本专题涉及光学 系统的标准有571条。
国际标准分类中，光学 系统涉及到长度和角度测量、造船和海上构筑物综合、光学设备、光电子学、激光设备、音频、视频和视听工程、光学和光学测量、光纤通信、道路车辆装置、金属材料试验、无线通信、词汇、信息技术应用、医疗设备、摄影技术、技术制图、数据存储设备、计量学和测量综合、消防、半导体分立器件、分析化学、邮政服务、精密机械、人类工效学、航空航天用电气设备和系统、机上设备和仪器、印制技术、辐射测量、质量、文娱活动设备、残障人员用设备、电信系统、字符集和信息编码。
在中国标准分类中，光学 系统涉及到量具与量仪、船用主辅机综合、光学仪器综合、光学测试仪器、放大镜与显微镜、半导体光敏器件、红外器件、激光器件、录制设备、、光通信设备、望远镜、大地测量与航测仪器、、其他日用品、数据媒体、电子光学与其他物理光学仪器、光学设备、火警监视、报警与消防调度系统、光电子器件综合、广播、电视网结构、光学计量、邮政综合、金属力学性能试验方法、基础标准与通用方法、眼科与耳鼻咽喉科手术器械、数据通信设备、基础标准与通用方法、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、物理学与力学、人类工效学、基础标准和通用方法、连接器、电子元器件、医用光学仪器设备与内窥镜、电气系统与设备、导航通讯系统与设备、颜色、特殊灯具、通信网综合、标准化、质量管理、紧固件、黑色金属矿综合、电缆及其附件、机械配件、构件、陶瓷、玻璃综合、其他物质成份分析仪器、电离辐射计量、、半导体发光器件、编码、字符集、字符识别、核仪器与核探测器综合、信息处理技术综合、船舶电气、观通、导航设备综合、纸浆与纸板、一般灯具。
国家质检总局，关于光学 系统的标准
GB/T 16857.8-2022 产品几何技术规范(GPS)坐标测量系统(CMS)的验收检测和复检检测 第8部分：使用光学距离传感器的坐标测量机
GB/T 41894.2-2022 船舶与海上技术 通过测量轴变形量确定船舶推进系统轴功率 第2部分：光学反射法
GB/T 27667-2011 光学系统像质评价.畸变的测定
GB/T 10988-2009 光学系统杂(散)光测量方法
GB/T 11168-2009 光学系统像质测试方法
GB/T 10987-2009 光学系统.参数的测定
GB/T 22057.2-2008 显微镜.相对机械参考平面的成像距离.第2部分:无限远校正光学系统
GB/T 18904.5-2003 半导体器件 第12-5部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范
GB/T 18904.4-2002 半导体器件 第12-4部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范
GB/T 18904.1-2002 半导体器件 第12-1部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范
GB/T 18904.2-2002 半导体器件 第12-2部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范
GB/T 14086-1993 预采节目光学反射式视盘系统"LV"50Hz/625行-PAL制
GB/T 10988-1989 光学系统杂(散)光测量方法
GB/T 10987-1989 光学系统 参数的测定
GB/T 11168-1989 光学系统像质测试方法
，关于光学 系统的标准
NEN 10856-1993 IEC 856-1986+A1 1991 预录光学反射视盘系统“激光视盘”．50Hz/625行．PAL制
国际标准化组织，关于光学 系统的标准
ISO 16808:2022 金属材料.薄板和带材.用光学测量系统通过膨胀试验测定双轴应力应变曲线
ISO 14490-5:2021 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第5部分:透射率的试验方法.修改件1
ISO 14490-3:2021 光学和光子学 - 伸缩系统的测试方法 - 第3部分:伸缩瞄准镜的测试方法
ISO 14132-3:2021 光学和光学仪器——望远镜系统词汇第3部分:望远镜瞄准具术语
ISO 14490-10:2021 光学和光子学.望远镜系统的试验方法.第10部分:轴向颜色性能的试验方法
ISO 22738:2020 智能交通系统 本地化通信 光学摄像机通信
ISO 21111-5:2020 道路车辆车内以太网第5部分:光学1-Gbit/s物理层系统要求和试验计划
ISO 8624:2020 眼科光学.眼镜架.测量系统和词汇（ISO 8624-2020）
ISO 10110-12:2019 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第12部分:非球面
ISO 10110-8:2019 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第8部分:表面结构
ISO 10110-1:2019 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸准备第1部分:总则
ISO 14490-9:2019 光学和光子学.望远镜系统的试验方法.第9部分:场曲率的试验方法
ISO 20954-1:2019 数码相机.图像稳定性能的测量方法.第1部分:光学系统
ISO/TR 14999-2:2019 光学和光子学 - 光学元件和光学系统的干涉测量 - 第2部分:测量和评估技术
