本专题涉及应变梯度 测量的标准有10条。
国际标准分类中，应变梯度 测量涉及到集成电路、微电子学、摄影技术。
在中国标准分类中，应变梯度 测量涉及到微电路综合、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于应变梯度 测量的标准
GB/T 34894-2017 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
美国材料与试验协会，关于应变梯度 测量的标准
ASTM E2246-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
ASTM E2246-11 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
ASTM E2246-11e1 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
ASTM E2246-2011e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E2246-2011 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E2246-05 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
ASTM E2246-2005 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
ASTM E2246-02 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
ASTM E2246-2002 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
