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徕卡近场光学检测

本专题涉及徕卡 近场光学的标准有69条。

国际标准分类中,徕卡 近场光学涉及到信息技术应用、数据存储设备。

在中国标准分类中,徕卡 近场光学涉及到数据媒体。


,关于徕卡 近场光学的标准

STAS 8748-1970 资料和文件.光学重合卡.一般规定

英国标准学会,关于徕卡 近场光学的标准

BS ISO/IEC 11695-3:2017 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.光学性能和特性

BS ISO/IEC 11695-1:2015 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.物理特性

BS ISO/IEC 11695-2:2015 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.可到达光学区域的尺寸和位置

BS ISO/IEC 11694-5:2014 识别卡.光学记忆卡.线性记录法.信息交换和应用用ISO/IEC 11694-4标准的数据格式

BS ISO/IEC 11694-6:2014 识别卡.光学记忆卡.线性记录法.光学记忆卡中生物测定学的使用

BS ISO/IEC 11693-1:2012 识别卡. 光学存储卡. 一般特性

BS ISO/IEC 11693-2:2009 识别卡.光学存储卡.光储存器与其他机读技术的共存

BS ISO/IEC 11695-1:2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.物理特性

BS ISO/IEC 11695-2:2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.可到达光学区域的尺寸和位置

BS ISO/IEC 11695-3:2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.光学性能和特性

BS ISO/IEC 11694-4:2008 识别卡.光学存储卡.线性记录法.逻辑数据结构

BS ISO/IEC 11694-6:2006 识别卡.光学记忆卡.线性记录法.光学记忆卡中生物测定学的使用

BS ISO/IEC 11694-5:2006 识别卡.光学记忆卡.线性记录法.信息交换和应用用ISO/IEC 11694-4标准,附录B的数据格式

BS ISO/IEC 11694-1:2001 识别卡.光学存储卡.线性记录法.物理特性

BS ISO/IEC 11694-2:2001 识别卡.光学存储卡.线性记录法.可存取光区的尺寸和位置

BS ISO/IEC 11694-4:1997 识别卡.光学记忆卡.线性记录法.逻辑数据结构

BS ISO/IEC 11694-3:1997 识别卡.光学存储卡.线状录音法.第3部分:光学的性质和特征

BS ISO/IEC 11694-1:1997 识别卡.光学存储卡.线状录音法.第1部分:物理特性

BS ISO/IEC 11694-2:1995 识别卡.光学存储卡.线状录音法.第2部分:外接光区的命名和设定位置

BS ISO/IEC 11694-2:1997 识别卡.光学存储卡.线状录音法.第2部分:外接光区的命名和设定位置

国际标准化组织,关于徕卡 近场光学的标准

ISO/IEC 11695-3:2017 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第3部分:光学性能和特性

ISO/IEC 11694-3:2015 识别卡.光学存储卡.线性记录方法.第3部分:光学性能和特性

ISO/IEC 11695-1:2015 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第1部分:物理特性

ISO/IEC 11695-2:2015 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第2部分:可到达光学区域的尺寸和位置

ISO/IEC 11693-1:2012 识别卡.光学存储卡.第1部分:通用特征

ISO/IEC 10373-9:2011 标示卡.试验方法.第9部分:光学存储卡.全息记录方法

ISO/IEC 11693-2:2009 识别卡.光存储卡.第2部分:带有其它机读工艺光学存储的共存

ISO/IEC 11695-3:2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第3部分:光学性能和特性

ISO/IEC 11695-2:2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第2部分:可到达光学区域的尺寸和位置

ISO/IEC 11695-1:2008 识别卡.光学存储卡.全息记录方法.第1部分:物理特性

ISO/IEC 11694-3:2008 识别卡.光学存储卡.线性记录方法.第3部分:光学性能和特性

ISO/IEC 11694-6:2006 识别卡.光学存储卡.线性记录法.第6部分:光学存储卡中生物测定学的使用

ISO/IEC 11694-4:1996 识别卡.光学存储卡.线性记录法.逻辑数据结构

ISO/IEC 11694-2:1995 识别卡.光学存储卡.线性记录法.第2部分:可访问光学区域的尺寸和位置

ISO/IEC 11694-3:1995 识别卡.光学存储卡.线性记录法.第3部分:光学特性和特性

ISO/IEC 11694-1:1994 识别卡.光学存储卡.线性记录法.第1部分:物理特性

加拿大标准协会,关于徕卡 近场光学的标准

CSA ISO/IEC 11694-3-09-CAN/CSA:2009 识别卡.光存储器卡.线性记录方法.第3部分:光学性质和特性

CSA ISO/IEC 11694-6-06:2006 识别卡光记忆卡线性记录方法.第六部分:光学记忆卡上生物测定学的使用,ISO/IEC 11694-6:2006

韩国标准,关于徕卡 近场光学的标准

KS X ISO/IEC 11694-2:2008 识别卡.光学存储卡.线性录制方法.第2部分:可访问光学区域的尺寸和位置

KS X ISO/IEC 11693:2008 识别卡.光学存储卡.一般特性

美国国家标准学会,关于徕卡 近场光学的标准

ANSI ISO/IEC 11694-3:2001 识别卡.光学存储卡.线性记录方法.第3部分:INCITS采用光学性能和特性

ANSI/INCITS/ISO/IEC 11694-4:2001 识别卡.光学存储卡.线性记录法.第4部分:逻辑数据结构

ANSI ISO/IEC 11694-4:2001 识别卡.光学存储卡.线性记录方法.第4部分:被INCITS采用的逻辑数据结构

ANSI ISO/IEC 11694-2:2000 识别卡.光学存储卡.线性记录方法.第2部分:INCITS采用可存取光区的尺寸与位置

ANSI ISO/IEC 11693:2000 识别卡.光学存储卡.INCITS采用通用特征

ANSI ISO/IEC 11694-1:2000 识别卡.光学存储卡.线性记录方法.第1部分:INCITS采用物理特性

ANSI/INCITS/ISO/IEC 7816-2:1999 信息技术.识别卡.光学存储卡.带触点的集成电路卡.第2部分:触点的尺寸和位置

ANSI ISO/IEC 10373-5:1998 识别卡.试验方法.第5部分:INCITS采纳的光学存储卡

ANSI/INCITS/ISO/IEC 7816-1:1998 识别卡.光学存储卡.带触点的集成电路卡.第1部分:物理特性

日本工业标准调查会,关于徕卡 近场光学的标准

JIS X6331-1998 识别卡.光学存储卡.线性记录方法.第4部分:逻辑数据结构

台湾地方标准,关于徕卡 近场光学的标准

CNS 13940-2-1997 识别卡–光学记忆卡–线性记录法;第2部:可存取光学区的尺寸与位置

CNS 13939-1997 识别卡–光学记忆卡–一般特性

CNS 13940-3-1997 识别卡–光学记忆卡–线性记录法;第3部:光学特性

CNS 13940.2-1997 识别卡–光学记忆卡–线性记录法;第2部:可存取光学区的尺寸与位置

CNS 13940.1-1997 识别卡–光学记忆卡–线性记录法;第1部:实体特性

CNS 13940.3-1997 识别卡–光学记忆卡–线性记录法;第3部:光学特性

CNS 13940-1-1997 识别卡–光学记忆卡–线性记录法;第1部:实体特性

法国标准化协会,关于徕卡 近场光学的标准

NF Z15-201-1995 识别卡.光学存储卡.一般特性

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
CMA检验检测机构资质认定证书
CNAS实验室认可证书
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ISO管理体系认证证书
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高新技术企业证书
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精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

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