ISO 20083-2:2019 船舶和航海技术.通过测量轴变形测定船舶推进系统的轴功率.第2部分:光学反射法
ISO 9345:2019 显微镜 - 与机械参考平面有关的成像距离 - 第2部分:无限远校正的光学系统
ISO 10110-18:2018 光学和光子学 - 准备光学元件和系统的图纸 - 第18部分:材料缺陷 - 应力双折射 气泡和夹杂物以及均匀性和条纹
ISO 10110-14:2018 光学和光子学. 光学元件和系统的制图准备. 第14部分: 波阵面变形公差
ISO 18369-1:2017 眼科光学.接触镜.第1部分:词汇 分类系统和标签规范建议.修改件1
ISO 10110-7:2017 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第7部分:表面缺陷公差
ISO/TR 21477:2017 光学和光子学.光学元件和系统图纸的制备.表面缺陷规范和测量系统
ISO 14490-5:2017 光学和光子学.望远镜系统的试验方法.第5部分:透射率的试验方法
ISO 20711:2017 光学和光子学.环境要求.远焦系统
ISO 14490-7:2016 光学和光子学. 望远系统的试验方法. 第7部分: 分辨极限试验方法
ISO 10110-11:2016 光学和光子学.光学元件和系统用图纸制备.第11部分:非公差数据
ISO 10110-9:2016 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第9部分:表面处理和镀层
ISO 14490-3:2016 光学和光子学.望远镜系统的试验方法.第3部分:望远镜式瞄准具的试验方法
ISO 14999-4:2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
ISO 10110-6:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图准备 第6部分:中心公差
ISO 10110-5:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差
ISO 8624 AMD 1:2015 眼科光学.眼镜架.测量系统与术语;修改件1
ISO 8624:2011/Amd 1:2015 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语.修改件1
ISO 10110-19:2015 光学和光子学 - 准备光学元件和系统的图纸 - 第19部分:表面和部件的概述
ISO 17123-8:2015 光学和光学仪器.大地测量和地质勘测仪器的现场试验程序.第8部分:实时动态差分(RTK)的GNSS现场测量系统
ISO 14490-5 AMD 1:2015 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第5部分:透射率的试验方法.修改件1
ISO 14490-5:2005/Amd 1:2015 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第5部分:透射率的试验方法.修改件1
ISO 14132-3:2014 光学和光子学. 望远系统词汇. 第3部分: 瞄准镜的术语
ISO 14490-6:2014 光学和光子学. 望远镜系统的试验方法. 第6部分: 纱幕眩光指数的试验方法
ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 第2部分: 无限远校正光学系统
ISO 16808:2014 金属材料. 薄板材和带材. 使用带有光学测量系统的膨胀试验方测定双轴应力-应变曲线
ISO 10360-8:2013 几何产品规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和复检试验. 第8部分: 带光学距离传感器的CMM
ISO 10110-12 AMD 1:2013 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 第12部分: 非球面; 修改件1
ISO 10110-12:2007/Amd 1:2013 光学和光子学.光学元件和系统图纸的制备.第12部分:非球面.修改件1
ISO/TR 16743:2013 光学和光子学.表示特性的光学系统和光学元件用波前传感器
ISO 14490-8:2011 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第8部分:夜视设备的试验方法
ISO 8624:2011 眼科光学.眼镜架.测量系统与术语
ISO 10110-8:2010 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第8部分:表面结构,粗糙度和波状起伏
ISO 15529:2010 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
ISO 18369-1:2006/Amd 1:2009 眼科光学.接触镜.第1部分:词汇 分类系统和标签规范建议.修改件1
ISO 18369-1 AMD 1:2009 眼科光学.隐形眼镜.第1部分:规范标注用词汇、分类系统和推荐规程.修改件1
ISO 21094:2008 光学和光子学.光子学系统.夜视装置的规范
ISO 17123-8:2007 光学和光学仪器.大地测量和地质勘测仪器的现场试验程序.第8部分:实时动态差分(RTK)的GNSS现场测量系统
