本专题涉及硅分析的标准有77条。
国际标准分类中,硅分析涉及到分析化学、金属材料试验、水质、燃烧器、锅炉、有色金属、绝缘流体、金属矿、半导体材料、集成电路、微电子学、黑色金属、核能工程、电站综合、润滑剂、工业油及相关产品、铁合金、有色金属产品。
在中国标准分类中,硅分析涉及到电子光学与其他物理光学仪器、锅炉及其辅助设备、轻金属及其合金分析方法、半金属及半导体材料分析方法、、半导体分立器件综合、钢铁与铁合金分析方法、元素半导体材料、核材料、核燃料及其分析试验方法、水环境有毒害物质分析方法、电力试验技术、轻金属及其合金、石油产品综合、图书馆、档案、文献与情报工作、铁矿、重金属及其合金、重金属及其合金分析方法、电子技术专用材料、轻金属矿。
GB/T 17360-2020 微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法
GB/T 32277-2015 硅的仪器中子活化分析测试方法
GB/T 12148-2006 锅炉用水和冷却水分析方法 全硅的测定 低含量硅氢氟酸转换法
GB/T 14417-1993 锅炉用水和冷却水分析方法 全硅的测定
GB/T 12150-1989 锅炉用水和冷却水分析方法 硅的测定 硅钼蓝光度法
GB/T 12148-1989 锅炉用水和冷却水分析方法 全硅的测定 低含量硅氢氟酸转化法
GB/T 12149-1989 锅炉用水和冷却水分析方法 硅的测定 钼蓝比色法
GB/T 10267.2-1988 金属钙分析方法 微量硅的光度法测定
GB 10267.2-1988 金属钙分析方法 微量硅的光度法测定
GB/T 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法
T/CSTM 00780.3-2023 钒酸钠分析方法 第3部分:硅铝等12种杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体光谱法
MSZ 20997/4-1971 铁钛合金化学成分分析,硅含量确定
YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
DIN 51456-2013 半导体技术用材料的试验. 使用电感耦合等离子体质谱法 (ICP-MS) 通过水分析解决方案的多元素测定进行硅晶片的表面分析
DIN 51390-2-1997 矿物油制品试验.硅含量测定.第2部分:波长耗散X射线萤光分析(RFA)法
KS D 2075-3-2012 铁硼的分析方法.第1部分:硅含量的测量方法
KS D 0078-2008 硅晶体中混杂物浓度测定方法.光致发光分析测定法
PD CEN/TR 10353-2011 黑色金属材料的化学分析,分析铁-硅测定,Ti和P电感耦合等离子体光学发射光谱法
PD CEN/TR 10354-2011 黑色金属材料的化学分析 硅铁的分析 X射线荧光光谱法测定硅和铝
EJ/T 1231.1-2008 重铀酸盐中杂质分析方法.第1部分:二氧化硅的测定.硅钼蓝分光光度法
SL 391.6-2007 有机分析样品前处理方法.第6部分:佛罗里硅土净化法
DL/T 502.3-2006 火力发电厂水汽分析方法.第3部分:全硅的测定(氢氟酸转化分光光度法)
NF A03-301-2002 铸件.图像分析用平均截线的测量.硅含量5%-11%的铝铸件
NF A07-520-1971 铝硅及铝硅铜合金的发射光谱分析
ASTM F1725-97 硅锭的结晶完整性分析的标准指南
HB 7266.7-1996 铝锂合金化学成分分析方法.硅钼蓝光度法测定硅含量
BS 6200-3.26.1-1995 铁、钢和其他黑色金属抽样与分析法.分析方法.硅的测定.钢和铁:重量分析法
BS 7020 Sec.5.2-1993 铁矿石的分析.第5部分:硅含量的测定方法.第2节:还原磷硅酸酯分光光度计测定法
BS 7020 Sec.5.1-1993 铁矿石分析.第5部分:硅含量测定方法.第1节:重力测定法
BS 7020-5.1-1993 铁矿石分析.第5部分:硅含量测定方法.第1节:重力测定法
BS 7020-5.2-1993 铁矿石的分析.第5部分:硅含量测定方法.第2节:还原磷硅酸酯分光光度计测定法
BS 7455-8-1992 采用火焰原子吸收光谱法对镍合金的分析.第8部分:硅的测定方法
