本专题涉及物质 荧光 光谱的标准有30条。
国际标准分类中，物质 荧光 光谱涉及到电子元器件综合、化工产品、环境保护、电气工程综合、分析化学、道路车辆装置。
在中国标准分类中，物质 荧光 光谱涉及到电子元件综合、矿业综合、、基础标准和通用方法、基础标准与通用方法。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于物质 荧光 光谱的标准
GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于物质 荧光 光谱的标准
GB/T 33352-2016 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法
国家质检总局，关于物质 荧光 光谱的标准
GB/Z 21277-2007 电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选.X射线荧光光谱法
国际标准化组织，关于物质 荧光 光谱的标准
ISO 22863-4:2021 焰火.特殊化学物质测定的试验方法.第4部分:用X射线荧光光谱法（XRF）分析铅和铅化合物
ISO 22863-9:2021 烟花爆竹特殊化学物质测定的试验方法第9部分:氢化物发生原子荧光光谱法测定汞含量
ISO 22863-8:2021 烟花爆竹特殊化学物质测定的试验方法第8部分:氢化物发生原子荧光光谱法测定砷含量
ISO 17331-2004/Amd 1-2010 表面化学分析.硅片工作标准物质表面元素收集及其全反射X射线荧光光谱测定的化学方法.修改件1
ISO 17331:2004 表面化学分析——硅片工作标准物质表面元素收集的化学方法及其全反射X射线荧光光谱测定
，关于物质 荧光 光谱的标准
KS C IEC 62321-3-1-2014(2019) 电工产品中某些物质的测定第3-1部分:通过X射线荧光光谱法筛选铅 汞 镉 总铬和总溴
安徽省市场监督管理局，关于物质 荧光 光谱的标准
DB34/T 3368.1-2019 印制电路板中有害物质分析方法 第 1 部分：铅、汞、铬、镉和溴 的快速筛选 X 射线荧光光谱法
德国标准化学会，关于物质 荧光 光谱的标准
DIN EN 62321-4-2018 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞 (IEC 62321-4-2013+A1-2017); 德文版本EN 62321-4-2014+A1-2017
DIN EN 62321-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞 (IEC 62321-4-2013); 德文版本EN 62321-4-2014
DIN EN 62321-3-1-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第3-1部分: 筛选. 使用X射线荧光光谱法筛选的铅, 汞, 镉, 总铬和总溴量 (IEC 62321-3-1-2013); 德文版本EN 62321-3-1-2014
DIN EN 62321-5-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第5部分: 使用原子吸收光谱法, 原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物和电子产品中的镉, 铅和铬以及金属中的镉和铅 (IEC 62321-5-2013); 德文版本EN 62321-5-2014
国家质量监督检验检疫总局，关于物质 荧光 光谱的标准
SN/T 3999-2014 REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的快速筛选检测方法 波长色散X射线荧光光谱法
立陶宛标准局，关于物质 荧光 光谱的标准
LST EN 62321-5-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第5部分: 使用原子吸收光谱法, 原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物和电子产品中的镉, 铅和铬以及金属中的镉和铅(IEC 62321-5-2013)
LST EN 62321-3-1-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第3-1部分: 筛选. 使用X射线荧光光谱法筛选的铅, 汞, 镉, 总铬和总溴量(IEC 62321-3-1-2013)
LST EN 62321-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞(IEC 62321-4-2013)
法国标准化协会，关于物质 荧光 光谱的标准
NF C05-100-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞
NF C05-100-5-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第5部分: 使用原子吸收光谱法, 原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物和电子产品中的镉, 铅和铬以及金属中的镉和铅
NF C05-100-3-1-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第3-1部分: 筛选. 使用X射线荧光光谱法筛选的铅, 汞, 镉, 总铬和总溴量
英国标准学会，关于物质 荧光 光谱的标准
BS EN 62321-3-1-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 筛选. 使用X射线荧光光谱法筛选的铅, 汞, 镉, 总铬和总溴量
BS EN 62321-5-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 使用原子吸收光谱法, 原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物和电子产品中的镉, 铅和铬以及金属中的镉和铅
BS EN 62321-3-1-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 筛选. 使用X射线荧光光谱法筛选的铅, 汞, 镉, 总铬和总溴量
BS EN 62321-5-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 使用原子吸收光谱法, 原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物和电子产品中的镉, 铅和铬以及金属中的镉和铅
BS ISO 17331-2004+A1-2010 表面化学分析.从硅片工作标准物质表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱(TXRF)法的测定
国际电工委员会，关于物质 荧光 光谱的标准
IEC 62321-3-1:2013 电工产品中某些物质的测定第3-1部分:用X射线荧光光谱法筛选铅汞镉总铬和总溴
IEC 62321-3-1-2013 电工制品中特定物质的测定. 第3-1部分: 筛选试验方法. 使用X射线荧光光谱法筛选电工制品中的铅, 汞, 镉, 总铬和总溴量
IEC 62321-5-2013 电工制品中特定物质的测定.第5部分:通过原子吸收分光光度法(AAS)、原子荧光光谱法(AFS)、电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测定聚合物和电子中镉、铅和铬及金属中镉和铅
