本专题涉及x 射线 厚度的标准有53条。
国际标准分类中，x 射线 厚度涉及到分析化学、金属材料试验、表面处理和镀涂、长度和角度测量、信息技术应用、珠宝、焊接、钎焊和低温焊。
在中国标准分类中，x 射线 厚度涉及到基础标准与通用方法、金属物理性能试验方法、材料防护、电化学、热化学、光学式分析仪器、长度计量、电子计算机应用、金属无损检验方法、工艺美术品、焊接与切割、、电容器。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x 射线 厚度的标准
GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
GB/T 34190-2017 电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法
国家质检总局，关于x 射线 厚度的标准
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法
GB/T 16921-1997 金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法
美国材料与试验协会，关于x 射线 厚度的标准
ASTM D7639-22 用X射线荧光法测定金属基底上锆处理重量或厚度的标准试验方法
ASTM B568-98(2021) 通过X射线光谱法测量涂层厚度的标准测试方法
ASTM D7639-10(2018) 通过X射线荧光测定金属基板上锆的处理重量或厚度的标准测试方法
ASTM D7639-10(2014) 通过X射线荧光测定金属基板上锆的处理重量或厚度的标准测试方法
ASTM D7639-10 X射线荧光法测定金属基底上的锆处理重量或厚度的标准试验方法
ASTM E592-99(2009)e1 钢板射线照相法获得的ASTM等效孔径灵敏度的标准指南<6> > 2分（6〜51毫米）厚X-光线和1至6英寸（25至152毫米）厚度与
ASTM A754/A754M-08 X射线荧光涂层厚度的标准试验方法
ASTM B568-98(2004) 用X射线光度法测定覆层厚度的标准试验方法
ASTM B568-98 用X射线光度法测定覆层厚度的标准试验方法
ASTM B568-98(2014) 用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法
ASTM B568-98(2009) 用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法
，关于x 射线 厚度的标准
NBN F 51-001-1976 由铝和铝合金及镁和镁合金融合对焊的接头 厚度在5至50MM之间，使用X 射线检测的推荐方法
国际标准化组织，关于x 射线 厚度的标准
ISO 16413:2020 通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告
ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
ISO 16413:2013 X射线反射计用薄膜的厚度、密度和接口宽度的评估.仪器邀请,校准和定位,数据收集,数据分析和报告
ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
ISO 3497-2000 金属涂层——涂层厚度的测量——X射线光谱测定法
ISO 3497:2000 金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法
ISO 3497-1990 金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法
ISO 3497:1990 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
ISO 3497:1976 金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法
ISO 3497-1976 金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法
ISO 2437:1972 厚度5mm～50mm的铝及铝合金和镁及镁合金熔焊对接接头的X射线检验的推荐工艺
英国标准学会，关于x 射线 厚度的标准
BS ISO 14701:2018 表面化学分析. X射线光电子能谱学. 二氧化硅厚度测量
BS ISO 16413:2013 采用X射线反射计对薄膜厚度, 密度和接口宽度的评估. 仪器要求. 校准和定位, 数据收集, 数据分析和报告
BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
BS EN ISO 3497:2001 金属覆层.覆层厚度的测量.X射线光谱测定法
工业和信息化部/国家能源局，关于x 射线 厚度的标准
JB/T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪
行业标准-轻工，关于x 射线 厚度的标准
QB/T 1135-2006 首饰 金 银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
QB/T 1135-1991 首饰金银覆盖层厚度的测定方法.X射线荧光光谱法
韩国标准，关于x 射线 厚度的标准
KS B ISO 2437:2002 厚度5mm~50mm的铝和铝合金和镁及镁合金熔焊对接接头的X射线检验推荐工艺
KS D ISO 3497:2002 金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
德国标准化学会，关于x 射线 厚度的标准
DIN EN ISO 3497:2001 金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法
法国标准化协会，关于x 射线 厚度的标准
NF A91-116-2001 金属镀层.镀层厚度的测定.X射线光谱法
NF A91-116-1976 金属镀层.厚度的测量.用X射线光谱术
欧洲标准化委员会，关于x 射线 厚度的标准
EN ISO 3497:2000 金属覆盖层.镀层的厚度测量.X射线光谱法ISO 3497-2000
机械电子工业部，关于x 射线 厚度的标准
JB/T 5068-1991 金属覆盖层厚度测量 X射线光谱法
美国电子元器件、组件及材料协会，关于x 射线 厚度的标准
ECA CB-13-1990 镀层厚度测定的X射线荧光
行业标准-电子，关于x 射线 厚度的标准
SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法
