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硅铜检测

本专题涉及硅铜的标准有224条。

国际标准分类中,硅铜涉及到有色金属、铁合金、金属矿、分析化学、金属材料试验、电线和电缆、有色金属产品、钢铁产品、粉末冶金、航空航天制造用材料、导体材料、黑色金属、紧固件、电工器件、航空航天制造用紧固件、集成电路、微电子学、航空航天制造用零部件。

在中国标准分类中,硅铜涉及到贵金属及其合金分析方法、钢铁与铁合金分析方法、铁矿、铸造、贵金属及其合金、轻金属及其合金分析方法、半金属及半导体材料分析方法、电子技术专用材料、锰矿、重金属及其合金分析方法、稀有金属及其合金分析方法、、、、重金属及其合金、铁合金、裸电线、重金属矿、粉末冶金分析方法、原油、有色金属及其合金产品综合、航空与航天用金属铸锻材料、电缆及其附件、轻金属及其合金、紧固件、仪器、仪表用材料和元件、电工合金零件、土壤、肥料综合、商业、贸易、合同、紧固件、电工绝缘材料及其制品、半导体集成电路、锻压。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于硅铜的标准

GB/T 34609.2-2020 铑化合物化学分析方法 第2部分:银、金、铂、钯、铱、钌、铅、镍、铜、铁、锡、锌、镁、锰、铝、钙、钠、钾、铬、硅含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 8704.10-2020 钒铁 硅、锰、磷、铝、铜、铬、镍、钛含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 38812.3-2020 直接还原铁 硅、锰、磷、钒、钛、铜、铝、砷、镁、钙、钾、钠含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 38441-2019 生铁及铸铁 铬、铜、镁、锰、钼、镍、磷、锡、钛、钒和硅的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 36592-2018 铑粉化学分析方法 铂、钌、铱、钯、金、银、铜、铁、镍、铝、铅、锰、镁、锡、锌、硅的测定 电感耦合等离子体质谱法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于硅铜的标准

GB/T 34499.2-2017 铱化合物化学分析方法 第2部分: 银、金、铂、钯、铑、钌、铝、铜、铁、镍、 铅、镁、锰、锡、锌、钙、钠、钾、硅的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 33909-2017 纯铂化学分析方法 钯、铑、铱、钌、金、银、铝、铋、铬、铜、铁、镍、铅、镁、锰、锡、锌、硅量的测定 电感耦合等离子体质谱法

GB/T 4702.6-2016 金属铬 铁、铝、硅和铜含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

国家质检总局,关于硅铜的标准

GB/T 14849.8-2015 工业硅化学分析方法 第8部分:铜含量的测定 原子吸收光谱法

GB/T 29056-2012 硅外延用三氯氢硅化学分析方法.硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷和锑量的测定 电感耦合等离子体质谱法

GB/T 24519-2009 锰矿石 镁、铝、硅、磷、硫、钾、钙、钛、锰、铁、镍、铜、锌、钡和铅含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法

GB/T 24585-2009 镍铁 磷、锰、铬、铜、钴和硅含量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 24197-2009 锰矿石.铁、硅、铝、钙、钡、镁、钾、铜、镍、锌、磷、钴、铬、钒、砷、铅和钛含量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 24198-2009 镍铁.镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜含量的测定.波长色散X-射线荧光光谱法(常规法)

GB/T 23613-2009 锇粉化学分析方法.镁、铁、镍、铝、铜、银、金、铂、铱、钯、铑、硅量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 23275-2009 钌粉化学分析方法.铅、铁、镍、铝、铜、银、金、铂、铱、钯、铑、硅量的测定.辉光放电质谱法