ISO 15795 Technical Corrigendum 1:2007 光学和光学仪器.光学系统质量评定.彩色相差引起的图象质量下降的评定.技术勘误1
ISO 15529:2007 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
ISO 10110-14:2007 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第14部分:波阵面变形公差
ISO 10110-12:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图.第12部分:非球面表面
ISO 10110-5:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差
ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
ISO 10110-11 Technical Corrigendum 1:2006 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第11部分:非公差数据.技术勘误1
ISO 18369-1:2006 眼科光学.接触镜片.第1部分:标签规范的词汇、分类系统和推荐
ISO 10110-1:2006 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第1部分:总则
ISO 14490-4:2005 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第4部分:天文望远镜的试验方法
ISO 14490-2:2005 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第2部分:双目镜系统的试验方法
ISO 14490-6:2005 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第6部分:纱幕眩光指数的试验方法
ISO 14490-5:2005 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第5部分:透射率的试验方法
ISO 14490-7:2005 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第7部分:极限分辨率的试验方法
ISO 14490-1:2005 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第1部分:基本特征的试验方法
ISO/TR 14999-2:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
ISO/TR 14999-1:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第1部分:术语、定义和基本关系
ISO/TR 14999-3:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第3部分:干涉仪试验设备和测量的校准和验证
ISO 9039 CORR 1:2004 光学和光学仪器.光学系统的质量评定.畸变的测定.技术勘误1
ISO 10110-17:2004 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第17部分:激光辐射损害阈
ISO 10110-10:2004 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第10部分:光学元件和粘结组件的数据表
ISO 14490-3:2004 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第3部分:望远镜式瞄准具的试验方法
ISO 10110-14:2003 光学及光学仪器.光学元件和系统图形的制备.第14部分:波前变形公差
ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限大光学校正系统
ISO 15795:2002 光学和光子学.光学系统质量评定.彩色相差引起的图象质量下降的评定
ISO 8624:2002 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语
ISO 10109-4:2001 光学和光学仪器 环境要求 第4部分：远焦系统
ISO 15529:1999 光学和光学仪器 光的传递函数 成像系统调制传递函数的测量原理
ISO 10110-6 Technical Corrigendum 1:1999 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第6部分:中心公差 技术勘误表1
ISO 15559:1998 辐射化学光学波导剂量测定系统的使用规程
ISO 10110-13:1997 光学和光学仪器.光学元件和系统图形的制备.第13部分:激光辐射损坏阈
ISO 10110-8:1997 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第8部分:表面结构
ISO 10110-12:1997 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第12部分:非球面表面
