本专题涉及测量芯片的标准有12条。
国际标准分类中，测量芯片涉及到电气设备元件、磁性材料、集成电路、微电子学、光电子学、激光设备、半导体材料。
在中国标准分类中，测量芯片涉及到磁性元器件、电感器、变压器、半导体集成电路、元素半导体材料、微电路综合。
德国标准化学会，关于测量芯片的标准
DIN EN 62024-1-2008 高频感应元件.电气特性和测量方法.第1部分:毫微亨等级芯片感应器
DIN 58002-2001 集成光路.单模式光学芯片元件的近场测量
DIN 50441-2-1998 半导体工艺材料的试验.半导体芯片几何尺寸的测量.第2部分:棱角剖面的试验
英国标准学会，关于测量芯片的标准
BS EN 62024-1-2008 高频感应元件.电气特性和测量方法.毫微亨等级芯片感应器
BS EN 62024-1-2002 高频感应部件.电气特性和测量方法.毫微亨(利)芯片感应器
PD 6598-1996 欧洲微试验芯片特性测量技术
国际电工委员会，关于测量芯片的标准
IEC 62024-1 Corrigendum 1-2008 高频感应元件.电气特性和测量方法.第1部分:毫微亨利芯片感应器
IEC 62024-1:2008 高频感应元件.电气特性和测量方法.第1部分:纳米亨利范围芯片电感器
IEC 62024-1-2008 高频感应元件.电气特性和测量方法.第1部分:毫微亨利芯片感应器
欧洲电工标准化委员会，关于测量芯片的标准
EN 62024-1-2008 高频感应元件.电气特性和测量方法.第1部分:毫微亨利芯片感应器
韩国标准，关于测量芯片的标准
KS C IEC 62024-1-2006 高频感应元件.电气特性和测量方法.第1部分:毫微亨利芯片感应器
KS C IEC 62024-1-2006 高频感应元件.电气特性和测量方法.第1部分:毫微亨利芯片感应器
