本专题涉及单晶 面的标准有2条。
国际标准分类中,单晶 面涉及到金属材料试验、半导体材料。
在中国标准分类中,单晶 面涉及到金属物理性能试验方法。
GB/T 41751-2022 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法
ASTM F847-1994(1999) 单晶硅片参考面结晶学取向X射线测量的标准试验方法
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