本专题涉及薄膜的弯曲测试的标准有9条。
国际标准分类中，薄膜的弯曲测试涉及到半导体分立器件、电子电信设备用机电元件。
在中国标准分类中，薄膜的弯曲测试涉及到其他、半导体分立器件综合。
，关于薄膜的弯曲测试的标准
KS C IEC 62047-8-2015(2020) 半导体器件 - 微机电装置 - 第8部分:带弯曲为薄膜的拉伸性能测定的测试方法
日本工业标准调查会，关于薄膜的弯曲测试的标准
JIS C5630-12-2014 半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法
英国标准学会，关于薄膜的弯曲测试的标准
BS EN 62047-18-2013 半导体器件.微型机电装置.薄膜材料的弯曲测试方法
国际电工委员会，关于薄膜的弯曲测试的标准
IEC 62047-18-2013 半导体器件 - 微机电器件 - 第18部分:薄膜材料的弯曲测试方法
IEC 62047-18:2013 半导体器件.微型机电器件.第18部分:薄膜材料的弯曲测试方法
IEC 62047-12-2011 半导体器件 - 微机电器件 - 第12部分:使用谐振器振荡的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法
IEC 62047-12:2011 半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法
法国标准化协会，关于薄膜的弯曲测试的标准
NF C96-050-12-2012 半导体器件 - 微型机电装置 - 第12部分: 使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法.
德国标准化学会，关于薄膜的弯曲测试的标准
DIN EN 62047-12-2012 半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法(IEC 62047-12-2011).德文版本EN 62047-12-2011
