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紫外光电二极管检测

本专题涉及紫外光电二极管的标准有58条。

国际标准分类中,紫外光电二极管涉及到核能工程、光电子学、激光设备、半导体分立器件、印制电路和印制电路板、光纤通信。

在中国标准分类中,紫外光电二极管涉及到核探测器、半导体光敏器件、半导体发光器件、核仪器与核探测器综合、电气照明综合、电子测量与仪器综合、光电子器件综合、半导体二极管、光通信设备、照相机与照相器具。


国家质检总局,关于紫外光电二极管的标准

GB/T 23729-2009 闪烁探测器用光电二极管.试验方法

GB/T 18904.5-2003 半导体器件 第12-5部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范

国际电工委员会,关于紫外光电二极管的标准

IEC 60747-5-7:2016 半导体器件 - 第5-7部分:光电器件 - 光电二极管和光电晶体管

IEC 60747-5-7-2016 半导体设备. 第5-7部分: 光电设备. 光电二极管和光电晶体管

IEC 60747-5-7-2016 半导体设备. 第5-7部分: 光电设备. 光电二极管和光电晶体管

IEC 62088:2001 核仪器 - 用于闪烁探测器的光电二极管 - 测试程序

IEC 62088-2001 核仪器仪表 闪烁探测器用光电二极管 试验规程

IEC 60747-12-5-1997 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的PIN光电二极管空白详细规范

IEC 60747-12-6-1997 半导体器件 第12-6部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的雪崩光电二极管空白详细规范

行业标准-电子,关于紫外光电二极管的标准

SJ/T 2658.16-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率

SJ/T 2216-2015 硅光电二极管技术规范

SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法

SJ 20644.2-2001 半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范

SJ 20644.1-2001 半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范

SJ 50033/112-1996 半导体光电子器件.GD3251Y型光电二极管详细规范

SJ 50033/113-1996 半导体光电子器件.GD3252Y型光电二极管详细规范

SJ 50033/102-1995 GD218型InGaAs/InP PIN 光电二极管详细规范

SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法

SJ 2354.7-1983 PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法

SJ 2354.11-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法

SJ 2354.12-1983 雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法

SJ 2354.13-1983 雪崩光电二极管倍增因子的测试方法

SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法

SJ 2354.6-1983 PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法

SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法

SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法

SJ 2354.14-1983 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法

SJ 2354.4-1983 PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法

SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法

SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则

SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法

行业标准-兵工民品,关于紫外光电二极管的标准

WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法

WJ 2506-1998 光电二极管动态测试仪检定规程

WJ 2265-1995 带前放硅雪崩光电二极管规范

德国标准化学会,关于紫外光电二极管的标准

DIN IEC 62088-2002 核仪表设备.闪烁检测器用光电二极管.试验程序 (IEC 62088:2001)

DIN EN 120005-1996 空白详细规范:光电二极管,光电二极管阵列(非光纤用)

韩国标准,关于紫外光电二极管的标准

KS C 6906-2001 光电传输用激光二极管试验法

KS C 6906-2001 光电传输用激光二极管试验法

KS C 6905-2001 光电传输用激光二极管通则

KS C 6905-2001 光电传输用激光二极管通则

,关于紫外光电二极管的标准

CSN 35 8762-1973 半导体设备.光电晶体管光电二极管.暗电流测量

CSN 35 8761-1973 半导体设备.光电晶体管光电二极管.光电流测量

行业标准-邮电通信,关于紫外光电二极管的标准

YD/T 835-1996 雪崩光电二极管检测方法

欧洲电工电子元器件标准,关于紫外光电二极管的标准

EN 120005-1992 空白详细规范:光电二极管、光电二极管阵列(非光纤应用)

EN 120006-1992 空白详细规范:光纤用正-本-负光电二极管

欧洲电工标准化委员会,关于紫外光电二极管的标准

EN 120005-1992 空白详细规范:光电二极管,光电二极管阵列(不适用于光纤应用)

行业标准-机械,关于紫外光电二极管的标准

JB/T 5186-1991 照相机用硅光电二极管

法国标准化协会,关于紫外光电二极管的标准

NF C93-872-1987 插销式光电二极管数字接收器

NF C86-506-1986 半导体器件.电子元件统一质量评审体系.光导纤维用插脚式光电二极管.空白详细规范 .规范CECC 20 006

NF C86-505-1986 半导体器件.电子元器件质量评估协调体系.光电二极管、光电二极管排列.空白详细规范 CECC 20 005

英国标准学会,关于紫外光电二极管的标准

BS EN 120005-1986 电子元器件质量评定协调系统.空白详细规范.光电二极管、光电二极管阵列(非光纤用)

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
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CNAS实验室认可证书
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ISO管理体系认证证书
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高新技术企业证书
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精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

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