本专题涉及显微镜 光学系统的标准有23条。
国际标准分类中，显微镜 光学系统涉及到光学设备、分析化学、光电子学、激光设备。
在中国标准分类中，显微镜 光学系统涉及到放大镜与显微镜、光学仪器综合。
国家质检总局，关于显微镜 光学系统的标准
GB/T 22057.2-2008 显微镜.相对机械参考平面的成像距离.第2部分:无限远校正光学系统
，关于显微镜 光学系统的标准
GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
GOST 15114-1978 光学设备的显微镜系统.分辨极限的目视测定法
英国标准学会，关于显微镜 光学系统的标准
BS ISO 9345-2-2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 无限远校正光学系统
BS ISO 9345-2-2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 无限远校正光学系统
BS ISO 9345-2-2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.无限大光学校正系统
BS 7012-12-1997 光学显微镜.第12部分:偏光显微镜基准系统
国际标准化组织，关于显微镜 光学系统的标准
ISO 9345-2:2014 显微镜 - 与机械参考平面有关的成像距离 - 第2部分:无限远校正的光学系统
ISO 9345-2-2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 第2部分: 无限远校正光学系统
ISO 9345-2-2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限大光学校正系统
ISO 8576:1996 光学和光学仪器——显微镜——偏振光显微镜参考系统
ISO 8576-1996 光学和光学仪器 显微镜 偏光显微镜的参考系统
ISO 9345-2019 显微镜 - 与机械参考平面有关的成像距离 - 第2部分:无限远校正的光学系统
日本工业标准调查会，关于显微镜 光学系统的标准
JIS B7132-2-2009 显微镜.成像距离相关的机械基准面.第2部分:无限大光学校正系统
JIS B7132-2-2009 显微镜.成像距离相关的机械基准面.第2部分:无限大光学校正系统
韩国标准，关于显微镜 光学系统的标准
KS B ISO 9345-2-2006 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限光学校正系统
KS B ISO 8576-2006 光学和光学仪器.显微镜.偏光显微镜的参考系统
KS B ISO 8576-2006 光学和光学仪器.显微镜.偏光显微镜的参考系统
KS B ISO 9345-2-2006 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限光学校正系统
德国标准化学会，关于显微镜 光学系统的标准
DIN ISO 9345-2-2005 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:完全修正光学系统
DIN ISO 8576-2002 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜基准系统 (ISO 8576:1996)