GB/T 5121.23-2008 铜及铜合金化学分析方法.第23部分:硅含量的测定

GB/T 8647.10-2006 镍化学分析方法 砷 镉 铅 锌 锑 铋 锡 钴 铜 锰 镁 硅 铝 铁量的测定 发射光谱法

GB/T 5121.23-1996 铜及铜合金化学分析方法 硅量的测定

GB/T 13293.11-1991 高纯阴极铜化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量

,关于硅铜的标准

TS 2849-1977 钢铁的化学分析法.钨、碳、锰、磷和硫、硅、砷、铜、锡和锑含量的测定

TS 2324-1976 钢铁钼铁化学分析方法.钼、碳、硫、磷、硅和铜含量的测定

TS 2224-1976 铜合金铜铬合金化学分析方法.铜、铬、硅和铁含量分析

TS 2223-1976 铜合金铜铍合金化学分析方法.铜、铍、硅和铁含量分析

工业和信息化部,关于硅铜的标准

YS/T 1563.3-2022 钼铼合金化学分析方法 第3部分:铝、钙、铜、铁、镁、锰、硅、钛含量的测定 电感耦合等离子原子发射光谱法

YS/T 568.12-2022 氧化锆、氧化铪化学分析方法 第12部分:氧化锆中硼、钠、镁、铝、硅、钙、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、钼、镉、铪、铅、铋含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

YS/T 1585.3-2022 银钨合金化学分析方法 第3部分:钴、铬、铜、镁、铁、钾、钠、锡、镍、硅、锌含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 1472.4-2021 富锂锰基正极材料化学分析方法? 第4部分:锂、镍、钴、钠、钾、铜、钙、铁、镁、锌、铝、硅含量的测定? 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 1464-2021 铌钨合金化学分析方法 钨、钼、锆、钽、硅、铁、铝、钛、铜量的测定

YB/T 4936-2021 锰铁、锰硅合金、金属锰 铜含量的测定 双环己酮草酰二腙分光光度法和火焰原子吸收光谱法

YB/T 4908.2-2021 钒铝合金 硅、铁、磷、硼、铬、镍、钨、铜、锰、钼含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 1379-2020 纯铂化学分析方法 钯、铑、铱、钌、金、银、铝、铋、铬、铜、铁、镍、铅、镁、锰、锡、锌、硅含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 1378-2020 纯钯化学分析方法 铂、铑、铱、钌、金、银、铝、铋、铬、铜、铁、镍、铅、镁、锰、锡、锌、硅含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 833-2020 铼酸铵化学分析方法 铍、镁、铝、钾、钙、钛、铬、锰、铁、钴、铜、锌、钼、铅、钨、钠、锡、镍、硅量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YB/T 4801-2020 锰铁、锰硅合金和金属锰 铅、砷、钛、铜、镍、钙、镁、铝含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 1263.4-2018 镍钴铝酸锂化学分析方法 第4部分:铝、铁、钙、镁、铜、锌、硅、钠、锰量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YB/T 4511-2017 直接还原铁 硅、锰、磷、钒、钛、铜、铝、砷、镁、钙、钾、钠含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 646.2-2017 铂化合物化学分析方法 第2部分:银、金、钯、铑、铱、钌、铅、镍、铜、铁、锡、铬、锌、镁、锰、铝、钙、钠、硅、 铋、钾的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 1197-2017 钯化合物化学分析方法 金、银、铂、铑、铱、钌、铅、镍、铜、铁、锡、铬、锌、镁、锰、铝、钙、钠、硅、铋、钾、镉的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 1119-2016 海绵钯化学分析方法 镁、铝、硅、铬、锰、铁、镍、铜、锌、钌、铑、银、锡、铱、铂、金、铅、铋的测定 电感耦合等离子体质谱法

中国团体标准,关于硅铜的标准

T/NXCL 009-2021 铍化学分析方法 铁、铝 、铬、铜、锰、镍、镁、锌、铅 和硅含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

T/CMES 08008-2020 钼铁 磷、铜、硅、锡、锑的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

