本专题涉及能谱仪 x射线的标准有40条。
国际标准分类中，能谱仪 x射线涉及到分析化学、长度和角度测量、核能工程、辐射测量、光学和光学测量、电学、磁学、电和磁的测量。
在中国标准分类中，能谱仪 x射线涉及到木材竹材防腐、基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电子光学与其他物理光学仪器、核仪器与核探测器综合、通用核仪器、电子测量与仪器综合。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于能谱仪 x射线的标准
GB/T 40196-2021 X射线荧光能谱仪测定防腐木材和木材防腐剂中CCA和ACQ的方法
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于能谱仪 x射线的标准
GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
国家质检总局，关于能谱仪 x射线的标准
GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法
GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
德国标准化学会，关于能谱仪 x射线的标准
DIN ISO 16129-2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
美国材料与试验协会，关于能谱仪 x射线的标准
ASTM E1217-11(2019) 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
ASTM E2108-16 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
ASTM E1217-11 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
ASTM E2108-10 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
ASTM E1217-05 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
ASTM E2108-05 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
ASTM E2108-00 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
ASTM E1217-00 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
ASTM E902-94(1999) 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准实施规程
国际标准化组织，关于能谱仪 x射线的标准
ISO 16129-2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
ISO 16129:2012 表面化学分析——X射线光电子能谱；X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
ISO 16129-2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
ISO 15472:2010 表面化学分析——X射线光电子能谱仪——能量标度的校准
ISO 21270:2004 表面化学分析——X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪——强度标度线性
ISO 21270-2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
英国标准学会，关于能谱仪 x射线的标准
BS ISO 16129-2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
韩国标准，关于能谱仪 x射线的标准
KS C IEC 60759-2009 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
KS C IEC 60759-2009 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
KS D ISO 21270-2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
KS D ISO 21270-2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
，关于能谱仪 x射线的标准
SIS SS IEC 759-1986 核检测仪表．半导体X射线能谱仪检测程序
行业标准-电子，关于能谱仪 x射线的标准
SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法
国际电工委员会，关于能谱仪 x射线的标准
IEC 60759:1983/AMD1:1991 修改件1——半导体X射线能谱仪的标准试验程序
IEC 60759-1983/AMD1-1991 修改件1——半导体X射线能谱仪的标准试验程序
IEC 60759 AMD 1-1991 半导体X射线能谱仪的标准试验程序 修改1
IEC 60759:1983 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
IEC 60759-1983 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
