确保测量一致性的国家体系.利用原子力扫描探针显微镜进行测量的表面粗糙度效果测高法
法国标准化协会，关于探针 表面的标准
NF E05-031-605-2014 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 第605部分: 非接触式(点自动对焦探针)仪器的标称特性
NF A05-115-1-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验
NF A05-115-2-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验
NF X21-069-2-2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜用术语.
NF E05-031-601-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第601部分:触点(探针)仪器的标称特性
NF E05-031-602-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第602部分:非触点(共焦易染色探针)仪器的标称特性
NF E05-031-701-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:触点(探针)仪器用测量和校准标准
欧洲标准化委员会，关于探针 表面的标准
EN ISO 25178-605-2014 产品几何技术规范(GPS).表面结构:区域.第605部分:非接触式(点自动聚焦探针)仪器的标称特性(ISO 25178-605:2014)
德国标准化学会，关于探针 表面的标准
DIN EN 1971-2-2012 铜和铜合金.在无缝圆铜和铜合金管上的测量缺陷的涡流试验.第2部分:在内表面使用内部探针的试验.德文版本EN 1971-2-2011
DIN EN ISO 25178-602-2011 产品几何技术规范(GPS)-表面纹理:平面.第602部分:非接触式(共焦彩色探针)仪器的标称特征(ISO 25178-602-2010);德文版本EN ISO 25178-602-2010
美国材料与试验协会，关于探针 表面的标准
ASTM F2420-05 用相对湿度探针测量和绝缘罩测定混凝土地板表面相对湿度的标准试验方法
ASTM F2420-2005 用相对湿度探针测量法和绝缘盖测定混凝土地板表面相对湿度的标准试验方法
ASTM F2420-2005(2011) 用相对湿度探针测量法和绝缘盖测定混凝土地板表面相对湿度的标准试验方法
ASTM F672-88(1995)e1 用扩展电阻探针测量垂直于硅片表面电阻率分布的标准试验方法
