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波长测量检测

本专题涉及波长测量的标准有118条。

国际标准分类中,波长测量涉及到光纤通信、太阳能工程、分析化学、计量学和测量综合、半导体分立器件、光学和光学测量、有色金属、燃料、光电子学、激光设备、无线通信、道路工程、飞机场建筑、金属材料试验、石油产品综合、辐射测量。

在中国标准分类中,波长测量涉及到光通信设备、光电子器件综合、太阳能、化学、基础标准与通用方法、半导体发光器件、供热器材设备、重金属及其合金、重金属及其合金分析方法、燃料油、广播、电视网综合、连接器、通信设备综合、公路工程、航空、航天工程、计量综合、电子光学与其他物理光学仪器、光学计量、石油产品综合。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于波长测量的标准

GB/T 15972.42-2021 光纤试验方法规范 第42部分:传输特性的测量方法和试验程序 波长色散

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于波长测量的标准

GB/T 15972.44-2017 光纤试验方法规范 第44部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 截止波长

国家质检总局,关于波长测量的标准

GB/T 15972.44-2008 光纤试验方法规范.第44部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序.截止波长

GB/T 15972.42-2008 光纤试验方法规范.第42部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序.波长色散

GB/T 18311.5-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-5部分;检查和测量-衰减对波长的依赖性

英国标准学会,关于波长测量的标准

BS EN IEC 61300-3-7:2021 纤维光学互连器件和无源元件. 基本试验和测量程序. 第3-7部分: 检查和测量. 衰减的波长相关性和单模组件的回波损耗

BS EN 62788-1-4-2016 光伏模组使用材料的测量程序. 封装材料. 光透射率的测量和太阳能加权光子透射率, 泛黄指数和UV截止波长的计算

BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析

BS EN 61300-3-7-2012 光纤互连设备和无源元件.基本试验和测量程序.检验和测量.单模式组件衰减和回波损耗的波长相关性

BS EN 60793-1-44-2011 光学纤维.测量方法和试验规程.截止波长

BS EN 61280-1-3-2010 光纤通信子系统试验规程.一般通信子系统.中心波长和光谱宽度测量

BS DD IEC/PAS 62593:2009 无线通信和广播系统中Mach-Zehnder光学调节器用半波长电压的测量方法

BS EN 13036-6-2008 道路和飞机场表面特性.试验方法.在平坦和巨大表面(megatexture)波长范围内测量横向和纵向轮廓

BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析

BS EN 61280-2-9-2003 光纤通信子系统基本试验程序.数字系统试验规程.密集波长分割复用系统用光学信噪比的测量

BS EN 61280-2-9-2002 光纤通信子系统基本试验程序.数字系统试验规程.密集波长分割复用系统用光学信噪比的测量

BS EN 60793-1-44-2002 光纤.测量方法和试验规程.截止波长

国际电工委员会,关于波长测量的标准

IEC 61280-1-3:2021 RLV 光纤通信子系统试验程序第1-3部分:一般通信子系统中心波长、光谱宽度和附加光谱特性的测量

IEC 61280-1-3-2021 RLV 光纤通信子系统试验程序第1-3部分:一般通信子系统中心波长、光谱宽度和附加光谱特性的测量

IEC 61280-1-3:2021 光纤通信子系统试验程序第1-3部分:一般通信子系统中心波长、光谱宽度和附加光谱特性的测量

IEC 62788-1-4:2016/AMD1:2020 修改件1.光伏组件用材料的测量程序.第1-4部分:密封剂.光学透射率的测量和太阳加权光子透射率 黄度指数和UV截止波长的计算

IEC 62788-1-4-2016+AMD1-2020 CSV 光伏组件用材料的测量程序第1-4部分:密封剂光学透射率的测量和太阳加权光子透射率、黄度指数和紫外线截止波长的计算

IEC 62788-1-4:2016+AMD1:2020 CSV 光伏组件用材料的测量程序第1-4部分:密封剂光学透射率的测量和太阳加权光子透射率、黄度指数和紫外线截止波长的计算

