本专题涉及xps 表面的标准有14条。
国际标准分类中，xps 表面涉及到分析化学。
在中国标准分类中，xps 表面涉及到基础标准与通用方法、化学。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于xps 表面的标准
GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法
GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
国际标准化组织，关于xps 表面的标准
ISO 16531-2020 表面化学分析 - 深度分析 - 离子束对准方法和相关的电流或电流密度测量 用于AES和XPS中的深度分析
ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.原子发射光谱(AES)和光电子能谱(XPS)中深度剖析用电流或电流密度的离子束校正和相关测量方法
ISO 16531:2013 表面化学分析——深度剖面——用于AES和XPS深度剖面的离子束对准和相关电流或电流密度测量方法
ISO 16243-2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
ISO 16243:2011 表面化学分析——X射线光电子能谱（XPS）中的数据记录和报告
，关于xps 表面的标准
GOST R ISO 16243-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. X射线光电子能谱 (XPS) 的记录和报告数据
GOST R ISO 16243-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. X射线光电子能谱 (XPS) 的记录和报告数据
英国标准学会，关于xps 表面的标准
BS ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法
BS ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法
BS ISO 16243-2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
BS ISO 16243-2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
法国标准化协会，关于xps 表面的标准
NF X21-073-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
