本专题涉及荧光 厚度仪的标准有13条。
国际标准分类中，荧光 厚度仪涉及到表面处理和镀涂、分析化学、长度和角度测量、珠宝。
在中国标准分类中，荧光 厚度仪涉及到电子元件综合、电化学、热化学、光学式分析仪器、金属无损检验方法、材料防护、工艺美术品、其他日用品、电容器。
国家质检总局，关于荧光 厚度仪的标准
GB/T 11250.2-1989 复合金属覆层厚度的测定 Χ荧光法
美国材料与试验协会，关于荧光 厚度仪的标准
ASTM D7639-10(2018) 通过X射线荧光测定金属基板上锆的处理重量或厚度的标准测试方法
ASTM D7639-10(2014) 通过X射线荧光测定金属基板上锆的处理重量或厚度的标准测试方法
ASTM D7639-10 通过X射线荧光测定金属基板上锆的处理重量或厚度的标准测试方法
ASTM D7639-2010 X射线荧光法测定金属基底上的锆处理重量或厚度的标准试验方法
ASTM D7639-2010(2014) 使用X射线荧光法测定金属基体上的锆处理重量或厚度的标准试验方法
ASTM A754/A754M-2008 X射线荧光涂层厚度的标准试验方法
工业和信息化部/国家能源局，关于荧光 厚度仪的标准
JB/T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪
行业标准-轻工，关于荧光 厚度仪的标准
QB/T 1135-2006 首饰 金 银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
QB/T 1912-1993 眼镜架金属镀层厚度测试方法.X荧光光谱法
QB/T 1135-1991 首饰金银覆盖层厚度的测定方法.X射线荧光光谱法
美国电子元器件、组件及材料协会，关于荧光 厚度仪的标准
ECA CB-13-1990 镀层厚度测定的X射线荧光
行业标准-电子，关于荧光 厚度仪的标准
SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法
