本专题涉及测量探针的标准有78条。
国际标准分类中，测量探针涉及到光学和光学测量、金属材料试验、电学、磁学、电和磁的测量、分析化学、电工和电子试验、机床、电子电信设备用机电元件、管道部件和管道、有色金属产品、长度和角度测量、电信设备用部件和附件、光学设备、陶瓷、建筑材料、检查、维修和试验设备、电子显示器件、半导体材料、电气工程综合、无损检测。
在中国标准分类中，测量探针涉及到电子光学与其他物理光学仪器、光学计量、半金属及半导体材料分析方法、基础标准与通用方法、化学、基础标准与通用方法、电工仪器、仪表综合、机床综合、连接器、家用清洁、整容器具、金属无损检验方法、金属化学性能试验方法、电缆及其附件、稀有金属及其合金分析方法、特种陶瓷、建筑构造与装饰工程、基础标准与通用方法、元素半导体材料、电气设备与器具综合。
国家质检总局，关于测量探针的标准
GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
德国标准化学会，关于测量探针的标准
DIN EN ISO 10360-5-2020 产品几何技术规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和验证试验. 第5部分: 使用离散点和/或扫描测量模式的单探针和多探针接触探测系统的坐标测量机(CMM)(ISO 10360-5-2020); 德文版 EN ISO 10360-5-2020
DIN EN 1971-2-2012 铜和铜合金.在无缝圆铜和铜合金管上的测量缺陷的涡流试验.第2部分:在内表面使用内部探针的试验.德文版本EN 1971-2-2011
DIN EN 60512-16-1-2009 电子设备用连接器 试验和测量 第16-1部分:触点和终端的机械试验 试验16a:探针故障
DIN EN 1071-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第4部分:使用电探针微量分析(EPMA)测量化学成分
DIN 50431-1988 半导体材料的试验.用探针直线排列的四探针/直流法测量单晶硅或锗单晶体的电阻率
DIN 50435-1988 半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化
美国材料与试验协会，关于测量探针的标准
ASTM B667-97(2019) 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
ASTM B667-97(2014) 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
ASTM B667-97(2009) 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
ASTM F2420-05 用相对湿度探针测量和绝缘罩测定混凝土地板表面相对湿度的标准试验方法
ASTM F2420-2005(2011) 用相对湿度探针测量法和绝缘盖测定混凝土地板表面相对湿度的标准试验方法
ASTM F2420-2005 用相对湿度探针测量法和绝缘盖测定混凝土地板表面相对湿度的标准试验方法
ASTM B667-97(2003)e1 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
ASTM F1711-96(2002) 用四点探针测量平板显示器制造用薄膜导体片电阻的标准实施规程
ASTM F672-88(1995)e1 用扩展电阻探针测量垂直于硅片表面电阻率分布的标准试验方法
ASTM F1392-00 用水银探针测量电容电压测定硅片中净载流子密度分布的标准试验方法
ASTM F1392-2000 用带汞探针的容量-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
ASTM B667-97 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
ASTM E1813-96e1 扫描探针显微镜学中探针针尖形状测量与报告的标准规程
ASTM E1813-96(2002) 扫描探针显微镜学中探针针尖形状测量与报告的标准规程
ASTM F1711-96 用四点探针测量平板显示器制造用薄膜导体片电阻的标准实施规程
ASTM F1393-92(1997) 用水银探针测量米勒反馈轮廓仪测定硅片中净载流子密度的标准试验方法
国际标准化组织，关于测量探针的标准
ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
ISO 11952-2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
ISO 22489-2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
ISO 230-10-2011/Amd 1-2014 用扫描探针测量性能
ISO 230-10 AMD 1-2014 机床试验规程.第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定.修改件1:配扫描探针的探测系统的测量性能
ISO 13095:2014 表面化学分析 - 原子力显微镜 - 用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序
ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
ISO 11952:2014 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
ISO 11952-2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
ISO 11039:2012 表面化学分析——扫描探针显微镜——漂移率的测量
ISO 22489-2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
ISO/TR 10305-2-2003 道路车辆.电磁场强度测量设备的校正.第2部分:9kHz-40GHz的电磁场传感器和探针(不包括天线)的校正用IEEE标准
国际电工委员会，关于测量探针的标准
IEC 61010-031:2015+AMD1:2018 CSV 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
IEC 61010-031-2015/AMD1-2018 修改件1.测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
IEC 61010-031-2015+AMD1-2018 CSV 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
IEC 61010-031:2015/AMD1:2018 修改件1.测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
IEC 60512-16-1-2008 电子设备用连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
IEC 61010-2-031-1993 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第2-031部分:电气测量和试验用手持探针的特殊要求
英国标准学会，关于测量探针的标准
BS ISO 22489-2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
BS ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
BS EN 60512-16-1-2008 电子设备用连接器.试验和测量.触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
BS ISO 22489-2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
法国标准化协会，关于测量探针的标准
NF C42-020-031-2015 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求
NF E60-100-10/A1-2014 机床试验规程. 第10部分: 数控机床探测系统测量性能的测定. 修改件1: 扫描探针的测量性能
NF A05-115-2-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验
NF A05-115-1-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验
NF E05-031-701-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:触点(探针)仪器用测量和校准标准
NF C93-400-16-1-2008 电子设备用连接器.试验和测量.第16-1:触点和终端的机械试验.试验16a:探针损伤
NF X21-006-2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
NF X21-003-2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南
NF A92-801-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第4部分:使用电探针微量分析法(EPMA)测量化学成分
NF C42-725-2002 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求
NF C42-725-1994 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第2-031部分:电气测量和试验用手持探针的特殊要求
，关于测量探针的标准
SANS 61010-2-031-1993 测量，控制和实验室用电气设备的安全性要求．第2．031部分：电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求
日本工业标准调查会，关于测量探针的标准
JIS C5402-16-1-2014 电子设备连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
JIS C5402-16-1-2014 电子设备连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
JIS C1010-2-31-1998 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第2-31部分:电气测量和试验用手持探针组件的特殊要求
韩国标准，关于测量探针的标准
KS D ISO 22489-2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
KS D ISO 22489-2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
美国保险商实验所，关于测量探针的标准
UL 1017 CRD-2012 真空吸尘器, 吹风机和家用地板整理机的UL安全标准. 节/段落参考: 图25主题: 修正图25探针测量"D" (第八版: 2010年9月10日)
欧洲电工标准化委员会，关于测量探针的标准
EN 60512-16-1-2008 电子设备用连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
美国国家标准学会，关于测量探针的标准
ANSI/SCTE 48-2-2008 使用闭合灵敏磁场探针测量有源和无源同轴电缆装置的相关屏蔽作用的试验程序
欧洲标准化委员会，关于测量探针的标准
EN 1071-4-2006 先进技术陶瓷.陶瓷涂层用试验方法.第4部分:使用电探针微量分析(EPMA)测量化学成分;代替ENV 1071-4-1995
澳大利亚标准协会，关于测量探针的标准
AS 61010.031-2004 测量，控制以及实验室用电气设备的安全要求．电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求
AS 61010.031-2004 测量，控制以及实验室用电气设备的安全要求．电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求