美国材料与试验协会,关于硅铜的标准

ASTM B99/B99M-15(2021) 一般用途铜硅合金线的标准规范

ASTM B96/B96M-20 用于一般用途和压力容器的铜硅合金板 板 带和轧条的标准规范

ASTM B371/B371M-19 铜锌硅合金棒的标准规范

ASTM B98/B98M-13(2019) 铜硅合金棒材和型材标准规范

ASTM B422/B422M-17 铜铝硅钴合金, 铜镍硅镁合金, 铜镍硅合金, 铜镍铝镁合金和铜镍锡合金薄板和带材的标准规格

ASTM B96/B96M-16 用于一般用途和压力容器的铜硅合金板材, 薄板, 带材和轧制棒材的标准规格

ASTM B371/B371M-15 铜锌硅合金杆材的标准规格

ASTM B99/B99M-15 一般用途铜硅合金丝的标准规格

ASTM B98/B98M-13 铜硅合金杆材、棒材和型材标准规格

ASTM B99/B99M-11 一般用途铜硅合金电线的标准规格

ASTM B96/B96M-11 通用容器和压力容器的铜硅合金中厚板,薄板,条板及轧制棒材标准规格

ASTM B422-10 铜铝硅钴合金、铜镍硅锰合金、铜镍硅合金、铜镍铝锰合金以及铜镍锡合金薄板材和带材的标准规范

ASTM B422/B422M-10e1 铜-铝-硅-钴合金,铜-镍-硅-镁合金,铜-镍-硅合金,铜-镍-铝-镁合金,和铜-镍-锡合金片材和带材标准规格

ASTM F1845-08 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法

ASTM B98/B98M-08 铜硅合金杆材、棒材和型材标准规范

ASTM B371/B371M-08 铜锌硅合金条的标准规范

ASTM F1845-08(2016) 采用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝铜, 铝硅和铝铜硅合金中的痕量金属杂质的标准试验方法

ASTM B371/B371M-08(2013) 铜锌硅合金条的标准规格

ASTM B422-06 铜-铝-硅-钴合金、铜-镍-硅-镁合金、铜-镍-硅合金、铜-镍-铝-镁合金和铜-镍-锡合金薄板材和带材的标准规范

ASTM B99/B99M-06 一般用途的铜硅合金线的标准规范

ASTM B96/B96M-06 一般及压力容器用铜硅合金板、薄板、带材及轧制棒材的标准规范

ASTM B422-05 铜铝硅钴合金、铜镍硅镁合金、铜镍硅合金、铜镍铝镁合金和铜镍锡合金薄板材和带材的标准规范

ASTM B422-04 铜铝硅钴合金、铜镍硅镁合金、铜镍硅合金、铜镍铝镁合金及铜镍锡合金薄板和带材标准规范

ASTM B422-03 铜铝硅钴合金、铜镍硅镁合金、铜镍硅合金、铜镍铝镁合金及铜镍锡合金薄板和带材标准规范

ASTM B422-99 铜铝硅钴合金、铜镍硅镁合金、铜镍硅合金、铜镍铝镁合金及铜镍锡合金薄板和带材标准规范

ASTM B98/B98M-97 铜硅合金棒材和型材标准规范

ASTM F1845-97(2002) 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法

ASTM F1845-97 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法

河北省标准,关于硅铜的标准

DB13/T 2855-2018 钼铁 硅、磷和铜含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

国家质量监督检验检疫总局,关于硅铜的标准

SN/T 4757-2017 出口钒铁中硅、铝、锰、磷、铜、镍、铬、钛的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

海关总署,关于硅铜的标准

HS/T 51-2016 硅铁中铝、硅、钙、铬、锰、铁、铜含量的测定

行业标准-有色金属,关于硅铜的标准

YS/T 1085-2015 精炼镍 硅、锰、磷、铁、铜、钴、镁、铝、锌、铬含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

YS/T 1006.2-2014 镍钴锰酸锂化学分析方法 第2部分:锂、镍、钴、锰、钠、镁、铝、钾、铜、钙、铁、锌和硅量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 981.1-2014 高纯铟化学分析方法 镁、铝、硅、硫、铁、镍、铜、锌、砷、银、镉、锡、铊、铅的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法