ISO 10110-4:1997 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第4部分:材料不完整性 不均匀性和划痕
ISO 8576:1996 光学和光学仪器 显微镜 偏光显微镜的参考系统
ISO 10110-5 CORR 1:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第5部分:表面形状公差 技术勘误表1
ISO 10110-11:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第11部分:无公差数据
ISO 10110-2:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第2部分:材料不完全性 应力双折射
ISO 10110-1:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第1部分:总则
ISO 10110-3:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第3部分:材料不完全性 气泡和杂质
ISO 10110-9:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第9部分:表面处理和镀层
ISO 10110-7:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第7部分:表面疵病公差
ISO 10110-10:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第10部分:透镜元件的数据表
ISO 10110-5:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第5部分:表面形状公差
ISO 10110-6:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第6部分:中心公差
ISO 9039:1994 光学和光学仪器 光学系统的质量评定 畸变测定
ISO 9358:1994 光学和光学仪器 成像系统杂散光 定义及测量方法
ISO 1011:1973 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第8部分:表面结构
国际电工委员会，关于光学 系统的标准
IEC 60728-115:2022 电视信号、声音信号和交互服务用电缆网络第115部分:广播信号传输用室内光学系统
IEC/TR 61282-9:2016 纤维光学通信系统设计指南.第9部分:偏振模散射计量和理论
IEC 62007-1:2015 纤维光学系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板
IEC 61280-2-2 Corrigendum 1:2015 纤维光学通信子系统试验规程.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比的测量;勘误1
IEC 61280-2-2 CORR 1:2015 纤维光学通信子系统试验规程.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比的测量;勘误1
IEC 61280-2-12:2014 纤维光学通信子系统试验程序. 第2-12部分: 数字系统. 为进行传输信号质量评估而采用软件触发技术测量眼图和Q因子
IEC/TR 61282-13:2014 纤维光学通信系统设计指南. 第13部分: 纤维光学连接使用PMD和CD特性指南
IEC 60728-14:2014 电视信号, 声音和交互服务用电缆网络. 第14部分: 采用RFoG技术的光学回路系统
IEC/TR 61282-4:2013 纤维光学通信系统设计指南. 第4部分: 非线性效应的调节和利用
IEC/TR 61282-10 Corrigendum 1:2013 纤维光学通信系统设计指南.第10部分:带有误差矢量调制幅度的光学矢量调制信号质量特性
IEC TR 61282-10:2013 纤维光学通信系统设计指南第10部分:具有误差矢量幅度的光矢量调制信号质量的表征
IEC/TR 61282-10:2013 纤维光学通信系统设计指南.第10部分:带有误差矢量调制幅度的光学矢量调制信号质量特性
IEC 61280-2-2:2012 纤维光学通信子系统试验规程.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比的测量
IEC/TR 61282-11:2012 纤维光学通信系统设计指南.第11部分:多模态启动条件
IEC/TR 60825-17:2010 激光产品的安全.第17部分:使用被动光学元件和光学的安全方面高功率光纤通信系统中的电缆
IEC 61280-2-1:2010 纤维光学通信子系统试验程序.第2-1部分:数字系统.接收器灵敏度和过载测量
IEC 62007-2 Edition 2.0:2009 纤维光学系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
IEC 62007-1:2008 纤维光学系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板
IEC 61280-2-2:2008 纤维光学通信子系统试验程序.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比的测量
