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混合膜检测

本专题涉及混合 膜的标准有45条。

国际标准分类中,混合 膜涉及到集成电路、微电子学、化工产品、橡胶和塑料用原料、印制电路和印制电路板、电子元器件组件。

在中国标准分类中,混合 膜涉及到膜集成电路、微电路综合、、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、混合集成电路、半导体集成电路、粮食与油脂加工机械、电子元件综合。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于混合 膜的标准

GB/T 11498-2018 半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)

GB/T 13062-2018 半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

国家质检总局,关于混合 膜的标准

GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)

GB/T 16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)

GB/T 8976-1996 膜集成电路和混合膜集成电路总规范

GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸

GB/T 13062-1991 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (可供认证用)

GB/T 12842-1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语

GB/T 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(可供认证用)

工业和信息化部,关于混合 膜的标准

SJ/T 10454-2020 厚膜混合集成电路多层布线用介质浆料

SJ/T 10455-2020 厚膜混合集成电路用铜导体浆料

美国材料与试验协会,关于混合 膜的标准

ASTM D7513-17 混合床离子交换膜容量的标准试验方法

ASTM D7513-09 混合床离子交换膜容量的标准试验方法

韩国标准,关于混合 膜的标准

KS M 6690-2008 非硫化混合胶乳膜和干燥混合胶乳膜的标准制备方法

美国国防后勤局,关于混合 膜的标准

DLA SMD-5962-85089 REV C-2007 厚膜宽带功率操作扩大器,直线型混合微型电路

DLA SMD-5962-80013 REV R-2006 厚膜运算扬声器线性混合微型电路

DLA SMD-5962-78013 REV M-2006 厚膜/薄膜高电流扬声器,线性混合微型电路

DLA SMD-5962-85088 REV G-2005 1安培厚膜运算扬声器,线性混合微型电路

DLA SMD-5962-85087 REV G-2004 0.2安培厚膜运算扬声器,线性混合微型电路

DLA SMD-5962-80014 REV M-2004 厚膜缓冲扬声器线性混合微型电路

英国标准学会,关于混合 膜的标准

BS CECC 265001-1999 电子元件质量评定的统一体系.技术认可程序:膜和混合集成电路

BS QC 760001-1994 电子元器件质量评定协调体系.膜集成电路和混合集成电路.总规范.内部视力检验要求

国际电工委员会,关于混合 膜的标准

IEC 60748-22-1-1997 半导体器件 集成电路 第22-1部分:实行能力批准程序的膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范

IEC 60748-21-1997 半导体器件 集成电路 第21部分:实行鉴定批准程序的膜集成电路和混合膜集成电路分规范

IEC 60748-21-1-1997 半导体器件 集成电路 第21-1部分:实行鉴定批准程序的膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范

IEC 60748-22-1997 半导体器件 集成电路 第22部分:实行能力批准程序的膜集成电路和混合膜集成电路分规范

IEC 60748-20 AMD 1-1995 半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 修改1

IEC 60748-20-1-1994 半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第1节:内部目检要求

IEC 60748-20-1988 半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范

欧洲电工标准化委员会,关于混合 膜的标准

EN 165000-5-1997 膜集成电路和混合集成电路.第5部分:资格审批程序

EN 165000-2-1996 膜集成电路和混合集成电路.第2部分:内部目视检查和特殊试验

EN 165000-1-1996 膜集成电路和混合集成电路.第1部分:总规范.合格认定的方法

EN 165000-3-1996 膜集成电路和混合集成电路.第3部分:薄膜和混合集成电路生产厂自查清单和报告

EN 165000-4-1996 膜集成电路和混合集成电路.第4部分:用户信息,产品评定水平表和空白详细规范

行业标准-电子,关于混合 膜的标准

SJ/T 10455-1993 厚膜混合集成电路用铜导体浆料

SJ/T 10454-1993 厚膜混合集成电路多层布线用介质浆料

SJ/T 10155-1991 电子元器件详细规范.混合厚膜集成电路HM0006伴音耦合电路

SJ/T 10156-1991 电子元器件详细规范.混合厚膜集成电路HM0111、HM0114电源误差放大电路

SJ/T 10153-1991 电子元器件详细规范.混合厚膜集成电路HM0004、HM0190视频输出电路

SJ 2906-1988 电子元器件详细规范.厚膜混合集成电路CHM7103高压限制电路

SJ 2905-1988 电子元器件详细规范.厚膜混合集成电路CHM9102电压设定电路

SJ 2903-1988 电子元器件详细规范.厚膜混合集成电路CHM8546视放电路

SJ 2904-1988 电子元器件详细规范.厚膜混合集成电路CHM6232、CHM6236帧输出电路

行业标准-粮食,关于混合 膜的标准

LS/T 3539-1992 混合油层碟式降膜汽提塔

美国电子电路和电子互连行业协会,关于混合 膜的标准

IPC D-859-1989 厚膜多层混合电路设计标准

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
CMA检验检测机构资质认定证书
CNAS实验室认可证书
CNAS实验室认可证书
ISO管理体系认证证书
ISO管理体系认证证书
高新技术企业证书
高新技术企业证书

精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

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