YS/T 904.3-2013 铁铬铝纤维丝化学分析方法 第3部分:硅、锰、钛、铜、镧、铈量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 928.4-2013 镍、钴、锰三元素氢氧化物化学分析方法 第4部分:铁、钙、镁、铜、锌、硅、铝、钠量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 861.1-2013 铌钛合金化学分析方法 第1部分:铝、镍、硅、铁、铬、铜、钽量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 35-2012 高纯锑化学分析方法 镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、硒含量的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法

YS/T 281.16-2011 钴化学分析方法.第16部分:砷、镉、铜、锌、铅、铋、锡、锑、硅、锰、铁、镍、铝、镁量的测定.直流电弧原子发射光谱法

YS/T 226.13-2009 硒化学分析方法.第13部分:银、铝、砷、硼、汞、铋、铜、镉、铁、镓、铟、镁、镍、铅、硅、锑、锡、碲、钛、锌量的测定.电感耦合等离子体质谱法

YS/T 470.1-2004 铜铍合金化学分析方法.电感耦合等离子体发射光谱法测定.铍、钴、镍、钛、铁、铝、硅、铅、镁量

行业标准-稀土,关于硅铜的标准

XB/T 618.1-2015 钕镁合金化学分析方法 第1部分:铝、铜、铁、镍和硅量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

XB/T 617.3-2014 钕铁硼合金化学分析方法 第3部分:硼、铝、铜、钴、镁、硅、钙、钒、铬、锰、镍、锌和镓量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

XB/T 614.6-2011 钆镁合金化学分析方法.第6部分:铝、钙、铜、铁、镍、硅量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱法

广西壮族自治区标准,关于硅铜的标准

DB45/T 1106-2014 赤泥磁选铁精矿中硅、铝、硫、磷、砷、铜、锌、铅和钛元素含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

行业标准-商品检验,关于硅铜的标准

SN/T 4026-2014 日用玻璃产品中铝、铁、钙、镁、钠、钾、钛、铅、镉、硅、锌、铜的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

SN/T 3916-2014 钼精矿中钼、铁、铅、铜、硅、钙元素的含量测定 波长色散X射线荧光光谱法

SN/T 3915-2014 铝及铝合金中镁、硅、钛、锰、铁、镍、铜、锌、镓的测定 X射线荧光光谱法

SN/T 2763.7-2014 红土镍矿化学分析方法 第7部分;铁、镍、硅、铝、镁、钙、钛、锰、铜和磷含量的测定 波长色散X荧光光谱法

SN/T 3789-2014 不锈钢中铝、钴、铜、锰、钼、镍、磷、硫、硅、钛的测定 波长色散X射线荧光光谱法

SN/T 3604-2013 锌精矿中铜、硅、镁、锌、铝、铁含量的测定 X射线荧光光谱法

SN/T 3343-2012 不锈钢中锰、磷、硅、铬、镍、铜、钼和钛含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

SN/T 3367-2012 钛铁中钛、铝、硅、磷、铜、锰含量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱法

SN/T 3187-2012 原油中钠、镁、铝、硅、钙、钒、铁、镍、铜、铅、砷的测定.波长色散X射线荧光光谱法

SN/T 2619-2010 金属铬中铝、锑、砷、铋、铜、铁、铅、硅、锡杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

SN/T 2264-2009 铝合金中铜、铁、镁、锰、硅、钛、钒、锌和锆的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱法

SN/T 0750-1999 进出口碳钢、低合金钢中铝、砷、铬、钴、铜、磷、锰、钼、镍、硅、锡、钛、钒、含量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法

日本工业标准调查会,关于硅铜的标准

JIS H1632-2-2014 钛.ICP等离子发射光谱仪.第2部分:钯、锰、铁、镁、硅、铝、钒、镍、铬、锡、铜、钼、锆、铌、钽、钴和钇的测定

JIS G1258-1-2007 铁和钢.电感耦合等离子(ICP)原子发射光谱分析法.第1部分:硅、锰、磷、镍、铬、钼、铜、钒、钴、钛和铝含量的测定.酸中分解和硫酸钾中熔化

