本专题涉及杂质的测量的标准有57条。
国际标准分类中，杂质的测量涉及到半导体材料、核能工程、无机化学、有色金属、表面处理和镀涂、水质、计量学和测量综合、导体材料、金属材料试验、分析化学、长度和角度测量、纸浆。
在中国标准分类中，杂质的测量涉及到元素半导体材料、半金属与半导体材料综合、重金属及其合金、重金属及其合金分析方法、勘探采矿和工艺监测核仪器、材料防护、核材料、核燃料及其分析试验方法、电子技术专用材料、水环境有毒害物质分析方法、环境污染物监测方法、大气环境有毒害物质分析方法、金属理化性能试验方法综合、半金属及半导体材料分析方法。
国家质检总局，关于杂质的测量的标准
GB/T 31854-2015 光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
GB/T 29849-2013 光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
GB/T 29852-2013 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
GB/T 29851-2013 光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法
GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
，关于杂质的测量的标准
NORMA 49-P-1947 针对混凝土的沙进行有机杂质测量的临时标准
国际标准化组织，关于杂质的测量的标准
ISO 18315:2018 核能 - 通过线性回归分析评估铀溶液中杂质的测量不确定性的指南
ISO 18315-2018 核能 - 通过线性回归分析评估铀溶液中杂质的测量不确定性的指南
ISO 11127-6:2011 涂装油漆和有关产品前钢材预处理 喷射清理用非金属磨料的试验方法 第6部分:通过测量电导率测定水溶性杂质
ISO 26062:2010 核技术.核燃料.使用电感耦合等离子体质谱法测量铀和钚基础材料中杂质元素的规程
ISO 26062-2010 核技术——核燃料——用电感耦合等离子体质谱法测量铀和钚基材料中元素杂质的程序
ISO 11127-6:1993 涂装油漆和有关产品前钢材预处理 喷射清理用非金属磨料的试验方法 第6部分:通过测量电导率测定水溶性杂质
美国材料与试验协会，关于杂质的测量的标准
ASTM D8186-18 用电热蒸发电感耦合等离子体发射光谱法（ETV-ICP-OES）测量石墨中杂质的标准试验方法
ASTM F1845-08 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM D5996-05 用联机离子色谱法测量高纯度水中阴离子杂质的标准试验方法
ASTM F24-04 表面粒状杂质的测量和计数标准方法
ASTM F25-04 洁净室及其它防尘区域空气中粒状杂质的测量和计数的标准试验方法
ASTM F2405-04 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测量高纯度铜中痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F2405-04(2011) 用高质量分辨率辉光放电质谱仪测量高纯度铜中痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1845-97 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1845-97(2002) 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1724-96 用酸性萃取原子吸收光谱法测量多晶硅表面金属杂质的标准试验方法
法国标准化协会，关于杂质的测量的标准
NF A08-701-1-2015 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第1部分:常规测量指南
NF M60-469-2010 核工艺学.核燃料.用电感耦合等离子体质谱法测量铀和钚基材料中元素状态杂质的程序.
NF A08-701-2-2006 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第2部分:常规测量
NF A08-701-1-2006 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第1部分:常规测量指南
行业标准-核工业，关于杂质的测量的标准
EJ/T 20053.3-2014 气体离心法铀浓缩专用传感器规范 第3部分:轻杂质测量传感器
韩国标准，关于杂质的测量的标准
KS M ISO 11127-6:2013 涂料和相关产品使用前钢衬底的制备.非金属喷砂清理磨料的试验方法.第6部分:通过测量传导性测定水溶杂质
KS M ISO 11127-6:2003 涂料和相关产品使用前钢衬底的制备.非金属喷砂清理磨料的试验方法.第6部分:通过测量传导性测定水溶杂质
德国标准化学会，关于杂质的测量的标准
DIN EN ISO 11127-6:2012 使用涂料及相关产品前钢材的预处理.喷丸处理非金属磨料试验方法.第6部分:通过测量电导率测定水溶性杂质
DIN 50438-1-1995 半导体工艺材料检验.用红外吸收法测量硅的杂质含量.第1部分:氧
DIN 50438-2-1982 半导体工艺材料的检验.第2部分:用红外线吸收法测量硅中杂质含量.碳
英国标准学会，关于杂质的测量的标准
BS EN ISO 11127-6:2011 涂料和其它相关制品应用前钢基质的预处理.非金属喷砂清理磨料试验方法.电导性测量水溶性杂质的测定
BS ISO 26062:2010 核工艺学.核燃料.用电感耦合等离子体质谱法测量铀和钚基材料中元素状态杂质的规程.
BS EN ISO 11127-6:1994 涂料和其它相关制品应用前钢基质的预处理.非金属喷砂清理磨料试验方法.电导性测量水溶性杂质的测定
欧洲标准化委员会，关于杂质的测量的标准
EN ISO 11127-6:2011 使用涂料及相关产品前钢材的预处理.喷丸处理非金属磨料试验方法.第6部分:通过测量电导率测定水溶性杂质 使用涂料及相关产品前钢材的预处理.喷丸处理非金属磨料试验方法.第6部分:通过测量电导率测定水溶性杂质
EN ISO 11127-6:1997 涂装油漆和有关产品前钢材预处理喷射清理用非金属磨料的试验方法.第6部分:通过测量电导率测定水溶性杂质 ISO 11127-6-1993
澳大利亚标准协会，关于杂质的测量的标准
AS 4699-2000 锌和锌合金 杂质和合金元素的测量 原子发射光谱法