IEC 62801:2020 无线通信和广播系统中马赫 - 曾德尔光调制器的半波长电压测量方法

IEC 62802:2017 高频光纤射频(RoF)系统中Mach-Zehnder光调制器半波长电压和啁啾参数的测量方法

IEC 62788-1-4:2016 光伏组件用材料的测量程序第1-4部分:密封剂光学透射率的测量和太阳加权光子透射率、黄度指数和紫外线截止波长的计算

IEC TR 62343-6-9:2015 动态模块第6-9部分:设计指南波长选择开关中串扰的机理和测量研究

IEC/TR 62343-6-9:2015 动态模块. 第6-9部分: 设计指南. 波长选择性开关串扰机制和测量研究

IEC 60793-1-44:2011 光纤.第1-44部分:测量方法和试验规程.截止波长

IEC 61280-1-3:2010 纤维光学通信子系统试验程序.第1-3部分:一般通信子系统.中心波长和谱宽测量

IEC 61280-2-9:2009 光纤通信子系统试验程序.第2-9部分:数字系统.密集波长的区分多层系统用光信号对噪音比率测量

IEC 61300-3-7:2009 纤维光学互连器件和无源元件.基本试验和测量程序.第3-7部分:检查和测量.衰减的波长相关性和单模组件的回波损耗

IEC PAS 62593:2008 无线通信和广播系统中马赫-曾德尔光调制器半波长电压的测量方法

IEC/PAS 62593:2008 无线通信和广播系统中Mach-Zehnder光学调节器用半波长电压的测量方法

IEC 103/74/PAS-2008 IEC/PAS 62593:无线通信和广播系统中mach-zehnder光学调节器用半波长电压的测量方法

IEC 61300-3-7:2004 纤维光学互连器件和无源元件.基本试验和测量程序.第3-7部分:检查和测量.波长衰减函数和回波损耗

IEC 61300-3-5:2004 纤维光学互连器件和无源元件.基本试验和测量程序.第3-5部分:检查和测量.波长衰减函数

IEC 61280-2-9:2002 光纤通信子系统试验程序.第2-9部分:密集波长的区分多层系统用光信号对噪音比率测量的数字系统

IEC 60793-1-44:2001 光纤 第1-44部分:测量方法和试验规程 截止波长

IEC 61300-3-7:2000 纤维光学互连器件和无源元件 基本试验和测量程序 第3-7部分:检查和测量 波长衰减函数和回波损耗

IEC 61300-3-5:2000 纤维光学互连器件和无源元件 基本试验和测量程序 第3-7部分:检查和测量 波长衰减函数

IEC 61280-1-3:1998 纤维光学通信子系统基本试验程序 第1-3部分:一般通信子系统试验程序 中心波长和谱宽测量

,关于波长测量的标准

NP EN ISO 14596:2001 石油制品.硫含量的测量,分散波长的X射线荧光光谱测定法

法国标准化协会,关于波长测量的标准

NF C57-788-1-4/A1-2020 光伏模块中使用材料的测量程序. 第1-4部分: 密封剂. 光学透过率的测量和太阳加权光子透过率、黄度指数和紫外截止波长的计算

NF A08-701-1-2015 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第1部分:常规测量指南

NF C93-807-1-3-2013 纤维光学通信子系统试验程序. 第1-3部分: 一般通信子系统. 中心波长和光谱宽度测量

NF C93-840-1-44-2012 光纤.第1-44部分:测量方法和试验规程.截止波长

NF C93-807-2-9-2009 光纤通信子系统试验程序.第2-9部分:数字系统.密集型波长区分复用系统光学信噪比的测量

NF P98-831-6-2008 道路和机场表面特性.试验方法.第6部分:在平坦和巨大表面(megatexture)波长范围内测量横向和纵向轮廓

NF X21-006-2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析

NF A08-701-1-2006 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第1部分:常规测量指南

NF A08-701-2-2006 铜和铜合金.用波长分布X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要结构和杂质.第2部分:常规测量

