本专题涉及二极管测量的标准有105条。
国际标准分类中，二极管测量涉及到光电子学、激光设备、太阳能工程、半导体分立器件、计量学和测量综合、光纤通信、电学、磁学、电和磁的测量、电工和电子试验、电气工程综合、电子管。
在中国标准分类中，二极管测量涉及到光电子器件综合、半导体发光器件、电气照明综合、光通信设备、激光器件、半导体二极管、半导体整流器件。
美国材料与试验协会，关于二极管测量的标准
ASTM F3095-17a(2022) 通过旋转激光二极管和闭路电视摄像系统直接测量管道和导管横截面形状的激光技术的标准实施规程
ASTM F3095-17 ASTM D 6135-1998通过旋转激光二极管和闭路电视摄像系统直接测量管道和导管横截面形状的激光技术标准实施规程
ASTM F3095-17a 使用旋转激光二极管和闭路电视摄像机系统对管道和导管截面形状直接测量用激光技术的标准实施规程
ASTM F3095-14 使用旋转激光二极管和闭路电视摄像机系统对管道和导管截面形状直接测量用激光技术的标准实施规程
国际电工委员会，关于二极管测量的标准
IEC TS 63109:2022 光伏（PV）组件和电池.通过电致发光图像的定量分析测量二极管理想因数
，关于二极管测量的标准
JUS N.R1.422-1980 小功率信号二极管．测量方法
JUS N.R1.421-1979 整流二极管．测量方法
工业和信息化部，关于二极管测量的标准
SJ/T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分：结温
SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分：热阻
行业标准-电子，关于二极管测量的标准
SJ/T 2658.16-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率
SJ/T 2658.6-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率
SJ/T 2658.3-2015 半导体红外发射二极管测量方法.第3部分:反向电压和反向电流
SJ/T 2658.13-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数
SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽
SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角
SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间
SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量
SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第2部分:正向电压
SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容
SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度
SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻
日本工业标准调查会，关于二极管测量的标准
JIS C5943-2010 录放用激光二极管测量方法
JIS C8152-2007 一般照明用白光放射二极管的测量方法
JIS C5945-2005 光纤传输用激光二极管设备的测量方法
JIS C5947-2005 光学纤维放大镜用激光二极管模件的测量方法
JIS C5943-1997 录放用激光二极管测量方法
JIS C5941-1997 光纤传输用激光二极管测量方法
JIS C5991-1997 光纤传输用光电二极管测量方法
JIS C7031-1993 小型信号二极管的测量方法
美国国家标准学会，关于二极管测量的标准
ANSI/EIA 307-1992 稳压二极管的噪声电压测量.注:2002-04-00批准
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于二极管测量的标准
JEDEC JESD286-B-2000 测量半导体二极管前向交换特性的标准
JEDEC EIA-318-B-1996 半导体信号二极管的反向恢复时间测量
JEDEC JESD24-10-1994 JESD24的补遗－功率MOSFET Drain-Sources二极管的逆向恢复时间trr测量的测试方法
JEDEC JESD24-7-1992 JESD24的补遗－整流二极管安全工作区域测试步骤以在功率晶体管逆向恢复期中测量dv/dt
JEDEC JESD307-1992 稳压二极管噪声电压测量
JEDEC JESD320-A-1992 二极管统计参数的测量条件
JEDEC JESD531-1986 单个和调节二极管的热阻测量方法(正向电压,交换方法).确定ANSI/EIA-531-1986, IS-13已发布; 代替JEDEC JEP90
JEDEC JESD381A-1981 二极管测量方法.重申ANSI/EIA-381-1-1992
台湾地方标准，关于二极管测量的标准
CNS 11106-1984 二极管静态参数测量之热平衡状态
CNS 8383-1982 二极管顺向瞬时之测量
CNS 6560-1980 高速二极管逆向回复时间之测量法
CNS 5764-1980 稳压二极管噪声电压之测量方法
