本专题涉及单粒子示踪的标准有58条。
国际标准分类中，单粒子示踪涉及到航空器和航天器综合、航空航天制造用零部件、分析化学、航空航天用电气设备和系统、粒度分析、筛分、半导体分立器件、电子元器件综合、公司(企业)的组织和管理、机上设备和仪器、空气质量。
在中国标准分类中，单粒子示踪涉及到电子元器件、基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、筛分、筛板与筛网、半导体分立器件、电子光学与其他物理光学仪器、物理学与力学、半导体分立器件综合、电气系统与设备、导航通讯系统与设备、电子元件综合、环境监测仪器及其成套装置、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于单粒子示踪的标准
GB/T 41270.7-2022 航空电子过程管理 大气辐射影响 第7部分：航空电子产品设计中单粒子效应分析过程管理
GB/T 41270.9-2022 航空电子过程管理 大气辐射影响 第9部分：航空电子设备单粒子效应故障率计算程序与方法
GB/T 39343-2020 宇航用处理器器件单粒子试验设计与程序
GB/T 35099-2018 微束分析 扫描电镜-能谱法 大气细粒子单颗粒形貌与元素分析
国家质检总局，关于单粒子示踪的标准
GB/T 35099-2018 微束分析 扫描电镜-能谱法 大气细粒子单颗粒形貌与元素分析
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于单粒子示踪的标准
GB/T 34955-2017 大气辐射影响 航空电子系统单粒子效应试验指南
GB/T 34956-2017 大气辐射影响 航空电子设备单粒子效应防护设计指南
GB/T 29024.4-2017 粒度分析 单颗粒的光学测量方法 第4部分：洁净间光散射尘埃粒子计数器
，关于单粒子示踪的标准
GOST R ISO 21501-4-2012 粒度分布测定. 单粒子光干扰法. 第4部分. 无菌空间光散射尘埃粒子计数器
国际电工委员会，关于单粒子示踪的标准
IEC TR 62396-8:2020 航空电子设备的过程管理大气辐射效应第8部分:航空电子设备中的质子、电子、π介子、μ子、α射线通量和单粒子效应意识指南
IEC TR 62396-8-2020 航空电子设备的过程管理大气辐射效应第8部分:航空电子设备中的质子、电子、π介子、μ子、α射线通量和单粒子效应意识指南
IEC 62396-1-2016 航空电子设备过程管理.环境辐射影响.第1部分:航空电子设备内部由单粒子效应引起的环境辐射影响的调节
IEC 62396-1-2016 航空电子设备过程管理.环境辐射影响.第1部分:航空电子设备内部由单粒子效应引起的环境辐射影响的调节
IEC 62396-5-2014 航空电子系统的过程管理. 大气辐射影响. 第5部分: 航空电子系统中热中子通量和单粒子效应评估
IEC 62396-2-2012 航空电子设备过程管理.环境辐射影响.第2部分:航空电子系统用单粒子事件检测导则
IEC 62396-1-2012 航空电子设备过程管理.环境辐射影响.第1部分:航空电子设备内部由单粒子效应引起的环境辐射影响的调节
国际标准化组织，关于单粒子示踪的标准
ISO 21501-3-2019 粒度分布的测定.单粒子光相互作用法.第3部分:消光液载粒子计数器
ISO 21501-2-2019 粒度分布的测定单粒子光相互作用法第2部分:光散射液载粒子计数器
ISO 21501-4:2018 粒度分布的测定 - 单粒子光相互作用方法 - 第4部分:清洁空间的光散射空气粒子计数器
ISO 21501-4-2018 粒径分布测定.单粒子光干扰法.第4部分:无菌空间光散射尘埃粒子计数器
ISO/TS 19590-2017 纳米技术 通过单粒子电感耦合等离子体质谱法测定水介质中无机纳米颗粒的尺寸分布和浓度
ISO 21501-1-2009 粒径分布测定.单粒子光干扰法.第1部分:光散射气溶胶谱仪
ISO 21501-1:2009 粒度分布的测定——单粒子光相互作用方法SPART 1:光散射气溶胶光谱仪
ISO 21501-2:2007 粒度分布的测定——单粒子光相互作用方法SPART 2:光散射液载粒子计数器
ISO 21501-3:2007 粒度分布的测定——单粒子光相互作用方法SPART 3:消光液载粒子计数器
ISO 21501-4:2007 粒度分布的测定——单粒子光相互作用方法SPART 4:洁净空间的光散射空气粒子计数器
ISO 21501-3-2007 粒径分布测定.单粒子光干扰法.第3部分:消光液载粒子计数器
ISO 21501-4-2007 粒径分布测定.单粒子光干扰法.第4部分:无菌空间光散射尘埃粒子计数器
