本专题涉及放电器件的标准有42条。
国际标准分类中，放电器件涉及到半导体分立器件、电学、磁学、电和磁的测量、电子管、词汇。
在中国标准分类中，放电器件涉及到输变电设备、半导体分立器件综合、物理学与力学、电子元器件、基础标准与通用方法、基础标准与通用方法。
国际电工委员会，关于放电器件的标准
IEC 60749-28:2022 半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级
IEC 60749-28-2022 RLV 半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级
IEC 60749-28-2022 半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级
IEC 60749-28:2022 RLV 半导体器件.机械和气候试验方法.第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.带电器件模型（CDM）.器件级
IEC 60749-26-2018 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分:静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）
IEC 60749-26:2018 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分:静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）
IEC 60749-28-2017 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第28部分:静电放电（ESD）灵敏度试验 - 带电器件模型（CDM） - 器件电平
IEC 60749-28:2017 半导体器件. 机械和气候试验方法. 第28部分: 静电放电(ESD)灵敏度试验. 带电器件模型(CDM). 器件级
IEC 60749-26-2013 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分:静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）
IEC 60749-26:2013 半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电敏感性(ESD)测试.人体模型(HBM)
IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 修改件1.半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.机器模型（MM）
IEC 60749-27-2006/AMD1-2012 修改件1.半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电（ESD）灵敏度试验.机器模型（MM）
IEC 60749-27-2006+AMD1-2012 CSV 半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分: 27:静电放电（ESD）灵敏度测试-机器 型号（毫米）
IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV 半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分: 27:静电放电（ESD）灵敏度测试-机器 型号（毫米）
IEC 60749-27 Edition 2.1:2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)敏感度检测.机械模型(MM)
IEC 60749-27 AMD 1:2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)敏感度检验.机器模型(MM).修改件1
IEC 60749-27-2006 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第27部分:静电放电（esd）灵敏度测试 - 机器型号（mm）
IEC 60749-26:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电敏感性 (ESD)试验.人体模型(HBM)
IEC 60749-27:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
IEC 60749-27:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电灵敏度测试.机器模型
IEC 60749-26:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电敏感性试验.人体模型
IEC PAS 62162-2000 微电子器件静电放电耐受阈值的场致带电器件模型试验方法
IEC PAS 62162:2000 微电子器件静电放电耐受阈值的场致带电器件模型试验方法
IEC/PAS 62162:2000 微电子器件抗静电放电阈值的场诱导放电装置模型的试验方法
，关于放电器件的标准
KS C IEC PAS 62162-2002(2022) 微电子元件静电放电耐受阈值的场致带电器件模型试验方法
英国标准学会，关于放电器件的标准
BS EN 60749-28-2017 半导体器件. 机械和气候试验方法. 静电放电(ESD)灵敏度试验. 带电器件模型(CDM). 器件级
BS EN 60749-26-2014 半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.人体模型(HBM)
BS EN 60749-27-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
BS EN 60749-27-2006+A1-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
BS EN 60749-26-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.静电放电(ESD)灵敏度测试.人体模型(HBM)
行业标准-航天，关于放电器件的标准
QJ 2711A-2014 静电放电敏感器件安装工艺技术要求
QJ 2711-1995 静电放电敏感器件安装工艺技术要求
德国标准化学会，关于放电器件的标准
DIN EN 60749-26-2014 半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电(ESD)灵敏度试验.人体模型(HBM)(IEC 60749-26-2013).德文版本EN 60749-26-2014
DIN EN 60749-27-2013 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)敏感度检验.机器模型(MM).(IEC 60749-27-2006 + A1-2012).德文版本EN 60749-27-2006 + A1-2012
DIN EN 60749-26-2007 半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电(ESD)灵敏度试验.人体模型(HBM)
法国标准化协会，关于放电器件的标准
NF C96-022-27/A1-2013 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)敏感度检验.机器模型(MM)
欧洲电工标准化委员会，关于放电器件的标准
EN 61340-5-3-2010 静电学.第5-3部分:静电现象中电子器件的防护.静电放电敏感器件包装的特性和要求分类
EN 60749-27-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)IEC 60749-27-2006
