本专题涉及薄膜密度测量的标准有15条。
国际标准分类中，薄膜密度测量涉及到分析化学、电学、磁学、电和磁的测量、导体材料、光学和光学测量、长度和角度测量。
在中国标准分类中，薄膜密度测量涉及到基础标准与通用方法、电磁计量、物理学与力学、电工材料和通用零件综合、材料防护。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于薄膜密度测量的标准
GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
英国标准学会，关于薄膜密度测量的标准
BS EN IEC 61788-17-2021 超导性. 第17部分: 电气特性测量值. 大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
BS EN 61788-17-2013 超导性.电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
BS EN 61788-17-2013 超导性.电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
BS EN 15042-1-2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.使用激光感应表面声波法测定薄膜的弹性常数,密度和厚度用指南
国际电工委员会，关于薄膜密度测量的标准
IEC 61788-17-2021 RLV 超导性第17部分:电子特性测量大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
IEC 61788-17:2021 RLV 超导性第17部分:电子特性测量大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
IEC 61788-17:2021 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
IEC 61788-17:2013 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
IEC 61788-17-2013 超导性.第17部分:电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
，关于薄膜密度测量的标准
GOST R 8.829-2013 确保测量一致性的国家系统. 高分子板和薄膜的光学密度 (透射系数) 和雾度的测定方法
德国标准化学会，关于薄膜密度测量的标准
DIN EN 61788-17-2013 超导性.第17部分:电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布(IEC 61788-17-2013).德文版本EN 61788-17-2013
法国标准化协会，关于薄膜密度测量的标准
NF C31-888-17-2013 超导性.第17部分:电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
