本专题涉及半导体残留的标准有3条。
国际标准分类中,半导体残留涉及到半导体分立器件。
在中国标准分类中,半导体残留涉及到半导体分立器件综合。
,关于半导体残留的标准
KS C IEC 60749-7:2020 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第7部分:内部水分含量测量和其他残留气体的分析
德国标准化学会,关于半导体残留的标准
DIN EN 60749-7-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:内部水分含量测量和其他残留气体分析
国际电工委员会,关于半导体残留的标准
IEC 60749-7-2011 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第7部分:内部水分含量测量和其他残留气体的分析