NF X21-003-2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南

NF C93-807-2-10-2006 纤维光学通信子系统试验程序.第2-10部分:数字系统.测量激光发射器的时间分辨激光波长变化和α因子

NF C93-903-5-2004 光纤互连设备和无源元件.基本试验和测量程序.第3-5部分:检查和测量.衰减的波长相关性

NF C93-903-7-2004 光纤互连设备和无源元件.基本试验和测量程序.第3-7部分:检查和测量.衰减和回程损耗的波长相关性

日本工业标准调查会,关于波长测量的标准

JIS C61280-1-3-2017 纤维光学通信子系统试验程序.第1-3部分:中心波长和谱宽测量

JIS C6122-4-1-2013 光学放大器.试验方法.第4-1部分:瞬态参数.使用双波长法测量增益参数

JIS C61300-3-7-2012 光纤互连器件和无源元件.基本试验和测量规程.第3-7部分:检验和测量.衰减的波长相关性和单模组件的回波损耗

JIS C61280-1-3-2010 纤维光学通信子系统试验程序.中心波长和谱宽测量

JIS C61280-2-9-2010 纤维光学通信子系统试验程序.密集波长区分多层系统用光信号对噪音比率测量

国际标准化组织,关于波长测量的标准

ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

行业标准-电子,关于波长测量的标准

SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽

韩国标准,关于波长测量的标准

KS B 8400-1-2015 激光和激光相关设备.激光位移测量干涉仪测试方法.第1部分:稳定连续波激光波长的测试方法

KS D ISO 22489:2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

KS B 8400-1-2010 激光和激光相关设备.激光位移测量干涉仪测试方法.第1部分:稳定连续波激光波长的测试方法

KS C IEC 61300-3-7:2008 纤维光学互连器件和无源元件.基本试验和测量程序.第3-7部分:检查和测量.波长衰减函数和回波损耗

KS C IEC 61280-2-9:2003 光纤通信分系统基本试验程序.第2-9部分:密集波长的区分多层系统用光信号对噪音比率测量的数字系统

KS C IEC 61280-1-3:2003 光纤通信分系统基本试验程序.第1-3部分:通用通信分系统的试验程序.中心波长和光谱宽度的测量

德国标准化学会,关于波长测量的标准

DIN EN 61300-3-7-2013 光纤互连器件和无源元件. 基本试验和测量程序. 第3-7部分:检查和测量. 衰减的波长相关性和单模组件的回波损耗 (IEC 61300-3-7-2009); 德文版本EN 61300-3-7-2012

DIN EN 60793-1-44-2012 光纤.第1-43部分:测量方法和试验程序.截断波长

DIN EN 61280-1-3-2011 光纤通信子系统试验程序.第1-3部分:一般通信子系统.中心波长和谱宽的测量(IEC 61280-1-3-2010);德文版本EN 61280-1-3-2010

DIN EN 13036-6-2008 道路和机场表面特性.试验方法.第6部分:在平坦和巨大表面(megatexture)波长范围内测量横向和纵向轮廓

欧洲电工标准化委员会,关于波长测量的标准

EN 61300-3-7-2012 光纤互连器件和无源元件.基本试验和测量程序.第3-7部分:检查和测量.衰减的波长相关性和单模组件的回波损耗[代替:CENELEC EN 61300-3

EN 60793-1-44-2011 光学纤维.第1-44部分:测量方法和试验规程.截止波长

EN 61280-1-3-2010 光纤通信子系统试验程序.第1-3部分:通用通信子系统.中心波长和光谱宽度测量

美国材料与试验协会,关于波长测量的标准

ASTM D7757-12 通过单色波长色散X射线荧光分光分度计测量汽油及相关产品中硅的标准试验方法

ASTM F398-92(1997) 通过测量等离子体共振最小波数或波长测定半导体中多数载流子浓度的标准试验方法

美国电信工业协会,关于波长测量的标准

TIA-455-243-2010 FOTP-243.安装的单模光纤用波长扫描OTDR和状态偏光分析法测量偏振模色散

TIA-455-80-C-2003 FOTP-80 IEC-60793-1-44.光纤.第1-44部分:测量方法和试验程序.截止波长[代替:TIA EIA/TIA-455-170]

TIA/EIA-526-19-2000 OFSTP-19.密集波长分区多路复用系统的光学信噪比测量程序

TIA-455-243-2010(2015) FOTP-243.安装的单模光纤用波长扫描OTDR和状态偏光分析法测量偏振模色散

美国国家标准学会,关于波长测量的标准

ANSI/TIA-455-243-2010 安装的单模光纤用波长扫描OTDR和状态偏光分析法测量FOTP-243偏振模色散

ANSI/ASTM D2622:2005 用波长色散X-射线荧光光谱测量法检测石油产品中硫含量的试验方法

ANSI/TIA-455-80-C-2003 用传输功率测量未用电缆固定的单模光纤的截止波长

ANSI/TIA/EIA 455-80-C-2003 用传输功率测量未敷设的单模光缆的截止波长

ANSI/TIA/EIA 526-19-2000 密集波长分区多路传输系统光信号-噪音比测量程序

ANSI/TIA/EIA 455-80B-1998 用传输功率测量散单模纤维的截止波长

欧洲标准化委员会,关于波长测量的标准

EN 13036-6-2008 道路和机场地面特性的试验方法.第6部分:在平坦和巨大表面(megatexture)波长范围内测量横向和纵向轮廓

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
CMA检验检测机构资质认定证书
CNAS实验室认可证书
CNAS实验室认可证书
ISO管理体系认证证书
ISO管理体系认证证书
高新技术企业证书
高新技术企业证书

精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

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