JIS G1258-3-2007 铁和钢.电感耦合等离子(ICP)原子发射光谱分析法.第3部分:硅、锰、磷、镍、铬、钼、铜、钒、钴、钛和铝含量的测定.酸中分解和碳酸钠中熔化

JIS H1061-2006 铜和铜合金中硅含量的测定方法

JIS H1061-1998 铜和铜合金中硅含量的测定方法

JIS H1061-1989 铜及铜合金中的硅含量测定方法

韩国标准,关于硅铜的标准

KS D 1887-2012 铜和铜合金中硅含量测定方法

行业标准-黑色冶金,关于硅铜的标准

YB/T 4231-2010 硅钡铝、硅钙钡和硅钙钡铝合金铝、钡、铁、钙、锰、铜、铬、镍和磷含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法

英国标准学会,关于硅铜的标准

BS 3B 25-2009 铜-镍-硅合金条材、棒材、型材、锻坯和锻件的规范(热处理)

BS 3B 26-2009 铜-镍-硅合金条材、棒材和型材规范(溶液处理、冷加工以及沉淀加工)

BS 3B 27-2009 铜-锌-铝-镍-硅合金管规范

BS 2B 27-2002 铜锌铝镍硅合金管材

BS 7317-6-1990 高纯度铜阴极Cu-CATH-1分析方法.分光光度法对磷和硅的测定方法

BS 7L 37-1989 铝-铜-镁-硅-锰合金的整体冷锻制铆钉用金属线规范(用于溶解处理和自然老化状态)(直径不超过10 mm)(Cu 4.4, Mg 0.5, Si 0.7, Mn 0.8)(2014A)

BS L 168-1978 铝-铜(4.4)-镁(0.5)-硅(0.7)-锰(0.8)合金棒材和挤压型材规范(固溶处理和人工时效)(直径不超过200mm或较小的截面尺寸)

BS L 166-1978 铝涂层铝-铜(4.4)-镁(0.5)-硅(0.8)-锰(0.8)合金紧公差薄板材和带材规范(溶液处理和室温时效)

BS L 165-1978 铝涂层铝-铜(4.4)-镁(0.5)-硅(0.8)-锰(0.8)合金薄板材和带材规范(固溶处理和人工时效的)

BS L 163-1978 铝涂层铝-铜-镁-硅-锰合金薄板材和带材规范(溶液处理、冷加工压平和室温老化)(Cu 4.4、Mg 0.5、Si 0.8、Mn 0.8)

BS L 158-1978 铝-铜-镁-硅-锰合金(室温溶解处理和老化)紧公差薄板材和带材规范(Cu 4.4、Mg 0.5、Si 0.8、Mn 0.8)

BS L 167-1978 铝-镀铝-铜(4.4)-镁(0.5)-硅(0.8)-锰合金紧公差薄板材和带材规范(固溶处理和人工时效的)

BS L 164-1978 铝涂层的铝-铜-镁-硅-锰合金(室温溶解处理和老化)薄板材和带材规范(Cu 4.4、Mg 0.5、Si 0.8、Mn 0.8)

BS L 159-1978 铝-铜(4.4)-镁(0.5)-硅(0.8)-锰(0.8)合金紧公差薄板材和带材规范(溶液处理和人工时效)

BS L 154-1977 铝-铜(4)-硅(1)合金铸锭和铸件规范(溶液处理和室温时效)

BS L 155-1977 铝-铜(4)-硅(1)合金铸锭和铸件规范(溶液处理和人工时效)

BS L 117-1975 铝-镁(1.0)-硅(0.6)-铜(0.28)-铬(0.2)合金管规范(溶液处理和人工时效:未经液压试验)(厚度小于10mm)

