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二次电子分辨率检测

本专题涉及二次电子分辨率的标准有94条。

国际标准分类中,二次电子分辨率涉及到分析化学、摄影技术、导体材料、金属材料试验、文献成像象技术、音频、视频和视听工程、IT终端和其他外围设备、光学设备。

在中国标准分类中,二次电子分辨率涉及到基础标准与通用方法、照相机与照相器具、制片设备、物性分析仪器、技术管理、感光材料、计算机图形、电影与摄影技术、视频、脉冲系统设备、化学、液体介质与植物、动物、人体器官采样方法、投影器、幻灯机、缩微复印机械、基础标准与通用方法。


国家质检总局,关于二次电子分辨率的标准

GB/T 29732-2013 表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准

GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定

国际标准化组织,关于二次电子分辨率的标准

ISO 23420-2021 微束分析.分析电子显微镜.电子能量损失谱分析用能量分辨率的测定方法

ISO 12233:2017 摄影 - 电子静态图像成像 - 分辨率和空间频率响应

ISO 12233-2017 摄影. 电子静物图象成像. 分辨率和空间频率响应

ISO 12233-2017 摄影. 电子静物图象成像. 分辨率和空间频率响应

ISO 17973-2016 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准

ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准

ISO 12653-3-2014 电子成像. 办公文件扫描用测试标版. 第3部分: 低分辨率应用使用的测试标版

ISO 12653-3:2014 电子成像——用于扫描office文档的测试目标第3部分:用于低分辨率应用程序的测试目标

ISO 12233-2014 摄影.电子静态图像摄影机.分辨率和空间频率响应

ISO 18516-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定

ISO 18516:2006 表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——横向分辨率的测定

ISO 16067-2:2004 摄影.摄影图像的电子扫描仪.空间分辨率测量.第2部分:胶片扫描仪

ISO 16067-2-2004 摄影.摄影图片的电子扫描仪.空间分辨率测量.第2部分:胶片扫描仪

ISO/TR 19319-2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.用分析仪观察横向分辨率 分析面积和样品面积的测定

ISO 16067-1:2003 摄影与摄影;摄影图像用电子扫描仪的空间分辨率测量第1部分:反射介质用扫描仪

ISO 16067-1-2003 摄影.摄影成像用电子扫描仪的空间分辨率测量.第1部分:反射介质用扫描仪

ISO 17974:2002 表面化学分析——高分辨率俄歇电子能谱仪——元素和化学状态分析用能量标度的校准

ISO 17973-2002 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准

ISO 17974-2002 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准

ISO 12233-2000 摄影 电子照相机 分辨率测量

ISO 12233:2000 摄影技术.电子静止图像照相机.分辨率测量

美国材料与试验协会,关于二次电子分辨率的标准

ASTM D5739-06(2020) 通过气相色谱和正离子电子轰击低分辨率质谱法进行漏油源识别的标准实践

ASTM F1845-08(2016) 电子级铝 - 铜 铝 - 硅和铝 - 铜 - 硅合金中痕量金属杂质的高质量分辨率辉光放电质谱仪的标准测试方法

ASTM F1593-08(2016) 用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝中痕量金属杂质的标准试验方法

ASTM F1710-08(2016) 通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法

ASTM D5739-06(2013) 通过气相色谱和正离子电子轰击低分辨率质谱法进行漏油源识别的标准实践

ASTM F1845-08 电子级铝 - 铜 铝 - 硅和铝 - 铜 - 硅合金中痕量金属杂质的高质量分辨率辉光放电质谱仪的标准测试方法

ASTM F1710-08 通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法

ASTM F1593-08 用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝中痕量金属杂质的标准试验方法

ASTM F1845-2008(2016) 采用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝铜, 铝硅和铝铜硅合金中的痕量金属杂质的标准试验方法

ASTM F1710-2008(2016) 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级钛中痕量金属杂质的标准试验方法

ASTM F1593-2008(2016) 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝中痕量金属杂质的标准试验方法

ASTM D5739-06 通过气相色谱和正离子电子轰击低分辨率质谱法进行漏油源识别的标准实践

ASTM D5739-2006 用气相色谱法和正离子电子冲击低分辨率质谱法识别溢油源的标准实施规程

ASTM D5739-2006(2013) 使用气相色谱法和阳离子电子轰击低分辨率质谱法识别溢油源的标准实施规程

ASTM F1710-97(2002) 通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法

ASTM F1593-97(2002) 用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝中痕量金属杂质的标准试验方法