BS 6200 SubSec.3.26.2-1991 铁、钢和其它铁黑色金属抽样与分析方法.第3部分:分析方法.第26节:硅的测定.第2小节:抗酸高硅铁:重量法
BS 6200-3.26.2-1991 铁、钢和其他黑色金属抽样和分析.第3部分:分析方法.第26节:硅含量测定.第2小节:耐强酸硅铁:称重法
BS 7317-6-1990 高纯度铜阴极Cu-CATH-1分析方法.分光光度法对磷和硅的测定方法
BS 6200-3.26.4-1989 铁、钢和其他黑色金属抽样与分析.第3部分:分析方法.第26节:硅含量测定.第4小节:钢和铸铁:硅含量0.01%(m/m)-0.05%(m/m)的分光光度测定法
BS 6200 SubSec.3.26.4-1989 铁、钢和其他黑色金属的抽样与分析法.第3部分:分析方法.第26节:硅的测定.第4小节:钢和铸铁:硅含量0.01%(m/m)-0.05%(m/m)的分光光度测定法
BS 6200 SubSec.3.26.3-1987 铁、钢和其他黑色金属的抽样与分析法.第3部分:分析方法.第26节:硅的测定.第3小节:钢和铸铁:0.05%(m/m)-1.0%(m/m)含量的分光光度测定法
BS 6200-3.26.3-1987 铁,钢和其他黑色金属的抽样和分析.分析方法.硅的测定.钢和铸铁:从0.05 %(m/m)至1.0 %(m/m)的硅含量分光光度测定法
BS 6870 Sec.2.4-1987 铝矿石分析.第2部分:化学方法.第4节:含硅量的测定方法:重量和分光光度综合分析法
BS 6870-2.4-1987 铝矿石分析.化学方法.含硅量的测定方法:重力和分光光度综合分析法
BS 6783-9-1986 镍、镍铁和镍合金的取样与分析.第9部分:镍铁中硅的测定方法(重力分析法)
BS 6200 SubSec.3.18.3-1985 铁、钢和其他黑色金属的抽样与分析法.第3部分:分析方法.第18节:锰的测定.第3小节:铁锰合金和铁硅锰合金:电位滴定法
BS 6200-3.10.4-1985 铁、钢和其他黑色金属抽样与分析.第3部分:分析方法.第10节:铬含量测定.第4小节:铁铬合金和铁硅铬合金:电位差计法
BS 6200 SubSec.3.26.5-1985 铁、钢和其他黑色金属的抽样与分析法.第3部分:分析方法.第26节:硅的测定.第5小节:铁硅合金、铁硅锰合金和铁硅铬合金:重量法
BS 6200-3.26.5-1985 铁、钢和其他黑色金属抽样与分析.第3部分:分析方法.第26节:硅含量测定.第5小节:铁硅合金、铁硅锰合金和铁硅铬合金:称重法
BS 6200-3.18.3-1985 铁,钢和其他黑色金属抽样和分析.分析方法.锰的测定.铁锰合金和硅锰铁合金:电位滴定法
BS 6200 SubSec.3.1.5-1985 铁、钢和其他黑色金属的抽样与分析法.第3部分:分析方法.第1节:铝的测定.第5小节:铁硅合金:原子吸收光谱分析
BS 6200-3.1.5-1985 铁、钢和其他黑色金属抽样与分析.第3部分:分析方法.第1节:铝含量测定.第5小节:铁硅合金:原子吸收光谱法
BS 6200 SubSec.3.10.4-1985 铁、钢和其他黑色金属的抽样与分析法.第3部分:分析方法.第10节:铬的测定.第4小节:铁铬合金和铁硅铬合金:电位差计测量法
BS 3907-11-1970 镁和镁合金分析方法.第11部分:硅含量测定(光度测量法)
BS 3727-11-1965 电子管和电子阀用镍的分析方法.第11部分:0.001-0.020%硅含量测定(光度测量法)
BS 3727-10-1964 电子管和电子阀用镍的分析方法.第10部分:0.020-0.25%硅含量测定(光度测量法)
BS 1728-12-1961 铝与铝合金的分析方法.第12部分:硅的测定(钼蓝吸收测定法)
BS 1748-7-1960 铜合金分析方法.第7部分:铜合金中硅的测定方法(光度测量法)
BS 1728-11-1960 铝与铝合金的分析方法.第11部分:硅的测定(过氯酸法)
AS/NZS 1050.26-1994 铁和钢的分析方法.铁和钢的硅含量.分光光度分析法
SJ 3198-1989 真空硅铝合金中硅、铁、镁、铜的发射光谱分析方法
DZ/T 0064.62-2021 地下水质分析方法 第62部分:硅酸的测定硅钼黄分光光度法
DZ/T 0064.63-2021 地下水质分析方法 第63部分:硅酸的测定硅钼蓝分光光度法
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