IEC/TR 61282-8:2006 纤维光学通信系统设计指南.第8部分:根据测出的时间变化啁啾数据计算色散罚值
IEC/TR 61282-3:2006 纤维光学通信系统设计指南.第3部分:偏振模散射计算
IEC/TR 61282-9:2006 纤维光学通信系统设计指南.第9部分:偏振模散射计量和理论
IEC 61280-2-10:2005 纤维光学通信子系统试验程序.第2-10部分:数字系统.激光发射器的时间分辨线性调频脉冲和α指数测量
IEC 61280-2-2:2005 纤维光学通信子系统试验程序.第2-2部分:数字系统.光眼图、波形和消光比的测量
IEC/TR 61282-4:2003 纤维光学通信系统设计指南.第4部分:非线性效应的调节和利用
IEC/TR 61282-2:2003 纤维光学通信系统设计指南.第2部分:多模和单模Gbit/s设备.吉位以太网模型
IEC/TR 61282-6:2003 纤维光学通信系统的设计指南.第6部分:并行光学互连系统的非对称设计
IEC/PAS 61280-2-10:2003 纤维光学通信子系统试验程序.第2-10部分: 数字系统.激光发射机的时间分辨线性调频脉冲和α因数测量
IEC/TR 61282-7:2003 纤维光学通信系统的设计指南.第7部分:颜色色散的统计计算
IEC/TR 61282-3:2002 纤维光学通信系统设计指南.第3部分:偏振模散射计算
IEC 60728-6:2001 电视和声音信号用电缆分配系统 第6部分：光学设备
IEC/TR 61282-1:2000 纤维光学通信系统的设计指南 第1部分:单模数字系统和模拟系统
IEC 61280-4-2:1999 纤维光学通信子系统基本试验程序 第4-2部分:光缆设施 单模光缆系统设施衰减
IEC 62007-2 Edition 1.1:1999 纤维光学系统用半导体光电器件 第2部分:测量方法
IEC 61280-2-1:1998 纤维光学通信子系统基本试验程序 第2-1部分:数字系统试验程序 接收器灵敏度和过载测量
IEC 61280-2-2:1998 纤维光学通信子系统基本试验程序 第2-2部分:数字系统试验程序 光眼图、波形和消光比
IEC 61280-2-4:1998 纤维光学通信子系统基本试验程序 第2-4部分:数字系统试验程序 比特率容差测量
IEC 61280-2-5:1998 纤维光学通信子系统基本试验程序 第2-5部分:数字系统试验程序 抖动转移功能测量
IEC 60747-12-4:1997 半导体器件 第12-4部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的PIN-FET模块空白详细规格
IEC 60747-12-5:1997 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的PIN光电二极管空白详细规范
IEC 60856 AMD 2:1997 预录光学反射视盘系统 “激光视盘” 50Hz/625行 PAL制 修改2
IEC 60747-12-6:1997 半导体器件 第12-6部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的雪崩光电二极管空白详细规范
IEC 60857 AMD 2:1997 预录光学反射视盘系统 “激光视盘” 60Hz/525行 M/NTSC制 修改2
IEC 60747-12-1:1995 半导体器件 第12部分:光电子器件 第2节:纤维光学系统和子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范
IEC 60747-12-2:1995 半导体器件 第12部分:光电子器件 第2节:纤维光学系统和子系统带尾纤的激光二极管模块空白详细规范
IEC 60857 AMD 1:1991 预录光学反射视盘系统 “激光视盘” 60Hz/525行 M/NTSC制 修改1
IEC 60856 AMD 1:1991 预录光学反射视盘系统 “激光视盘” 50Hz/625行 PAL制 修改1
IEC 60857:1986 预录光学反射视盘系统 “激光视盘” 60Hz/525行 M/NTSC制
国家计量技术规范，关于光学 系统的标准
JJF 1951-2021 基于结构光扫描的光学三维测量系统校准规范
中国团体标准，关于光学 系统的标准
T/NDAS 41-2021 光学振动传感系统
T/ZS 0110-2020 结构体几何参量光学测量系统
法国标准化协会，关于光学 系统的标准
NF C93-807-2-8-2021 纤维光学通信子系统试验程序. 第2-8部分: 数字系统. 使用Q-因子测量法测定低BER
NF S10-008-9-2016 光学和光子学.光学元件和系统用图纸制备.第9部分:表面处理和涂层
NF S10-008-11-2016 光学和光子学.光学元件和系统用图纸制备.第11部分:非公差数据
NF S10-008-5-2015 光学和光子学.光学元件和系统制图.第5部分:表面形状公差
NF S10-008-19-2015 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 第19部分: 表面和部件的通用描述
NF S10-008-6-2015 光学和光子学.光学元件和系统用图纸制备.第6部分:定心公差
NF S11-520/A1-2015 眼科光学. 眼镜架. 测量系统和术语. 修改件1
NF A03-005-2014 金属材料. 薄板材和带材. 使用带有光学测量系统的膨胀试验方测定双轴应力-应变曲线
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