本专题涉及硅晶片 元素的标准有2条。
国际标准分类中,硅晶片 元素涉及到集成电路、微电子学、分析化学。
在中国标准分类中,硅晶片 元素涉及到半导体分立器件综合、基础标准与通用方法。
德国标准化学会,关于硅晶片 元素的标准
DIN 51456-2013 半导体技术用材料的试验. 使用电感耦合等离子体质谱法 (ICP-MS) 通过水分析解决方案的多元素测定进行硅晶片的表面分析
国际标准化组织,关于硅晶片 元素的标准
ISO 17331:2004/Amd 1:2010 表面化学分析.硅晶片加工标准物质表面元素收集用化学方法和及其光分析仪(TXRF)光谱学测定.修改件1