BS L 118-1975 铝-镁(1.0)-硅(0.6)-铜(0.28)-铬(0.2)合金管规范(溶液处理和人工时效:液压试验)(壁厚度小于10mm)

BS L 105-1971 铝-铜(4.4)-镁(0.5)-硅(0.7)-锰(0.8)合金管材规范(固溶处理和室温效)(壁厚度小于10mm)

BS 2L 77-1971 铝-铜(4.4)-镁(0.5)-硅(0.7)-锰(0.8)合金锻坯和锻件的规范(溶解和沉淀处理)

BS L 102-1971 铝-铜-镁-硅-锰合金棒材和挤压型材(Cu 4.4, Mg 0.5, Si 0.7, Mn 0.8)规格(溶液处理和室温老化)(直径或截面尺寸小于200 mm)

BS 3L 63-1971 铝-铜-(4.4)-镁(0.5)-硅(0.7)-锰(0.8)合金管规范(溶解和沉淀处理)

BS 2L 85-1971 铝-铜(1.5)-硅(1)和镁(0.8)合金锻坯、棒材、挤压型材和锻件规范(溶解处理和沉淀处理)

BS 2L 93-1971 铝-铜-镁-硅-锰合金板规范(溶解处理、受控拉伸和沉淀处理)(Cu 4.4、Mg 0.5、Si 0.7、Mn 0.8)

BS 2L 83-1971 铝-铜(2)-镍(1)-镁(1)-铁(0.9)-硅(0.9)合金锻坯、棒材、挤压型材和锻件规范(溶解处理和沉淀处理)

BS 2L 87-1971 用于制造螺母、联轴节和机加工中空零部件的铝-铜(4.4)-镁(0.5)-硅(0.7)-锰(0.8)合金六角棒材规范(固溶处理和沉淀处理)(周边无不对称的粗晶粒)(对边尺寸小于36MM大于14MM)

BS L 103-1971 铝-铜-镁-硅-锰合金(室温溶解处理和老化)锻坯和锻件规范(Cu 4.4、Mg 0.5、Si 0.7、Mn 0.8)

BS 3L 78-1970 铝-硅(5)-铜(1.2)-镁(0.5)合金铸锭和铸件规范(固溶处理和热处理)

BS 3L 51-1970 铝-硅(2.5)-铜(1.2)-镍(1.0)-镁(0.1)-铁(1.0)合金铸锭和铸件规范(沉淀热处理)