ASTM D5739-00 通过气相色谱和正离子电子轰击低分辨率质谱法进行漏油源识别的标准实践

ASTM D5739-2000 用气相色谱法和正离子电子冲击低分辨率质谱法识别溢油源的标准实施规程

ASTM F1593-97 用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝中痕量金属杂质的标准试验方法

ASTM F1710-97 通过高质量分辨率辉光放电质谱仪对电子级钛中痕量金属杂质的标准测试方法

ASTM F1710-1997 使用高分辨率发光质谱仪测试电子级钛中痕量金属杂质的标准试验方法

ASTM F1710-1997(2002) 使用高分辨率发光质谱仪测试电子级钛中痕量金属杂质的标准试验方法

,关于二次电子分辨率的标准

PN T06500-01-1986 电子测量仪器.一般分辨率

英国标准学会,关于二次电子分辨率的标准

BS ISO 12233-2017 摄影. 电子静物图象成像. 分辨率和空间频率响应

BS ISO 12233-2017 摄影. 电子静物图象成像. 分辨率和空间频率响应

BS ISO 17973-2016 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准

BS ISO 17973-2016 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准

BS ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准

BS ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准

BS ISO 12653-3-2014 电子成像. 办公文件扫描用测试标版. 低分辨率应用使用的测试标版

BS ISO 12233-2014 摄影. 电子静物图象成像. 分辨率和空间频率响应

BS ISO 18516-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定

BS ISO 16067-1-2003 摄影.摄影成像用电子扫描仪的空间分辨率测量.反射介质用扫描仪

BS ISO 16067-2-2004 摄影.摄影图像用电子扫描仪.空间分辨率测量.胶片扫描仪

BS ISO 17973-2003 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准

BS ISO 17974-2002 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准

BS EN 61947-2-2002 电子投影.关键性能标准的测量和文献.可调分辨率的投影仪

广东省质量技术监督局,关于二次电子分辨率的标准

DB44/T 1833-2016 电子成像 办公文件扫描用测试标靶 低分辨率用测试标靶

韩国标准,关于二次电子分辨率的标准

KS D ISO 17973-2011 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准

KS D ISO 17974-2011 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准

KS D ISO 17974-2011 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准

KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

日本工业标准调查会,关于二次电子分辨率的标准

JIS K0166-2011 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准

JIS K0165-2011 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准

JIS K0166-2011 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准

JIS K0165-2011 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准

法国标准化协会,关于二次电子分辨率的标准

NF X21-067-2009 表面化学分析.高分辨率俄歇(Auger)电子分光计.元素及化学物质状态分析用能量标度的校准

NF X21-061-2008 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定

NF X21-054-2006 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准

NF C97-205-2-2004 电子投影.主要性能标准的测量和文件编制.第2部分:可变分辨率投影仪

德国标准化学会,关于二次电子分辨率的标准

DIN EN 61947-1-2003 电子投影.主要性能指标的测量和记录.第1部分:固定分辨率投影仪

DIN EN 61947-2-2002 电子投影.关键性能标准的测量和文件管理.第2部分:可调分辨率的投影仪 (IEC 61947-2:2001); 德文版本 EN 61947-2:2002

国际电工委员会,关于二次电子分辨率的标准

IEC 61947-1:2002 电子投影 - 关键性能标准的测量和文件第1部分:固定分辨率投影机

IEC 61947-2:2001 电子投影 - 关键性能标准的测量和文档 - 第2部分:可变分辨率投影机

澳大利亚标准协会,关于二次电子分辨率的标准

AS ISO 17974-2006 表面化学分析.高分辨率俄歇电子分光计法.元素及化学物质状态分析用能量标度校准

AS ISO 17974-2006 表面化学分析.高分辨率俄歇电子分光计法.元素及化学物质状态分析用能量标度校准

AS ISO 19319-2006 表面化学分析.Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法.分析员对横向分辨率;分析区域和样品区域的目视检测

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
CMA检验检测机构资质认定证书
CNAS实验室认可证书
CNAS实验室认可证书
ISO管理体系认证证书
ISO管理体系认证证书
高新技术企业证书
高新技术企业证书

精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

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