ISO 21501-2-2007 粒径分布测定.单粒子光干扰法.第2部分:光散射液载粒子计数器
ISO 13323-1:2000 粒度分布的测定.单粒子光相互作用法.第1部分:光相互作用的考虑
英国标准学会，关于单粒子示踪的标准
BS ISO 21501-4-2018 粒度分布测定.单粒子光干扰法.无菌空间光散射尘埃粒子计数器
BS EN 60749-44-2016 半导体器件. 机械和气候试验方法. 半导体设备的中子束照射单粒子效应(SEE)试验方法
BS IEC 62396-1-2016 航空电子设备过程管理.大气辐射效应.调节航空电子设备内经单粒子效应的大气辐射作用
BS IEC 62396-1-2016 航空电子设备过程管理.大气辐射效应.调节航空电子设备内经单粒子效应的大气辐射作用
BS IEC 62396-1-2012 航空电子设备过程管理.大气辐射效应.调节航空电子设备内经单粒子效应的大气辐射作用
BS IEC 62396-5-2014 航空电子设备过程管理. 大气辐射影响. 航空电子系统中热中子通量和单粒子效应评估
BS ISO 21501-1-2009 粒度分布的测定.单粒子光干扰法.光散射气溶胶分光仪
BS ISO 21501-4-2007 粒度分布测定.单粒子光干扰法.无菌空间光散射尘埃粒子计数器
BS ISO 21501-3-2007 粒度分布测定.单粒子光干扰法.消光液载粒子计数器
BS ISO 21501-2-2007 粒度分布测定.单粒子光干扰法.光散射液载粒子计数器
BS DD IEC/TS 62396-1-2006 航空电子设备过程管理.大气辐射效应.调节航空电子设备内经单粒子效应的大气辐射作用
BS 3406-7-1988 粒度分布的测定方法.第7部分:单粒子光干涉法推荐规范
德国标准化学会，关于单粒子示踪的标准
DIN EN 60749-44-2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第44部分:半导体设备的中子束照射单粒子效应(SEE)试验方法(IEC 60749-44-2016);德文版本EN 60749-44-2016
美国材料与试验协会，关于单粒子示踪的标准
ASTM F50-2012(2015) 使用能够检测单亚微米和更大颗粒的仪器对粉尘控制区和洁净室内气载粒子进行定径和计数的标准实施规程
ASTM F50-2012 在控制尘埃区域和清洁室中用能够检测单次微米和大粒子仪器连续测定空气中悬浮微粒的大小及计数的标准实施规程
ASTM F1192-2011 半导体装置重离子辐照导致的单粒子效应现象(SEP)测量的标准指南
ASTM F328-98 用单分散球形粒子校准空气中粒子计数器的标准实施规程
ASTM F328-1998 用近向单发散球状粒子材料测定空气中粒子计数器的计数和尺寸的准确度
国家军用标准-总装备部，关于单粒子示踪的标准
GJB 7242-2011 单粒子效应试验方法和程序
GJB 6777-2009 军用电子元器件<左上标252>Cf源单粒子效应实验方法
美国国防后勤局，关于单粒子示踪的标准
DLA MIL-PRF-19500/634 C-2008 半导体装置,N通道晶体管场效应耐辐射(总剂量和单粒子效应),硅型号2N7405,2N7406,2N7407和2N7408,JANSD和JANSR
DLA MIL-PRF-19500/705 B-2008 半导体装置,N通道晶体管场效应耐辐射(总剂量和单粒子效应),硅型号2N7488T3,2N7489T3和2N7490T3,JANTXVR和JANSR
DLA MIL-PRF-19500/747-2008 半导体装置,场效应耐辐射(总剂量和单粒子效应)晶体管,N通道,硅,型号2N7504T2,JANTXVR,JANTXVF,JANTXVG,JANTXVH,JANSF,JANSG,JANSR和JANSH
DLA MIL-PRF-19500/683 C-2008 2N7467U2,JANTXVR,F,G和H 和JANSR,F,G和H型耐辐射N通道场效应晶体管(总剂量和单粒子效应)半导体装置
DLA MIL-PRF-19500/739-2006 场效应抗辐射半导体装置(总剂量和单粒子效应),N型通道和P型通道硅四晶体管,类型2N7518和2N7518U,JANTXVR,F和JANSR,F
行业标准-航天，关于单粒子示踪的标准
QJ 10005-2008 宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于单粒子示踪的标准
JEDEC JESD57-1996 重离子辐射中半导体设备的单粒子效应测量的测试规程
