本专题涉及x射线光电子能谱 厚度的标准有7条。
国际标准分类中,x射线光电子能谱 厚度涉及到分析化学。
在中国标准分类中,x射线光电子能谱 厚度涉及到基础标准与通用方法。
国家质检总局,关于x射线光电子能谱 厚度的标准
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
英国标准学会,关于x射线光电子能谱 厚度的标准
BS ISO 14701-2018 表面化学分析. X射线光电子能谱学. 二氧化硅厚度测量
BS ISO 14701-2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
国际标准化组织,关于x射线光电子能谱 厚度的标准
ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
ISO 14701-2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
ISO 14701:2011 表面化学分析——X射线光电子能谱;氧化硅厚度的测量
ISO 14701-2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量





