本专题涉及中子衍射的标准有16条。
国际标准分类中，中子衍射涉及到无损检测。
在中国标准分类中，中子衍射涉及到基础标准与通用方法、金属无损检验方法、半金属与半导体材料综合。
国家质检总局，关于中子衍射的标准
GB/T 26140-2010 无损检测.测量残余应力的中子衍射方法
德国标准化学会，关于中子衍射的标准
DIN EN ISO 21432-2021 无损检测. 通过中子衍射确定残余应力的标准试验方法(ISO 21432-2019); 德文版 EN ISO 21432-2020
DIN SPEC 1095-2009 无损试验.利用中子衍射法测定剩余应力的标准试验方法(ISO/TS 21432:2005+修改件1:2008),德文版本CEN ISO/TS 21432:2005+AC:2009
国际标准化组织，关于中子衍射的标准
ISO 21432-2019 非破坏性测试 用中子衍射测定残余应力的标准试验方法
ISO/TS 21432 Technical Corrigendum 1-2008 无损检测.使用中子衍射测定残余应力的标准试验方法.技术勘误表1
ISO/TS 21432:2005 无损检测——用中子衍射测定残余应力的标准试验方法
ISO/TS 21432-2005 无损检验.用中子衍射测定残余应力的标准试验方法
ISO/TTA 3:2001 多晶材料——中子衍射法测定残余应力
ISO/TTA 3-2001 多晶材料 中子衍射法测定剩余应力
美国齿轮制造商协会，关于中子衍射的标准
AGMA 08FTM12-2008 中子衍射渗碳齿轮的现场应力测量
韩国标准，关于中子衍射的标准
KS B ISO 21432-2007 无损检验.用中子衍射测定残余应力的标准试验方法
KS B ISO 21432-2007 无损检验.用中子衍射测定残余应力的标准试验方法
英国标准学会，关于中子衍射的标准
BS DD CEN ISO/TS 21432-2006 无损检验.用中子衍射测定残余应力的标准试验方法
欧洲标准化委员会，关于中子衍射的标准
EN ISO/TS 21432-2005 无损检测.用中子衍射测定残余应力的标准试验方法
EN ISO/TS 21432-2005 无损检测.用中子衍射测定残余应力的标准试验方法
CEN ISO/TS 21432-2005 无损检验.用中子衍射测定残余应力的标准试验方法 ISO 21432-2005
