本专题涉及膜 厚仪 技术的标准有8条。
国际标准分类中,膜 厚仪 技术涉及到金属材料试验、集成电路、微电子学。
在中国标准分类中,膜 厚仪 技术涉及到贵金属及其合金分析方法、金属物理性能试验方法、金属工艺性能试验方法、金属力学性能试验方法、膜集成电路。
国家质检总局,关于膜 厚仪 技术的标准
GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
GB/T 17473.7-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验
GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
行业标准-电子,关于膜 厚仪 技术的标准
SJ 2232-1982 厚膜、薄膜集成电路金属外壳技术条件