(美国)福特汽车标准,关于硅铜的标准

FORD SS-M2A9001-A-2009 硅-铜铝合金*与标准FORD WSS-M99P1111-A一起使用*

FORD WSS-M2A137-B7-2005 耐高温共晶硅、铜、镍、镁铝合金*与标准FORD WSS-M99P1111-A一起使用*

FORD SS-M2A9001-A-2003 硅-铜铝合金*与标准FORD WSS-M99P1111-A一起使用*

美国国防后勤局,关于硅铜的标准

DLA QPL-8777-24 NOTICE 1-2008 600伏200摄氏度硅绝缘铜电线

DLA MS27110 REV D-2004 200度600 伏氟树脂外皮含铜电工-硅绝缘电线

DLA MS16211 REV A NOTICE 2-2000 UNC-2B型无磁铜硅合金未完成正规方形平螺母

DLA MS16216 REV B NOTICE 2-1999 无磁铜硅合金圆头木螺栓

DLA MS16199 REV B NOTICE 2-1999 (82度)铜硅合金无磁平头钻平槽木螺丝

DLA MS16207 REV C NOTICE 3-1999 UNC-2A型无磁铜硅合金圆头方颈螺栓

DLA MS16201 REV A NOTICE 3-1997 铜硅合金开槽平头钻锥点滞后螺栓

DLA SMD-5962-96895-1997 双互补金属氧化物半导体,光学的铜传播器接口硅单片电路数字微电路

DLA SMD-5962-96896-1997 双互补金属氧化物半导体,光学的铜接收器接口硅单片电路数字微电路

DLA MS16216 REV B VALID NOTICE 1-1991 无磁铜硅合金圆头木螺栓

DLA MS16199 REV B VALID NOTICE 1-1991 (82度)铜硅合金无磁平头钻平槽木螺丝

DLA MS16211 REV A VALID NOTICE 1-1991 UNC-2B型无磁铜硅合金未完成正规方形平螺母

DLA MS16207 REV C VALID NOTICE 2-1991 UNC-2A型无磁铜硅合金圆头方颈螺栓

DLA MS16201 REV A VALID NOTICE 2-1991 铜硅合金开槽平头钻锥点滞后螺栓

DLA MS16201 REV A VALID NOTICE 1-1986 铜硅合金开槽平头钻锥点滞后螺栓

DLA MS16207 REV C VALID NOTICE 1-1986 UNC-2A型无磁铜硅合金圆头方颈螺栓

DLA MS16207 REV C-1967 UNC-2A型无磁铜硅合金圆头方颈螺栓

DLA MS16199 REV B-1967 (82度)铜硅合金无磁平头钻平槽木螺丝

DLA MS16216 REV B-1967 无磁铜硅合金圆头木螺栓

DLA MS16201 REV A-1966 铜硅合金开槽平头钻锥点滞后螺栓

DLA MS16211 REV A-1966 UNC-2B型无磁铜硅合金未完成正规方形平螺母

美国机械工程师协会,关于硅铜的标准

ASME SEC II B SB-96-2001 一般目的和压力容器用铜硅合金板材、薄板、带材和轧制棒材规范.ASTM B96-93

ASME SEC II B SB-98/SB-98M-2001 铜硅合金杆材、棒材和型材规范.ASTM B98/B98M-98

美国机动车工程师协会,关于硅铜的标准

SAE AMS 4117H-2001 溶液和沉淀热处理滚轧或冷加工的铝合金棒材、杆材和线材及闪焊环 1.0镁 0.60硅 0.28铜 0.20铬

台湾地方标准,关于硅铜的标准

CNS 11942.11-2000 铜及铜合金中硅定量法

CNS 11942-11-2000 铜及铜合金中硅定量法

行业标准-机械,关于硅铜的标准

JB/T 9493.5-1999 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量

JB/T 9552.9-1999 铜铬锆合金化学分析方法.甲基异丁基酮萃取—钼蓝光度法测定硅

JB/T 9493.6-1999 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量

行业标准-林业,关于硅铜的标准

LY/T 1270-1999 森林植物与森林枯枝落叶层全硅、铁、铝、钙、镁、钾、钠、磷、硫、锰、铜、锌的测定

美国航空工业协会/国家航天工业标准,关于硅铜的标准

AIA/NAS NASM16205-1999 FSC 5306非磁性通用命名标准2A(硅青铜)铜硅合金六角形头半打磨正常机械螺栓

AIA/NAS NASM16218-1998 FSC 5305非磁性通用命名标准2A铜硅合金开槽平埋头机械螺钉

(美国)军事条例和规范,关于硅铜的标准

ARMY MIL-E-45829 A NOTICE 4-1998 裸露固体硅脱氧铜焊接电极

ARMY MIL-E-45829 A REINST NOTICE 3-1998 裸露固体硅脱氧铜焊接电极

ARMY MIL-E-45829 A-1970 裸露固体硅脱氧铜焊接电极

法国标准化协会,关于硅铜的标准

NF A08-760-1992 铜的化学分析.银、砷、铋、钙、钴、铬、铁、锰、镍、铅、锑、硒、硅、碲和锌测定.电热喷射原子吸收光谱法

NF A06-713-1970 铜和铜合金的化学分析.硅的分光光度计法测定

行业标准-电子,关于硅铜的标准

SJ 3198-1989 真空硅铝合金中硅、铁、镁、铜的发射光谱分析方法

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
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CNAS实验室认可证书
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高新技术企业证书
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精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

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高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

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扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

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精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

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模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

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