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硅温度检测

本专题涉及硅 温度的标准有37条。

国际标准分类中,硅 温度涉及到电池和蓄电池、电线和电缆、集成电路、微电子学、钢铁产品、太阳能工程、光电子学、激光设备、化工产品、半导体分立器件。

在中国标准分类中,硅 温度涉及到物理电源、带绝缘层电线、微电路综合、钢板、钢带、敏感元器件及传感器、光电子器件综合、半导体光敏器件、基础标准与通用方法、一般有机化工原料、半导体二极管。


国家质检总局,关于硅 温度的标准

GB/T 6495.4-1996 晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法

德国标准化学会,关于硅 温度的标准

DIN EN IEC 60317-62:2021 特种绕组线规格. 第62部分: 温度指数200、聚酯玻璃纤维绕包硅树树脂或浸漆的、裸或漆包扁铜线(IEC 60317-62-2020); 德文版本EN IEC 60317-62-2020

DIN EN 60317-33-2016 特定型号绕组线的规范.第33部分:温度指数200,玻璃纤维绕制硅树脂漆浸渍处理的裸线或漆包扁铜线(IEC 60317-33-2015).德文版本EN 60317-33-2016

DIN EN 60317-33-2006 特定型号绕组线的规范.第33部分:温度指数200,玻璃纤维绕制硅树脂漆浸渍处理的裸线或漆包扁铜线

国际电工委员会,关于硅 温度的标准

IEC 60317-62-2020 特种绕组线规范第62部分:温度指数为200的聚酯玻璃纤维缠绕硅树脂或清漆浸渍裸或漆包扁铜线

IEC 60317-62:2020 特种绕组线规范第62部分:温度指数为200的聚酯玻璃纤维缠绕硅树脂或清漆浸渍裸或漆包扁铜线

IEC 60317-62-2020 RLV 特种绕组线规范第62部分:温度指数为200的聚酯玻璃纤维缠绕硅树脂或清漆浸渍裸铜线或漆包扁铜线

IEC 60317-62:2020 RLV 特种绕组线规范第62部分:温度指数为200的聚酯玻璃纤维缠绕硅树脂或清漆浸渍裸铜线或漆包扁铜线

IEC 60317-72:2020 RLV 特种绕组线规范第72部分:温度指数为200的聚酯玻璃纤维缠绕硅树脂/清漆浸渍裸铜线或漆包圆铜线

IEC 60317-72:2020 特种绕组线规范.第72部分:温度指数200的聚酯玻璃纤维缠绕硅树脂/清漆浸渍裸或漆包圆铜线

IEC 60317-72-2020 特种绕组线规范.第72部分:温度指数200的聚酯玻璃纤维缠绕硅树脂/清漆浸渍裸或漆包圆铜线

IEC 60317-72-2020 RLV 特种绕组线规范第72部分:温度指数为200的聚酯玻璃纤维缠绕硅树脂/清漆浸渍裸铜线或漆包圆铜线

IEC 60317-50-2012 导线特殊规格规范 - 第50部分:玻璃纤维缠绕硅树脂或清漆浸渍 裸漆或漆包铜线 温度指数200

IEC 60891 AMD 1:1992 晶体硅光伏器件实测I-V特性的温度和辐照度校正方法 修改1

IEC 60891:1987 晶体硅光伏器件实测I-V特性的温度和辐照度校正方法

英国标准学会,关于硅 温度的标准

BS EN 60317-40-2015 特种绕组线规范.玻璃纤维编织硅清漆处理,裸或漆包方铜线,温度指数200

BS EN 60317-40-1995 特种绕组线规范.玻璃纤维编织硅清漆处理,裸或漆包方铜线,温度指数200

美国国防后勤局,关于硅 温度的标准

DLA MIL-PRF-19500/158 R-2008 半导体装置,硅二极管,参考电压,补偿温度,类型1N3154-1到1N3157-1和1N3154UR-1到1N3157UR-1,JAN,JANTX,JANTXV和JANS,耐辐射(仅总剂量效应)JANTXVM,D,L,R,F,G,H和JANSM

DLA MIL-PRF-19500/159 N-2008 半导体装置,硅二极管,参考电压,补偿温度,1N821-1,1N823-1,1N825-1,1N827-1和1N829-1,1N821UR-1,1N823UR-1,1N825UR-1,1N827UR-1和1N829UR-1,JAN,JANTX,JANTXV,JANS,JANHC和JANKC;耐辐射

DLA MIL-PRF-19500/452 H-2008 半导体装置,温度补偿低电平参考电压硅二极管,型号1N4565A-1 THROUGH 1N4584A-1和1N4565AUR-1到1N4584AUR-1,JAN,JANTX,JANTXV,JANS,JANHC和JANKC,耐辐射(仅总剂量效应) TYPES JAN

DLA SMD-5962-87571 REV G-2007 硅单块 两终点温度传感器,防辐射直线型微型电路

DLA SMD-5962-96687 REV B-2007 精密温度感应器硅单片电路微电路

DLA SMD-5962-90507 REV A-2000 硅单片,温度传感器,线性微型电路

美国机械工程师协会,关于硅 温度的标准

ASME SEC II A SA-738/SA-738M-2001 中温和较低温度作业用碳-锰-硅热处理压力容器板的规范.ASTM A738/A738M-00

美国材料与试验协会,关于硅 温度的标准

ASTM A662/A662M-01e1 中等温度和低温条件下的作业用压力容器碳-锰硅合金钢板标准规范

法国标准化协会,关于硅 温度的标准

NF C57-104-1995 晶体硅光电元器件 I-V 特性测量用温度和辐照度的修正程序

NF T77-107-1986 工业用基础硅塑料.在规定温度下胶凝时间的测定.自动往复运动设备法

NF T77-103-1986 工业用碱性硅树脂.在给定的温度下胶凝时间的测定.板材法

NF T77-109-1986 工业用基础硅塑料.在规定温度下胶凝时间的测定.自动旋转设备法

,关于硅 温度的标准

ABNT EB-221-1970 预制钙硅隔热器,适用温度在650 °c之内

台湾地方标准,关于硅 温度的标准

CNS 13213-1993 对硅晶光电组件之电流电压特性测量值做温度与辐射校正之程序

行业标准-航天,关于硅 温度的标准

QJ 1138-1987 硅基材料烧蚀—温度场计算方法

行业标准-电子,关于硅 温度的标准

SJ 2142-1982 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法

SJ 911-1974 2DW230~236型硅平面温度补偿稳压二极管(暂行)

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
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CNAS实验室认可证书
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ISO管理体系认证证书
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高新技术企业证书
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精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

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