本专题涉及高级探测的标准有4条。
国际标准分类中,高级探测涉及到辐射测量、陶瓷、集成电路、微电子学。
在中国标准分类中,高级探测涉及到特种陶瓷、半导体集成电路。
国际标准化组织,关于高级探测的标准
ISO 11929-2-2019 电离辐射测量用特性限值(决定阈值、探测限值和覆盖间隔限值)的测定.基本原理和应用.第2部分:高级应用
ISO 11929-2:2019 电离辐射测量用特性限值(决定阈值、探测限值和覆盖间隔限值)的测定.基本原理和应用.第2部分:高级应用
法国标准化协会,关于高级探测的标准
NF B41-206-6-2009 高级工业陶瓷.室温下单片陶瓷的机械性能.第6部分:显微镜下探测指南
美国国防后勤局,关于高级探测的标准
DLA SMD-5962-06239 REV A-2007 硅单片三态输出平行差探测电路/校正电路,高级氧化物半导体耐辐射数字微型电路





